本专题涉及红外线厚度仪的标准有1条。
国际标准分类中,红外线厚度仪涉及到半导体材料。
在中国标准分类中,红外线厚度仪涉及到元素半导体材料。
DIN 50437-1979 半导体无机材料的试验.用红外线干涉法测量硅外延生长层的的厚度
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