本专题涉及法 薄膜 厚度的标准有25条。
国际标准分类中,法 薄膜 厚度涉及到金属材料试验、分析化学、信息技术应用、表面处理和镀涂、涂料和清漆、长度和角度测量、陶瓷、橡胶和塑料制品、非金属矿。
在中国标准分类中,法 薄膜 厚度涉及到金属物理性能试验方法、基础标准与通用方法、工业技术玻璃、涂料、材料防护、金属理化性能试验方法综合、长度计量、特种陶瓷、建材原料矿。
GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
ISO 16413-2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
ISO 19399-2016 涂料和清漆.用于测定薄膜厚度的楔形切割法(划线法和钻法)
ISO 16413:2013 用X射线反射法评价薄膜的厚度、密度和界面宽度——仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
ISO 4593:1993 塑料.薄膜和薄板.机械扫描法测定厚度
ISO 4593:1979 塑料.薄膜和薄板.机械扫描法测定厚度
ASTM D8331/D8331M-20 用加固光学干涉法用非破坏性方法测量薄膜涂层厚度的标准试验方法
ASTM D5796-2010 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-2006 质量测量法测定箔片、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-05 用质量测量法测定薄片和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-2005 质量测量法测定薄箔、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-04 用质量测量法测定薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-2004 用质量测量法测定薄箔和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-84(1999) 称重法测定薄膜厚度的标准试验方法
ASTM D5796-1999 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
BS ISO 19399-2016 涂料和清漆.用于测定薄膜厚度的楔形切割法(划线法和钻法)
BS EN 15042-1-2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南
BS 5806-1979 云母块、薄片、薄膜和碎片的厚度测量法
JIS R1636-1998 精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
NF T30-124-1991 涂料和清漆 .干性薄膜厚度测量.磁通量损测量法
NF T30-122-1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.标度量规法
NF T30-121-1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.千分尺测量法
GOST 17035-1986 塑料.薄膜和薄板厚度测定法
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