xps测量检测

本专题涉及xps 测量的标准有5条。

国际标准分类中，xps 测量涉及到分析化学。

在中国标准分类中，xps 测量涉及到基础标准与通用方法、化学。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于xps 测量的标准

GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法

国际标准化组织，关于xps 测量的标准

ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深度分析 - 离子束对准方法和相关的电流或电流密度测量 用于AES和XPS中的深度分析

ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法

，关于xps 测量的标准

GOST R ISO 16243:2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据

英国标准学会，关于xps 测量的标准

BS ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法