显微镜的机械系统检测

本专题涉及显微镜的机械系统的标准有68条。

国际标准分类中，显微镜的机械系统涉及到光学设备、航空航天用流体系统和零部件、光电子学、激光设备、长度和角度测量、机械试验、分析化学、陶瓷、建筑材料、燃气轮机和蒸汽轮机、蒸汽机、半导体分立器件、微生物学。

在中国标准分类中，显微镜的机械系统涉及到放大镜与显微镜、光学仪器综合、燃油系统及其附件、航天用液压元件与附件、特种陶瓷、液压、冷气系统及其附件、混凝土、集料、灰浆、砂浆、燃气轮机及其辅助设备、水环境有毒害物质分析方法、油、气处理设备。

国家质检总局，关于显微镜的机械系统的标准

GB/T 22061-2008 显微镜.偏光显微术的参考系统

GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统

GB/T 22057.1-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第1部分:筒长160mm

国际标准化组织，关于显微镜的机械系统的标准

ISO 8576:1996 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜的参考系统

ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统

ISO 9345:2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统

ISO 9345-1:2012 显微镜.相对机械参考面的象距.第1部分:160 mm筒长

ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统

ISO 9345-1:1996 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第1部分:160mm筒长

ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准

韩国科技标准局，关于显微镜的机械系统的标准

KS B ISO 8576:2006 光学和光学仪器.显微镜.偏光显微镜的参考系统

KS B ISO 8576-2006(2021) 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统

KS B ISO 9345-2:2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统

KS B ISO 9345-2:2016 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第2部分：无限光学校正系统

KS B ISO 9345-2-2016(2021) 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统

KS B ISO 9345-1:2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第1部分:160mm筒长

KS B ISO 9345-1:2016 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第1部分：160mm筒长

KS B ISO 9345-1-2023 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第1部分：160mm筒长

KS B ISO 9345-1-2016(2021) 光学和光学仪器显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第1部分:管长度160mm

KR-KS，关于显微镜的机械系统的标准

KS B ISO 8576-2023 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统

KS B ISO 9345-2-2023 显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第2部分:无限校正光学系统

KS B ISO 9345-2-2016 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统

KS B ISO 9345-1-2016 光学和光学仪器 - 显微镜 - 相关机械参考平面成像的距离 - 第1部分:管长160毫米

日本工业标准调查会，关于显微镜的机械系统的标准

JIS B 7251:2000 偏振光显微镜的参照系统

JIS B 7132-2:2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统

JIS B 7132-2:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分：无限远校正光学系统

JIS B 7132-1:2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第1部分:管长度 160 mm

JIS B 7132-1:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第1部分：管长 160 mm

CZ-CSN，关于显微镜的机械系统的标准

CSN 65 6337-1974 使用显微镜对机械杂质含量的测定

CSN 73 1331-1974 硬化混凝土孔隙系统的显微镜分析

英国标准学会，关于显微镜的机械系统的标准

BS ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统

BS ISO 9345-1:2012 显微镜.相对机械参考面的象距.管长160 mm

BS 7012-3:1997 光学显微镜.与机械基准面相关的长度160mm的镜筒成像距离

BS ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统

BS DD CEN/TS 843-6:2004 高级工业陶瓷.单片陶瓷.室温下的机械性能.断裂面显微镜检验

BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准

美国机动车工程师协会，关于显微镜的机械系统的标准

SAE ARP598C-2003 (R)液体动力系统的航空显微镜粒度法和微粒子污染

SAE AS598-2012 用于液压驱动系统中微粒污染物的宇航测微法和显微镜计数

德国标准化学会，关于显微镜的机械系统的标准

DIN ISO 9345-2:2005 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:完全修正光学系统

DIN EN 60749-35:2007-03 半导体器件-机械和气候测试方法-第35部分：塑料封装电子元件的声学显微镜

RU-GOST R，关于显微镜的机械系统的标准

GOST 15114-1978 光学设备的显微镜系统.分辨极限的目视测定法

GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准

未注明发布机构，关于显微镜的机械系统的标准

SAE AS598A-2081 用于液压驱动系统中微粒污染物的宇航测微法和显微镜计数

BS ISO 10550:1994(1999) 显微图像 — 行星相机系统 — 检查性能的测试目标

SAE - SAE International，关于显微镜的机械系统的标准

SAE AS598A-2018 用于液压驱动系统中微粒污染物的宇航测微法和显微镜计数

德国机械工程师协会，关于显微镜的机械系统的标准

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准

行业标准-航空，关于显微镜的机械系统的标准

HB 5931.8-1989 飞机液压系统污染测试-用显微镜对比法测定工作液固体污染度

HB 5931.5-1986 飞机液压系统污染测试 用显微镜计数法测定工作液固体颗粒污染度

国家军用标准-总装备部，关于显微镜的机械系统的标准

GJB 380.8-1998 飞机液压系统污染测试 用显微镜对比法测定工作液固体污染度

GJB 380.5-1987 飞机液压系统污染测试 用显微镜计数法测定油液固体颗粒污染度

美国材料与试验协会，关于显微镜的机械系统的标准

ASTM C457/C457M-10a 硬化混凝土中的空腔系统的参数的显微镜检验的标准试验方法

ASTM D4454-85(1997) 用显微镜同时计数水生系统中总细菌和呼吸细菌的标准试验方法

ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法

ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法

ASTM F1438-93(1999) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法

ASTM F1438-93(2020) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法

ASTM D4454-85(2002) 用显微镜进行水生系统中细菌总量和(呼吸时)呼出的细菌的同步计数试验方法

ASTM F1438-93(2012) 使用气体分配系统组件中扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准试验方法

ASTM F1372-93(2005) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法

ASTM F1372-93(2012) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜 (SEM) 分析的标准试验方法

ASTM D4454-85(2009) 用显微镜进行水生系统中细菌总量和(呼吸时)呼出的细菌的同步计数的标准试验方法

法国标准化协会，关于显微镜的机械系统的标准

NF B41-206-6*NF EN 843-6:2009 高级工业陶瓷 室温下单片陶瓷的机械性能 第6部分：显微镜下探测指南

NF EN 60749-35:2006 半导体器件 - 气候和机械测试方法 - 第 35 部分：塑料封装电子元件的声学显微镜

行业标准-机械，关于显微镜的机械系统的标准

JB/T 9591.3-2015 燃气轮机 油系统清洁度测试 用显微镜计数法测定油液中固体颗粒污染度

JB/T 9591.3-1999 燃气轮机.油系统清洁度测试.用显微镜计数法测定油液中固体颗粒污染度

丹麦标准化协会，关于显微镜的机械系统的标准

DS/EN 60749-35:2007 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑料封装电子元件的声学显微镜

ES-UNE，关于显微镜的机械系统的标准

UNE-EN 60749-35:2006 半导体器件 机械和气候测试方法 第35部分：塑料封装电子元件的声学显微镜

立陶宛标准局，关于显微镜的机械系统的标准

LST EN 60749-35-2007 半导体器件 机械和气候测试方法 第35部分：塑料封装电子元件的声学显微镜（IEC 60749-35:2006）