本专题涉及采样原理 的标准有2条。
国际标准分类中，采样原理 涉及到集成电路、微电子学、光学和光学测量、光学设备。
在中国标准分类中，采样原理 涉及到半导体集成电路、光学仪器综合。
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
DIN ISO 15529-2010 光学和光子学.光学传递函数.采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理(ISO 15529-2010)
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