半导体系统检测

本专题涉及半导体 系统的标准有29条。

国际标准分类中，半导体 系统涉及到半导体分立器件、核能工程、集成电路、微电子学、光电子学、激光设备、光纤通信、质量、整流器、转换器、稳压电源。

在中国标准分类中，半导体 系统涉及到半导体分立器件综合、半导体整流器件、核仪器与核探测器综合、半导体集成电路、光通信设备、半导体发光器件、激光器件、交直流电源装置、技术管理、电力半导体器件、部件、电源设备、光电子器件综合。

法国标准化协会，关于半导体 系统的标准

NF EN IEC 63364-1:2023 半导体器件 - IDO 系统用半导体器件 - 第 1 部分：声学变化检测测试方法

NF C53-228:1989 半导体变流器.无间断电力系统用开关

NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件 第2部分：测量方法

美国国家标准学会，关于半导体 系统的标准

ANSI/EIA 370-B:1992 半导体器件的命名系统

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于半导体 系统的标准

JEDEC JESD370B-1982 半导体器件的命名系统

JEDEC JESD30D-2006 半导体器件封装的描述设计系统

JEDEC JESD30F-2013 半导体器件封装的描述性标记系统

JEDEC JESD30G-2016 半导体器件封装的描述性标记系统

英国标准学会，关于半导体 系统的标准

BS EN IEC 63364-1:2022 半导体器件 物联网系统用半导体器件 声音变化检测的测试方法

BS EN 62007-2:2000 光纤系统半导体光电器件.测量方法

BS EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.测量方法

BS EN 62007-1:2000 光纤系统半导体光电器件.基本额定值及特性

21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1 半导体器件 用于物联网系统的半导体器件 第1部分 声音变化检测的测试方法

国家质检总局，关于半导体 系统的标准

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

GB/T 42835-2023 半导体集成电路 片上系统（SoC）

GB/T 10236-2006 半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则

国际电工委员会，关于半导体 系统的标准

IEC 63364-1:2022 半导体器件物联网系统用半导体器件第1部分：声音变化检测的试验方法

IEC 62007-2:1997 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

ES-UNE，关于半导体 系统的标准

UNE-EN IEC 63364-1:2023 半导体器件 用于物联网系统的半导体器件 第1部分：声音变化检测的测试方法

CH-SNV，关于半导体 系统的标准

VSM 18656-1964 电子耳和模拟半导体组件极限值系统规则

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于半导体 系统的标准

GB/T 36005-2018 半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法

RU-GOST R，关于半导体 系统的标准

GOST 4.139-1985 产品质量指标系统.半导体电源转换器.目录术语

行业标准-电子，关于半导体 系统的标准

SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件.第2部分:测量方法

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc.，关于半导体 系统的标准

ASHRAE 4513-2002 3C风道设计方法在半导体厂工艺排风系统中的应用

欧洲电工标准化委员会，关于半导体 系统的标准

EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于半导体 系统的标准

EN 62007-2:2000 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

韩国科技标准局，关于半导体 系统的标准

KS C IEC 62007-2:2003 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

KR-KS，关于半导体 系统的标准

KS C IEC 62007-2-2003(2023) 光通信系统用半导体光电元件-第2部分:测量方法