GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

发布时间：09-18 所属栏目：检测标准作者：北京中科光析科学技术研究所

国家标准《硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位乐山市产品质量监督检验所、青海芯测科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、亚洲硅业（青海）股份有限公司、新特能源股份有限公司、有研半导体硅材料股份公司、四川永祥股份有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、江苏鑫华半导体材料科技有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司、国标（北京）检验认证有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、宜昌南玻硅材料有限公司、江苏秦烯新材料有限公司、义乌力迈新材料有限公司。

主要起草人梁洪、赵晓斌、万涛、薛心禄、魏东亮、王彬、邱艳梅、杨素心、李素青、李朋飞、赵培芝、王永涛、魏强、楚东旭、周延江、刘文明、刘红、何建军、皮坤林。

全部代替GB/T 24581-2009

基础信息

标准号： GB/T 24581-2022

发布日期： 2022-03-09

实施日期： 2022-10-01

全部代替标准： GB/T 24581-2009

标准类别：方法

中国标准分类号： H17

国际标准分类号： 77.040

77 冶金

77.040 金属材料试验

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

代替以下标准

全部代替 GB/T 24581-2009

相近标准

20200800-T-469 硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

20073568-T-469 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

20211955-T-469 硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

20141875-T-469 硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

20030335-T-424 傅立叶变换红外光谱仪

GB/T 21186-2007 傅立叶变换红外光谱仪

相关标签：

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证，检测能力经权威部门评审认定，为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书

CNAS实验室认可证书

ISO管理体系认证证书

高新技术企业证书

精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台（套），覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠，为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

查看全部设备

电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域，实现痕量与超痕量元素同时分析，检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析，广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量，服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构，配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标，支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境，考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

查看全部设备

需要检测服务？立即获取专业检测方案

一对一技术顾问为您服务，支持来样检测、现场采样与加急服务

在线咨询工程师定制实验方案