本专题涉及粒子噪声(PIND)试验的标准有6条。
国际标准分类中，粒子噪声(PIND)试验涉及到半导体分立器件、质量。
在中国标准分类中，粒子噪声(PIND)试验涉及到半导体分立器件综合、噪声、振动测试方法。
韩国标准，关于粒子噪声(PIND)试验的标准
KS C IEC 60749-16-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
KS C IEC 60749-16-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
德国标准化学会，关于粒子噪声(PIND)试验的标准
DIN EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)
欧洲电工标准化委员会，关于粒子噪声(PIND)试验的标准
EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)IEC 60749-16-2003
国际电工委员会，关于粒子噪声(PIND)试验的标准
IEC 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)
IEC/PAS 62171-2000 粒子冲击噪声检测(PIND)试验、操作员培训和认可指南
