晶体均匀性检测

本专题涉及晶体均匀性的标准有8条。

国际标准分类中，晶体均匀性涉及到半导体材料、肥料。

在中国标准分类中，晶体均匀性涉及到仪器、仪表用材料和元件、元素半导体材料、土壤、肥料综合、化合物半导体材料。

行业标准-机械，关于晶体均匀性的标准

JB/T 9495.7-1999 光学晶体学均匀性 测量方法

德国标准化学会，关于晶体均匀性的标准

DIN 50443-1:1988 半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性

DIN-Fachbericht 84:2001 固体肥料.均匀性研究

丹麦标准化协会，关于晶体均匀性的标准

DS/CEN/CR 13960:2001 固体肥料 均匀性研究

法国标准化协会，关于晶体均匀性的标准

FD U42-409*FD CR 13960:2002 固体肥料 均匀性分析

FD CR 13960:2002 固体肥料 - 均匀性研究

AENOR，关于晶体均匀性的标准

UNE-CR 13960:2001 固体肥料 均匀性研究

行业标准-电子，关于晶体均匀性的标准

SJ 20844-2002 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法