本专题涉及灵敏测试的标准有123条。
国际标准分类中,灵敏测试涉及到航空航天制造用材料、半导体分立器件、信息技术应用、振动、冲击和振动测量、医疗设备、电信综合、电工器件、无损检测。
在中国标准分类中,灵敏测试涉及到医疗器械综合、数据通信设备、、机械振动、冲击设备与动平衡机、声学仪器与测震仪、其他日用品、物理学与力学、环境条件与通用试验方法、金属材料试验机、力学计量、加工工艺综合、基础标准与通用方法、电工合金零件、广播、电视发送与接收设备、半导体分立器件综合、噪声、振动测试方法。
DOD A-A-53918-1989 视觉灵敏度测试放映机
TIA TSB62-12-2001 ITM-12微弯灵敏度测试方法
TSB62-12-2001 ITM-12 微弯灵敏度测试方法
KS C IEC PAS 62179-2003(2008) 静电放电(ESD)灵敏度测试 - 人体模型
KS B ISO 5347-15-2014(2019) 振动和冲击拾取校准方法 - 第15部分:声学灵敏度测试
KS B ISO 5347-15:2014 振动与冲击传感器的校准方法 第15部分:声灵敏度测试
KS B ISO 5347-19:2014 振动与冲击传感器的校准方法 第19部分:磁灵敏度测试
KS B 0713-15-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第15部分:声灵敏度测试
KS B ISO 16063-33:2020 振动和冲击传感器校准方法 - 第33部分:磁场灵敏度测试
KS B 0713-19-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第19部分:磁场灵敏度测试
KS B ISO 5347-16-2014(2019) 振动和冲击拾取校准方法 - 第16部分:安装扭矩灵敏度测试
KS B 0713-11-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第11部分:横向振动灵敏度测试
KS B 0713-16-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第16部分:安装扭力灵敏度测试
KS B ISO 5347-13:2014 振动与冲击传感器的校准方法 第13部分:基座应变灵敏度测试
KS B ISO 5347-16:2014 振动与冲击传感器的校准方法 第16部分:安装力矩灵敏度测试
KS B 0713-18-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第18部分:瞬时温度灵敏度测试
KS B 0713-17-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第17部分:固定温度灵敏度测试
KS B 0713-12-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第12部分:横向冲击灵敏度测试
KS B ISO 5347-18:2014 振动与冲击传感器的校准方法 第18部分:瞬变温度灵敏度测试法
KS B 0713-13-2001 振动与冲击传感器的校准方法.第13部分:安装基座应变灵敏度测试
KS B ISO 16811:2019 非破坏性测试 - 超声波测试 - 灵敏度和范围设置
TR5.4-04-2013 静电放电灵敏度测试瞬态闩锁测试
SP5.5.1-2004 灵敏度测试传输线脉冲(TLP)元件电平
TR5.4-03-2011 静电放电灵敏度测试 CMOS/BiCMOS 集成电路的闩锁灵敏度测试 瞬态闩锁测试 组件级电源瞬态激励
ESD DS5.3:1993 带电器件模型(CDM)静电放电灵敏度测试
SP5.3.2-2004 灵敏度测试套接字设备模型(SDM)组件级别
STM5.5.1-2008 静电放电灵敏度测试 传输线脉冲(TLP) 组件级别
S5.3.1-2009 静电放电灵敏度测试“带电器件模型(CDM)”“元件级”
STM5.5.1-2014 静电放电灵敏度测试 传输线脉冲(TLP) 组件级别
STM5.5.1-2016 静电放电灵敏度测试 传输线脉冲(TLP) 设备级别
JS-002-2014 静电放电灵敏度测试 带电器件模型(CDM) 器件级
STM 5.3.1-1999 静电放电灵敏度测试带电器件模型(cdm)组件级别
TR5.5-04-2018 静电放电灵敏度测试传输线脉冲(TLP) 用户和应用指南
ESD DS5.3.1:2007 静电放电灵敏度测试标准 带电器件模型(CDM) 组件级别
SP5.5.2-2007 静电放电灵敏度测试 超快速传输线脉冲(VF-TLP) 元件级
TR5.5-03-2014 静电放电灵敏度测试 超快速传输线脉冲(VF-TLP) 循环分析
SP5.2.2-2012 静电放电灵敏度测试机型号(MM)替代测试方法:拆分信号引脚元件级
SP5.4-2004 CMOS/BiCMOS 集成电路的闩锁灵敏度测试瞬态闩锁测试 – 组件级电源瞬态激励
TR5.3.1-01-2018 静电放电灵敏度测试接触带电器件模型(CCDM)与场感应 CDM(FICDM)的案例研究
SP5.3.3-2018 静电放电灵敏度测试带电器件模型(CDM)测试“组件级低阻抗接触 CDM 作为替代 CDM 表征方法
JEDEC JESD22-A115C-2010 静电放电(ESD)灵敏度测试,机器模型(MM)
JEDEC JESD22-A115B-2010 静电放电(ESD)灵敏度测试,机器模型(MM)
DB32/T 3416-2018 超高频射频识别读写器灵敏度测试方法
