粒子噪声(PIND)试验检测

本专题涉及粒子噪声(PIND)试验的标准有6条。

国际标准分类中，粒子噪声(PIND)试验涉及到半导体分立器件、质量。

在中国标准分类中，粒子噪声(PIND)试验涉及到半导体分立器件综合、噪声、振动测试方法。

韩国标准，关于粒子噪声(PIND)试验的标准

KS C IEC 60749-16-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)

KS C IEC 60749-16-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)

德国标准化学会，关于粒子噪声(PIND)试验的标准

DIN EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)

欧洲电工标准化委员会，关于粒子噪声(PIND)试验的标准

EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)IEC 60749-16-2003

国际电工委员会，关于粒子噪声(PIND)试验的标准

IEC 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)

IEC/PAS 62171-2000 粒子冲击噪声检测(PIND)试验、操作员培训和认可指南