本专题涉及金属的电迁移的标准有6条。
国际标准分类中,金属的电迁移涉及到电学、磁学、电和磁的测量。
在中国标准分类中,金属的电迁移涉及到微电路综合、基础标准与通用方法。
ASTM F1260M-96 估计集成电路金属化电迁移失效时间中值和西格玛的标准试验方法[米制]
ASTM F1259M-96 检测金属化开路或因电迁移引起的电阻增加故障的扁平直线试验结构的设计标准指南[米制]
ASTM F1260M-1996 集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)
ASTM F1259M-1996 检测由电迁移造成的喷镀金属开路或阻力增加失效率用的平板、直线试验结构设计的标准指南(米制单位)
ASTM F1259M-1996(2003) 检测由电迁移造成的喷镀金属开路或阻力增加失效率用的平板、直线试验结构设计的标准指南(米制单位)
ASTM F1260M-1996(2003) 集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)
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