本专题涉及化合物 杂质的标准有16条。
国际标准分类中,化合物 杂质涉及到金属材料试验、核能工程、纺织辅助材料、半导体材料、化工产品、分析化学。
在中国标准分类中,化合物 杂质涉及到贵金属及其合金分析方法、核材料、核燃料及其分析试验方法、核材料、核燃料综合、元素半导体材料、基本有机化工原料、工业气体与化学气体。
YS/T 1497-2021 铂化合物分析方法 杂质阴离子含量测定 离子色谱法
YS/T 1496-2021 钯化合物分析方法 杂质阴离子含量测定 离子色谱法
ASTM C1287-18 通过电感耦合等离子体质谱法测定核级铀化合物杂质的标准测试方法
ASTM D5557-95(2017) 用于测定脂肪和填充化合物中使用的脂肪和油中的不溶杂质的标准测试方法
ASTM C1517-16 采用直流电弧发射光谱法测定铀金属或化合物中金属杂质的 标准试验方法
ASTM C1287-10 感应耦合等离子体质谱法测定核级铀化合物中杂质的标准试验方法
ASTM C1517-09 用直流电弧发射光谱分析法测定铀金属或化合物中金属杂质的标准试验方法
ASTM C1517-02 用直流电弧发射光谱分析法测定铀金属或化合物中金属杂质的标准试验方法
ASTM D5557-95(2011) 脂肪水溶液和加脂化合物中使用的脂肪和油所含不溶性杂质测定的标准试验方法
ASTM D5557-95 脂肪水溶液和加脂化合物中使用的脂肪和油所含不溶性杂质测定的标准试验方法
ASTM D5557-95(2001) 脂肪水溶液和加脂化合物中使用的脂肪和油所含不溶性杂质测定的标准试验方法
ASTM D5557-95(2006) 脂肪水溶液和加脂化合物中使用的脂肪和油所含不溶性杂质测定的标准试验方法
DIN 50456-3-1999 半导体工艺技术用材料的试验.电子元件模塑化合物材料的特性表示法.第3部分:阳离子杂质的测定
DIN 50456-2-1995 半导体工艺材料的试验.电子元件用模塑化合物的特性表示法.第2部分:用压力萃取法测定电离子杂质
DIN 50450-4-1993 半导体工艺材料的检验.运载气体和掺杂剂气体中杂质的测定.用气相色谱法测定氮气中C1-C3烃类化合物
GOST 21979-1976 试剂.锌化合物.铜、铅、镉杂质含量极谱分析测定法
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