xps测量的深度检测

本专题涉及xps测量的深度的标准有5条。

国际标准分类中，xps测量的深度涉及到分析化学。

在中国标准分类中，xps测量的深度涉及到基础标准与通用方法。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于xps测量的深度的标准

GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法

国际标准化组织，关于xps测量的深度的标准

ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法

ISO 16531:2013 表面化学分析——深度剖面——用于AES和XPS深度剖面的离子束对准和相关电流或电流密度测量方法

英国标准学会，关于xps测量的深度的标准

BS ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法

BS ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法