型射线衍射分析仪检测

本专题涉及型射线衍射分析仪的标准有162条。

国际标准分类中，型射线衍射分析仪涉及到辐射防护、分析化学、职业安全、工业卫生、有色金属、无机化学、耐火材料、非金属矿、化工产品、建筑材料、教育、辐射测量、电站综合、无损检测、空气质量、核能工程、金属材料试验、电工和电子试验、金属矿、半导体材料、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、涂料配料、光学和光学测量、长度和角度测量。

在中国标准分类中，型射线衍射分析仪涉及到放射卫生防护、化学试剂综合、轻金属及其合金分析方法、金相检验方法、无机化工原料综合、硅质耐火材料、耐火材料综合、通用核仪器、非金属矿、化妆品、金属无损检验方法、水泥、教学专用仪器、核仪器与核探测器综合、重金属及其合金分析方法、石油地质勘探、电力试验技术、教育、学位、学衔、工业防尘防毒技术、生产环境安全卫生设施、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、计量综合、辐射防护仪器、光学仪器综合、无机盐、铁矿、技术管理、、光学计量、电化学、热化学、光学式分析仪器、基础标准与通用方法、大气环境有毒害物质分析方法、化学计量、实验室基础设备、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、光学测试仪器、水泥混合材与外加剂、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、混凝土、集料、灰浆、砂浆、氧化物、单质、放射性同位素应用仪器。

国家质检总局，关于型射线衍射分析仪的标准

GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准

GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法

GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法

GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性

GB/T 6609.32-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法.第32部分:α-三氧化二铝含量的测定.X-射线衍射法

GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准

GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法

PT-IPQ，关于型射线衍射分析仪的标准

E E 14-1971 X射线衍射分析

韩国科技标准局，关于型射线衍射分析仪的标准

KS M 0043-2009 X射线衍射分析法

KS M 0043-2019 射线衍射分析的一般规则

KS M 0043-2009(2019) X射线衍射分析的一般规则

KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正

KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明

KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性

KS D ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

卫生部国家职业卫生标准，关于型射线衍射分析仪的标准

GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

工业和信息化部，关于型射线衍射分析仪的标准

YS/T 1178-2017 铝渣物相分析X射线衍射法

YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法

YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法

YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

行业标准-黑色冶金，关于型射线衍射分析仪的标准

YB/T 5336-2006 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法

YB/T 172-2000 硅砖定量相分析.X射线衍射法

YB/T 5320-2006 金属材料定量相分析 X射线衍射K值法

美国国家标准学会，关于型射线衍射分析仪的标准

ANSI/HPS N43.2-2021 射线衍射和荧光分析设备的辐射安全

ANSI N43.2-2001 X射线衍射和荧光分析设备的辐射安全

行业标准-海关，关于型射线衍射分析仪的标准

HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于型射线衍射分析仪的标准

GB/T 36923-2018 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法

GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法

日本工业标准调查会，关于型射线衍射分析仪的标准

JIS K 0131:1996 X射线衍射计测量分析的通用规则

JIS M 8205:2000 铁矿石.X射线荧光光谱仪分析

JIS A 1481-3:2014 建筑材料产品中石棉的测定.第3部分:X-射线衍射法对含有石棉的定量分析

JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建筑材料产品中石棉的测定. 第3部分: X-射线衍射法对含有石棉的定量分析(修改件1)

行业标准-教育，关于型射线衍射分析仪的标准

JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

德国标准化学会，关于型射线衍射分析仪的标准

DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法

DIN EN 15305:2009-01 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法

DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 无损检验 使用X射线衍射法进行分析残余应力分析的试验方法

DIN EN 15305:2009 无损检测.X射线衍射法对残余应力分析用试验方法

DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器

DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

DIN IEC 62495:2011 核仪器.使用微型X射线管的便携式X射线荧光分析设备(IEC 62495-2011)

DIN EN 12698-2:2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法

DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序

DIN IEC 61453:2008 核仪器.放射性核素分析用闪烁γ射线探测器系统.校准和功能检验

DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)

法国标准化协会，关于型射线衍射分析仪的标准

NF EN 15305:2009 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法

NF T25-111-3:1991 碳纤维-织构和结构-第3部分：X 射线衍射的方位角分析

NF A09-185*NF EN 15305:2009 无损检测.用X射线衍射对残余应力分析的试验方法

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器

NF A09-285:1999 无损试验.通过X射线衍射进行残余应力分析的试验方法

NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第2部分：间接分析法

NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法.

NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第1部分：直接过滤法

NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射测定结晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分：间接分析方法

NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准

NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 X 射线衍射法测定结晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分：直接过滤分析方法

NF X21-008:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格

SCC，关于型射线衍射分析仪的标准

DANSK DS/EN 15305:2008 无损检测.X射线衍射残余应力分析试验方法

DANSK DS/EN 15305/AC:2009 无损检测-X射线衍射残余应力分析的测试方法

NS-EN 15305:2008 无损检测 X 射线衍射残余应力分析的测试方法

AENOR UNE-EN 15305:2010 无损检测-X射线衍射残余应力分析的测试方法

10/30156853 DC BS EN 62495 核仪器仪表 使用微型 X 射线管的便携式 X 射线荧光分析设备

05/30137047 DC EN 15305 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法

NS-EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

DANSK DS/EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

AENOR UNE-EN 13925-3:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

DIN IEC 62495 E:2010 核仪器 利用微型 X 射线管的便携式 X 射线荧光分析设备（IEC 45/702/CDV:2010） 草案

BS ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度的校准

11/30230635 DC BS ISO 16129 表面化学分析 X射线光电子能谱法 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序

