本专题涉及金属金属氧化物和检测的标准有3条。
国际标准分类中，金属金属氧化物和检测涉及到集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，金属金属氧化物和检测涉及到计算机应用、半导体集成电路。
DLA SMD-5962-88533 REV C-1994 硅单片误差检测与校正的单位互补型金属氧化物半导体数字微电路
DLA SMD-5962-92122 REV B-1993 硅单块 32比特通流误差检测和校正装置,互补金属氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-88613 REV B-1991 硅单片16位误码检测与校正部件互补型金属氧化物半导体数字微电路
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