本专题涉及扫描 探针的标准有34条。
国际标准分类中,扫描 探针涉及到分析化学、光学和光学测量、光学设备、词汇、教育、有色金属、机床、长度和角度测量。
在中国标准分类中,扫描 探针涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、基础标准与通用方法、教学专用仪器、化学、机床综合、放大镜与显微镜、基础标准与通用方法、稀有金属及其合金分析方法、颜料。
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
ISO 230-10:2011/Amd 1:2014 机床试验规程.第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定.修改件1:配扫描探针的探测系统的测量性能
ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
DIN EN ISO 10360-5:2020 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和验证试验. 第5部分: 使用离散点和/或扫描测量模式的单探针和多探针接触探测系统的坐标测量机(CMM)(ISO 10360-5-2020); 德文版 EN ISO 10360-5-2020
JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
JIS K0147-2-2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
GOST R ISO 27911:2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
BS ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
BS ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
NF E60-100-10/A1-2014 机床试验规程. 第10部分: 数控机床探测系统测量性能的测定. 修改件1: 扫描探针的测量性能
NF X21-069-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法
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