本专题涉及本征测量的标准有3条。
国际标准分类中,本征测量涉及到导体材料、光纤通信。
在中国标准分类中,本征测量涉及到光通信设备。
KS C 6111-3-2007(2017) 电子特性测量微波频率下高温超导薄膜的本征表面阻抗
ANSI/TIA/EIA 455-122-A-2002 用琼斯矩阵本征分析进行单模光纤偏振模色散测量
ANSI/TIA-455-122-A-2002 利用琼斯矩阵本征分析仪法进行单模光纤的偏振模色散测量
前沿科学
微信公众号
中析研究所
抖音
中析研究所
微信公众号
中析研究所
快手
中析研究所
微视频
中析研究所
小红书