本专题涉及光学测量长度的标准有16条。
国际标准分类中，光学测量长度涉及到集成电路、微电子学、摄影技术、计量学和测量综合、光纤通信、光学和光学测量。
在中国标准分类中，光学测量长度涉及到微电路综合、感光材料、光通信设备、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光学测量长度的标准
GB/T 34893-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
美国材料与试验协会，关于光学测量长度的标准
ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2244-11e1 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2244-2011e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E2244-2011 利用光学干涉薄膜测量反射薄膜平面长度的标准试验方法
ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2244-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E2244-02 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2244-2002 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
，关于光学测量长度的标准
GOST 8.585-2013 确保测量一致性的国家系统. 光纤通信和数据传输系统用视放射的光学纤维, 平均功率, 衰减和波长的长度及信号传播时间测量仪器的国家验证链"
GOST 8.336-1978 ГСИ.用于长度测量的ИЗМ型光学机械装置.检定方法与工具
韩国标准，关于光学测量长度的标准
KS C IEC 60793-1-22-2003 光学纤维.第1-22部分:测量方法和试验规程.长度测量
KS C IEC 60793-1-22-2003 光学纤维.第1-22部分:测量方法和试验规程.长度测量
美国电信工业协会，关于光学测量长度的标准
TIA-455-133-A-2003 FOTP-133 IEC-60793-1-22 光学纤维.第1-22部分:测量方法和试验规程.长度测量
法国标准化协会，关于光学测量长度的标准
NF C93-840-1-22-2002 光学纤维.第1-22部分:测量方法和试验程序.长度测量