ANSI/ESD STM5.5.1-2008 静电放电灵敏度测试传输线脉冲(TLP) 元件级
ANSI/ESD SP5.5.2-2007 静电放电灵敏度测试超快传输线脉冲(VF-TLP) 元件级
GB/T 13823.4-1992 振动与冲击传感器的校准方法 磁灵敏度测试
GB/T 13823.17-1996 振动与冲击传感器的校准方法 声灵敏度测试
GB/T 13823.8-1994 振动与冲击传感器的校准方法 横向振动灵敏度测试
GB/T 13823.9-1994 振动与冲击传感器的校准方法 横向冲击灵敏度测试
GB/T 13823.5-1992 振动与冲击传感器的校准方法 安装力矩灵敏度测试
GB/T 13823.6-1992 振动与冲击传感器的校准方法 基座应变灵敏度测试
GB/T 13823.15-1995 振动与冲击传感器的校准方法 瞬变温度灵敏度测试法
GB/T 20485.31-2011 振动与冲击传感器的校准方法.第31部分:横向振动灵敏度测试
BS IEC 62615:2010 静电放电灵敏度测试 传输线脉冲 (TLP) 组件级别
BS 6955-15:1994 振动和冲击传感器的校准 声灵敏度测试方法
BS 6955-13:1994 振动和冲击传感器的校准 基础应变灵敏度测试方法
BS 6955-17:1994 振动和冲击传感器的校准 固定温度灵敏度测试方法
BS ISO 16063-33:2017 振动与冲击传感器的校准方法.第33部分:磁灵敏度测试
BS ISO 16063-34:2019 振动和冲击传感器的校准方法 固定温度下的灵敏度测试
BS EN IEC 60749-26:2018 半导体器件 机械和气候测试方法 静电放电(ESD)灵敏度测试 人体模型(HBM)
BS EN 60749-27:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
BS EN 60749-26:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)
BS EN 60749-27:2006+A1:2012 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
BS EN 60749-26:2014 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)
18/30376778 DC BS ISO 16063-34 振动和冲击传感器的校准方法 第34部分.固定温度下的灵敏度测试
BS EN IEC 60749-28:2022 半导体器件 机械和气候测试方法 静电放电(ESD)灵敏度测试 充电设备模型(CDM)设备级
BS ISO 16063-31:2009 振动和冲击传感器的校准方法.横向振动灵敏度的测试
BS 6955-16:1994 振动和冲击传感器的校准 安装扭矩灵敏度的测试方法
NBN S 21-109-1988 自动火灾探测系统组件.第9部分:火灾灵敏度测试
SFS 5179 E-1985 自动火情探测系统组件.第9部分:火灾灵敏度测试
EN ISO 8596:2018 眼科光学.视觉灵敏度测试.标准验光字体及其演示
NF S12-112:2009 眼科光学.视觉灵敏度测试.标准验光字体及其演示
E90-350-15:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第15部分:声学灵敏度测试
NF E90-350-15:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第15部分:声学灵敏度测试
NF E90-350-16:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第16部分:扭矩灵敏度测试
E90-350-17:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第17部分:固定温度灵敏度测试
E90-350-16:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第16部分:安装扭矩灵敏度测试
NF E90-350-17:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第17部分:固定温度灵敏度测试
NF E90-350-12:1994 振动和冲击传感器的校准方法 第12部分:横向冲击灵敏度测试
NF ETS 300050:1994 振动和冲击传感器的校准方法 - 第 18 部分:瞬态温度灵敏度测试。
NF EN 2591-209:1994 振动和冲击传感器的校准方法 - 第 18 部分:瞬态温度灵敏度测试。
NF EN 60749-27:2006 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 27 部分:静电放电 (ESD) 灵敏度测试 - 机器模型 (MM)
NF EN 60749-27/A1:2013 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 27 部分:静电放电 (ESD) 灵敏度测试 - 机器模型 (MM)
NF C96-022-26:2006 半导体装置.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)
NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 半导体装置.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
EN ISO 8596:2009 眼科光学.视觉灵敏度测试.标准验光字体及其演示
EN ISO 8596:2018/A1:2020 眼科光学.视觉灵敏度测试.标准验光字体及其演示 包含修改件A1,2020
ITU-R SM.2096-2016 在 VHF/UHF 频率范围内测量测向仪灵敏度的测试程序
ITU-R SM.1840-2007 测量使用模拟调制信号无线电监测接收机灵敏度的测试程序
ITU-R SM.2096-0-2016 在 VHF/UHF 频率范围内测量测向仪灵敏度的测试程序
ITU-R SM.SENS-2007 使用模拟调制信号测量无线电监测接收机灵敏度的测试程序(文件 1/BL/23-E)
GB/T 20485.33-2018 振动与冲击传感器校准方法 第33部分:磁灵敏度测试
ISO 5347-19:1993 振动与冲击传感器的校准方法 第19部分:磁灵敏度测试
ISO 16063-33:2017 振动与冲击传感器的校准方法.第33部分:磁灵敏度测试
ISO 5347-15:1993 振动与冲击传感器的校准方法 第15部分:声灵敏度测试
ISO 5347-11:1993 振动与冲击传感器的校准方法 第11部分:横向振动灵敏度测试
ISO 5347-16:1993 振动与冲击传感器的校准方法 第16部分:安装力矩灵敏度测试
ISO 5347-13:1993 振动与冲击传感器的校准方法 第13部分:基座应变灵敏度测试
ISO 5347-18:1993 振动与冲击传感器的校准方法 第18部分:瞬变温度灵敏度测试法
ISO 16063-31:2009/WD Amd 1 振动和冲击传感器的校准方法第31部分:横向振动灵敏度测试第1次修订
ANSI/ESD SP14.5-2021 静电放电灵敏度测试近场抗扰度扫描元器件/模块/PCB级
ANSI/ESD STM5.5.1-2022 ESD 协会静电放电 (ESD) 灵敏度测试标准测试方法 传输线脉冲 (TLP) 组件级
KS B ISO 16063-33-2020 振动和冲击传感器校准方法 - 第33部分:磁场灵敏度测试
KS B ISO 16811-2019 非破坏性测试 - 超声波测试 - 灵敏度和范围设置
KS B ISO 5347-19-2014 振动和冲击拾取的校准方法 - 第19部分:磁场灵敏度的测试
SANS 16063-31:2009 振动和冲击传感器的校正方法.第31部分:横向振动灵敏度测试
IPC TM-650 2.6.9.1-1995 以超声波能量以确定电子组件灵敏度的测试
IPC TM-650 2.6.9.2-1995 以超声波能量以确定电子组件灵敏度的测试
CSN 66 6408 Zb-1983 修订b).4/83捷克国家标准66 6408彩色胶片灵敏度.测试.包装上的标记
CSN 66 6403 Zb-1983 变化b)4/83捷克国家标准66 6403 黑白底片材料的灵敏度测试.包装标识
CSN 66 6405 Zb-1983 修订b)4/83捷克国家标准66 6405感光材料.黑白胶卷灵敏度测试.包装标记
GOST ISO 16063-31-2013 机械振动. 振动和冲击传感器校准方法. 第31部分. 横向振动灵敏度测试
ASHRAE SF-98-20-1-1998 描述室内低速测量风速计方向灵敏度的测试方法
T/CAMDI 123.3-2023 医用康复机器人 第3部分: 痉挛灵敏度的测试方法
IEC 60749-27:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电灵敏度测试.机器模型
IEC 60749-27:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
IEC 60749-26:2018 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 - 人体模型(HBM)
IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分 27 静电放电(ESD)灵敏度测试-机器 型号(毫米)
DS/EN 60749-27:2006 半导体器件 机械和气候测试方法 第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 机器模型(MM)
DS/EN 60749-27/A1:2013 半导体器件 机械和气候测试方法 第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 机器模型(MM)
UNE-EN 60749-27:2006 半导体器件 机械和气候测试方法 第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 机器模型(MM)
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 半导体器件 机械和气候测试方法 第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 机器模型(MM)
UNE-EN IEC 60749-26:2018 半导体器件 机械和气候测试方法 第26部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 人体模型(HBM)
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