半导体测试仪检测

本专题涉及半导体 测试仪的标准有7条。

国际标准分类中，半导体 测试仪涉及到电子元器件综合、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中，半导体 测试仪涉及到Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、基础标准与通用方法、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、通用电子测量仪器设备及系统、计量综合。

美国材料与试验协会，关于半导体 测试仪的标准

ASTM F1467-11 半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南

ASTM F1467-99 半导体器件和微电路的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用标准指南

ASTM F1467-99(2005) 半导体器件和微电路的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用标准指南

国家计量检定规程，关于半导体 测试仪的标准

JJG(电子) 04023-1989 BJ2970型大功率半导体三极管tf测试仪检定规程

JJG(电子) 04008-1987 QE1A型双基极半导体管测试仪试行检定规程

JJG(电子) 310003-2006 半导体分立器件电容参数测试仪检定规程

JJG(电子) 310002-2006 半导体分立器件直流参数测试仪检定规程