立式接触式干涉仪是一种高精度光学测量设备，广泛应用于精密机械制造、光学元件加工、半导体工业及科研领域。其核心功能是通过干涉原理对工件表面形貌、几何参数及光学特性进行非接触或微接触式测量，具有分辨率高、重复性好、适用范围广的特点。在精密检测中，干涉仪能够实现纳米级甚至亚纳米级的测量精度，尤其适用于对平面度、粗糙度、曲率半径等关键指标的检测。随着工业对精度要求的提升，立式接触式干涉仪已成为质量控制、工艺优化和产品研发中不可或缺的工具。
在具体应用中，立式接触式干涉仪的检测项目主要包括以下内容：
1. 表面粗糙度检测：通过分析干涉条纹的分布和变化，量化工件表面的微观起伏，评估Ra值（算术平均粗糙度）和Rz值（最大高度粗糙度）。
2. 平面度与平行度测量：针对光学平板、机械导轨等工件，利用干涉图样计算被测面的整体平面偏差或两平面间的平行度误差。
3. 光学元件面形检测：对透镜、棱镜等光学元件的曲率半径、局部面形误差（PV值）以及波前畸变进行高精度分析。
4. 薄膜厚度测量：通过多光束干涉原理，测定镀膜层或涂层的厚度均匀性及一致性。
该仪器的检测方法可分为以下步骤：
1. 干涉光路校准：调整参考光与被测光的光程差，确保干涉条纹清晰稳定，消除环境振动和温度波动的影响。
2. 数据采集模式选择：根据被测物特性选择相移干涉法（PSI）或垂直扫描干涉法（VSI），动态模式下可捕捉三维形貌数据。
3. 条纹分析处理：利用专业软件对干涉条纹进行相位解算，结合Zernike多项式拟合，将光学信号转换为几何参数。
4. 误差补偿修正：通过标准量块或已知参数样品进行系统误差校准，消除仪器自身误差对测量结果的影响。
检测过程需遵循以下核心标准：
1. ISO 10110系列：规范光学元件面形误差、气泡杂质等指标的检测要求，如ISO 10110-5对表面粗糙度的评价方法。
2. GB/T 6062-2022：中国国家标准中关于接触式干涉仪测量表面粗糙度的实施细则，明确测量力、取样长度等参数。
3. ASME B46.1：美国机械工程师协会标准，规定表面纹理的量化指标及干涉仪测量结果的判定准则。
4. 仪器校准规范：依据JJF 1093-2015《接触式干涉仪校准规范》，定期对仪器示值误差、重复性等计量特性进行验证。
实际检测中需根据被测工件的行业要求（如半导体行业执行SEMI标准），结合上述标准综合制定检测方案，确保数据的国际互认性。
