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    表面氧化硅检测

    表面氧化硅检测

    发布时间：2025-09-18 00:00:00

    中析研究所涉及专项的性能实验室，在表面氧化硅检测服务领域已有多年经验，可出具CMA和CNAS资质，拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主，以客户为中心，在严格的程序下开展检测分析工作，为客户提供检测、分析、还原等一站式服务，检测报告可通过一键扫描查询真伪。
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    本专题涉及表面氧化硅的标准有4条。

    国际标准分类中，表面氧化硅涉及到分析化学。

    在中国标准分类中，表面氧化硅涉及到基础标准与通用方法。


    国家质检总局，关于表面氧化硅的标准

    GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

    国际标准化组织，关于表面氧化硅的标准

    ISO 14701-2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

    ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

    ISO 14701:2011 表面化学分析——X射线光电子能谱；氧化硅厚度的测量

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