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本专题涉及电子元器件早期失效的标准有126条。
国际标准分类中，电子元器件早期失效涉及到电子元器件综合、半导体分立器件、集成电路、微电子学、电信设备用部件和附件。
在中国标准分类中，电子元器件早期失效涉及到电子元件综合、基础标准与通用方法、电子元器件、可靠性和可维护性、、标准化管理与一般规定、技术管理、半导体分立器件、微电路综合、半导体分立器件综合、连接器。
韩国科技标准局，关于电子元器件早期失效的标准
KS C 6032-1981 电子元器件失效率试验通则
KS C 6032-2021 电子元件失效率通用测试程序
行业标准-航天，关于电子元器件早期失效的标准
QJ 1317-1987 电子元器件失效分类及代码
QJ 1317A-2005 电子元器件失效分类及代码
QJ 2663-1994 航天电子元器件失效数据采集卡及填写规定
QJ 2227-1992 航天用电子元器件贮存和超期复验要求
未注明发布机构，关于电子元器件早期失效的标准
GJB 8897-2017 军用电子元器件失效分析要求与方法
国际电工委员会，关于电子元器件早期失效的标准
IEC 61709:1996 电子元器件 可靠性 失效率和应力模型的基准条件
IEC 62435-8:2020 电子元器件电子半导体器件的长期储存第8部分:无源电子器件
IEC 62435-3:2020 电子元器件.电子半导体器件的长期储存.第3部分:数据
IEC 62435-1:2017 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第1部分:一般
IEC 62435-6:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
IEC 62435-7:2020 电子元件.电子半导体器件的长期储存.第7部分:微机电装置
IEC 62435-9:2021 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第9部分:特殊情况
国家军用标准-总装备部，关于电子元器件早期失效的标准
GJB/Z 123-1999 宇航用电子元器件有效贮存期及超期复验指南
GJB 2649A-2011 军用电子元件失效率抽样方案和程序
GJB 2649-1996 军用电子元件失效率抽样方案和程序
GJB 9397-2018 军用电子元器件中子辐射效应试验方法
GJB 6777-2009 军用电子元器件252Cf源单粒子效应实验方法
英国标准学会，关于电子元器件早期失效的标准
DD IEC/PAS 62435:2005 电子元器件 电子元件的长期储存 实施指南
BS EN IEC 62435-8:2020 电子元器件 电子半导体器件的长期存储-无源电子器件
BS EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期存储 存储
BS EN IEC 62435-6:2018 电子元器件 电子半导体器件的长期储存 封装或成品器件
BS EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期存储 微机电装置
BS EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期存储 特殊情况
BS EN IEC 62435-3:2020 电子元器件 电子半导体设备的长期存储 数据
BS EN 62435-1:2017 电子元器件 电子半导体设备的长期储存 概述
19/30390555 DC BS EN 62435-8 电子元件的长期储存 第8部分：无源电子器件
18/30379487 DC BS EN 62435-8 电子元件的长期储存 第8部分：无源电子器件
BS EN 61709:2000 电子器件.可靠度.失效率的参考条件和转换的应力模型
BS EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储第2部分：变质机制
18/30379483 DC BS EN 62435-7 电子元件的长期储存 第七部分 微机电器件
18/30367158 DC BS EN 62435-3 电子元器件 电子半导体设备的长期储存 第3部分. 数据
20/30424473 DC BS EN 62435-9 电子元器件 电子半导体设备的长期储存 第9部分. 特殊情况
BS EN 122180:1996 电子元期件质量评定协调体系.SSMC系列射频同轴连接器分规范
SCC，关于电子元器件早期失效的标准
BS DD IEC/PAS 62435:2005 电子元器件 电子元件的长期储存 实施指南
DANSK DS/EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
CEI EN IEC 62435-8:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
DANSK DS/EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第7部分：微机电器件
DANSK DS/EN IEC 62435-3:2020 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第3部分：数据
DANSK DS/EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：概述
CEI EN IEC 62435-3:2020 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第3部分：数据
DANSK DS/EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存
CEI EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：总则
CEI EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存
CEI EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分：芯片和晶圆器件
DANSK DS/EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第5部分：芯片和晶圆器件
DANSK DS/EN IEC 62435-6:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
CEI EN IEC 62435-6:2019 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
DANSK DS/EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制
CEI EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制
DIN EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：总则（IEC 62435-1:2017）
DIN EN IEC 62435-4:2019 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存（IEC 62435-4:2018）
DIN EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分：芯片和晶圆器件（IEC 62435-5:2017）
DIN EN IEC 62435-6:2019 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件（IEC 62435-6:2018）
DIN EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制（IEC 62435-2:2017）
DIN EN 62435-6 E:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件 (IEC 47/2390/CD:2017) 草案
DIN EN 62435-5 E:2013 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第5部分：模具和模具晶圆器件 (IEC 47/2174/CD:2013) 草案
DIN EN 62435-2 E:2013 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制 (IEC 47/2173/CD:2013) 草案
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子元器件早期失效的标准
GB/T 7289-2017 电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型
中国团体标准，关于电子元器件早期失效的标准
T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序
丹麦标准化协会，关于电子元器件早期失效的标准
DS/EN IEC 62435-7:2021 电子元器件《电子半导体器件长期贮存》第7部分：微机电器件
DS/EN IEC 62435-9:2021 电子元器件《电子半导体器件的长期贮存》第9部分：特殊情况
法国标准化协会，关于电子元器件早期失效的标准
NF C96-435-8*NF EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
