本专题涉及高温工作寿命的标准有10条。
国际标准分类中，高温工作寿命涉及到半导体分立器件。
在中国标准分类中，高温工作寿命涉及到半导体分立器件综合。
，关于高温工作寿命的标准
KS C IEC 60749-23:2021 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
KS C IEC 60749-23-2006(2016) 半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命
法国标准化协会，关于高温工作寿命的标准
NF C96-022-23/A1-2012 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第23部分: 高温工作寿命.
国际电工委员会，关于高温工作寿命的标准
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
IEC 60749-23-2004+AMD1-2011 CSV 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
IEC 60749-23:2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
IEC 60749-23 Edition 1.1:2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温下的工作寿命
IEC 60749-23-2004/AMD1-2011 修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
IEC 60749-23-2004 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第23部分:高温工作寿命
