GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法

发布时间：09-18 所属栏目：检测标准作者：北京中科光析科学技术研究所

国家标准《硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、有研半导体材料有限公司、广州市昆德科技有限公司、青海芯测科技有限公司、浙江海纳半导体有限公司、乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、亚洲硅业（青海）股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、开化县检验检测研究院、南京国盛电子有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、义乌力迈新材料有限公司。

主要起草人刘立娜、刘兆枫、何烜坤、刘刚、杨素心、孙燕、高英、王昕、梁洪、潘金平、楼春兰、宗冰、李慎重、潘文宾、蔡丽艳、王志强、皮坤林。

全部代替GB/T 1551-2009

基础信息

标准号： GB/T 1551-2021

发布日期： 2021-05-21

实施日期： 2021-12-01

全部代替标准： GB/T 1551-2009

标准类别：方法

中国标准分类号： H21

国际标准分类号： 77.040

77 冶金

77.040 金属材料试验

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

代替以下标准

全部代替 GB/T 1551-2009

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