NF EN IEC 62435-8:2020 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
NF C20-343:2011 电子元件.可靠性.换算用失效率和应力模型的基准条件
NF C20-343*NF EN 61709:2017 电子元件.可靠性.换算用失效率和应力模型的基准条件
NF C20-343:1998 电子元件.可靠性.换算用失效率和应力模型的基准条件
NF EN IEC 62435-7:2021 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第7部分：微机电器件
NF C96-435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第7部分：微型机电器件
NF C96-435-3*NF EN IEC 62435-3:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第3部分：数据
NF C96-435-1*NF EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：总则
NF C96-435-4*NF EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存
NF EN IEC 62435-4:2018 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第4部分：储存
NF EN IEC 62435-3:2020 电子元件 半导体电子器件的长期存储 第3部分：数据
NF EN 62435-1:2017 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第 1 部分：总则
NF C96-435-5*NF EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分 芯片和晶圆器件
NF EN IEC 62435-6:2018 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
NF EN 62435-5:2017 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第 5 部分 芯片器件和晶圆
NF C96-435-2*NF EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制
NF C96-435-9*NF EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第9部分：特殊情况
NF EN IEC 62435-9:2021 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第9部分：特殊情况
NF EN 62435-2:2017 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第2部分：劣化机制
欧洲电工标准化委员会，关于电子元器件早期失效的标准
EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第7部分：微型机电器件
EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存
EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：总则
EN IEC 62435-3:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第3部分：数据
EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分：管芯和晶圆器件
EN IEC 62435-6:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机理
EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第9部分：特殊情况
ES-UNE，关于电子元器件早期失效的标准
UNE-EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第8部分：无源电子器件
UNE-EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第7部分：微机电器件
UNE-EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第4部分：存储
UNE-EN IEC 62435-6:2018 电子元件 - 电子半导体器件的长期储存 - 第 6 部分：包装或成品器件
UNE-EN 9145:2018 电子元件 - 电子半导体器件的长期储存 - 第 6 部分：包装或成品器件
UNE-EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第5部分：芯片和晶圆器件
UNE-EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第2部分：劣化机制
GSO，关于电子元器件早期失效的标准
GSO IEC 62435-8:2022 电子元件.电子半导体器件的长期储存. 第8部分：无源电子器件
BH GSO IEC 62435-8:2023 电子元件.电子半导体器件的长期储存. 第8部分：无源电子器件
GSO IEC 62435-1:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：概述
GSO IEC 62435-4:2021 电子元件.电子半导体器件的长期储存. 第4部分：储存
BH GSO IEC 62435-1:2022 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：概述
BH GSO IEC 62435-4:2022 电子元件.电子半导体器件的长期储存. 第4部分：储存
GSO IEC 62435-5:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分：芯片和晶圆器件
BH GSO IEC 62435-5:2022 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分：芯片和晶圆器件
GSO IEC 62435-2:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制
BH GSO IEC 62435-2:2022 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制
PH-BPS，关于电子元器件早期失效的标准
PNS IEC 62435-7:2021 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第7部分：微机电器件
PNS IEC 62435-1:2021 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第1部分：总则
PNS IEC 62435-3:2021 电子元件.电子半导体器件的长期存储.第3部分：数据
PNS IEC 62435-5:2021 电子元件.电子半导体器件的长期存储.第5部分：芯片和晶圆器件
立陶宛标准局，关于电子元器件早期失效的标准
LST EN IEC 62435-8:2020 电子元器件-电子半导体器件的长期储存-第8部分：无源电子器件（IEC 62435-8:2020）
LST EN IEC 62435-7:2021 电子元器件-电子半导体器件的长期储存-第7部分：微型机电器件（IEC 62435-7:2020）
PL-PKN，关于电子元器件早期失效的标准
PN-EN IEC 62435-8-2021-04 E 电子元器件-电子半导体器件的长期储存-第8部分：无源电子器件（IEC 62435-8:2020）
PN-EN IEC 62435-7-2021-08 E 电子元器件 电子半导体器件的长期贮存 第7部分：微机电器件（IEC 62435-7:2020）
PN-EN IEC 62435-3-2020-11 E 电子元器件-电子半导体器件的长期储存-第3部分：数据（IEC 62435-3:2020）
国家质检总局，关于电子元器件早期失效的标准
GB/T 42706.1-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分：总则
GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理
GB/T 42706.5-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆
德国标准化学会，关于电子元器件早期失效的标准
DIN EN IEC 62435-9:2022-09 电子元件-电子半导体器件的长期储存-第9部分：特殊情况
DIN EN 62435-6:2017 电子元件. 电子半导体器件的长期存储. 第6部分：包装或成品设备(IEC 47 / 2390 / CD:2017)
行业标准-电子，关于电子元器件早期失效的标准
SJ/Z 9006-1987 电子元器件（或部件）规范中逐批检查与周期检查程序指南
AT-OVE/ON，关于电子元器件早期失效的标准
OVE EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第9部分：特殊情况（IEC 47/2667/CDV）（英文版）
YU-JUS，关于电子元器件早期失效的标准
JUS N.R4.485-1990 电子设备用机电元件．测试方法．试验15f：连接器装置的效力