BS ISO 15632:2002 微束分析 带半导体探测器的能量色散X射线光谱仪的仪器规范

ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能量校准 修改件1

行业标准-核工业，关于型射线衍射分析仪的标准

EJ/T 767-1993 放射源激发的x射线荧光分析仪

EJ/T 684-1992 便携式源激发X射线荧光分析仪

EJ/T 684-2016 便携式能量色散X射线荧光分析仪

行业标准-石油，关于型射线衍射分析仪的标准

SY/T 5163-1995 沉积岩粘土矿物相对含量X射线衍射分析方法

SY/T 5163-2010 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法

SY/T 6210-1996 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法

英国标准学会，关于型射线衍射分析仪的标准

BS EN 15305:2008(2009) 无损检测 X 射线衍射残余应力分析的试验方法

BS ISO 16258-2:2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 间接分析法

BS EN 15305:2008 无损检验.使用X射线衍射分析剩余应力的试验方法

BS EN 12698-2:2007 和碳化硅耐熔制品结合的氮化物的化学分析.射线衍射(XRD)法

BS ISO 16258-1:2015 工作场所空气. 使用X射线衍射法分析可吸入石英. 直接过滤法

BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序

BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程

BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性

BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度

BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度

GSO，关于型射线衍射分析仪的标准

BH GSO IEC 62495:2016 核仪器 采用微型 X 射线管的便携式 X 射线荧光分析设备

OS GSO IEC 62495:2014 核仪器 采用微型 X 射线管的便携式 X 射线荧光分析设备

GSO IEC 61335:2014 核仪器 用于 X 射线荧光分析的井仪器

GSO IEC 62495:2014 核测量仪器和设备 使用微型 X 射线管进行 X 射线分析的移动荧光设备

GSO ISO 16258-2:2021 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第2部分：间接分析法

BH GSO ISO 16258-2:2022 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第2部分：间接分析法

BH GSO IEC 61335:2016 核仪器 用于 X 射线荧光分析的钻孔装置

OS GSO IEC 61335:2014 核仪器 用于 X 射线荧光分析的钻孔装置

GSO ISO 16258-1:2021 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第1部分：直接过滤法

BH GSO ISO 16258-1:2022 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第1部分：直接过滤法

OS GSO ISO 16129:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 评估X射线光电子能谱仪日常性能的程序

BH GSO ISO 16129:2015 表面化学分析 X射线光电子能谱 评估X射线光电子能谱仪日常性能的程序

OS GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性

GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性

BH GSO ISO 21270:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性

BH GSO ISO 15472:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度的校准

行业标准-电力，关于型射线衍射分析仪的标准

DL/T 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析

丹麦标准化协会，关于型射线衍射分析仪的标准

DS/EN 15305/AC:2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法

DS/EN 15305:2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法

DS/EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

立陶宛标准局，关于型射线衍射分析仪的标准

LST EN 15305-2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法

LST EN 15305-2008/AC-2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法

LST EN 13925-3-2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

AENOR，关于型射线衍射分析仪的标准

UNE-EN 15305:2010 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法

UNE-EN 13925-3:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器

行业标准-建材，关于型射线衍射分析仪的标准

JC/T 1085-2008 水泥用X射线荧光分析仪

国家计量检定规程，关于型射线衍射分析仪的标准

JJG(电子) 09006-1989 WILTRON640型射频分析仪检定规程

国际电工委员会，关于型射线衍射分析仪的标准

IEC 62495:2011 核监测仪表.利用微型X-射线管的便携式X-射线荧光分析设备

IEC 61335:1997 核仪器 X射线荧光分析法用钻孔设备

IEC 61453:2007 核检测仪表.放射性核素分析用闪烁γ射线探测器系统.校准和常规试验

欧洲标准化委员会，关于型射线衍射分析仪的标准

EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器

EN 12698-2:2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析.第2部分:X射线衍射(XRD)法

EN 15305:2008 无损检验.使用X射线衍射分析剩余应力的试验方法.合并勘误表-2009年1月

行业标准-机械，关于型射线衍射分析仪的标准

JB/T 9399-1999 X射线分析仪器主参数系列

JB/T 9399-2010 X射线分析仪器主参数系列

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany，关于型射线衍射分析仪的标准

VDE 0412-20-2011 核仪器 使用微型 X 射线管的便携式 X 射线荧光分析设备（IEC 62495:2011）

行业标准-电子，关于型射线衍射分析仪的标准

SJ 20250-1993 HP8590A型射频频谱分析仪检定规程

美国材料与试验协会，关于型射线衍射分析仪的标准

ASTM E3294-22 用粉末X射线衍射法对地质材料进行法医分析的标准指南

ASTM E3294-23 用粉末X射线衍射法对地质材料进行法医学分析的标准指南

ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法

ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法

ASTM C1365-06(2011) 用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法

ASTM C1365-06 用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法

ASTM C1365-98 用X射线粉末衍射分析测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣的阶段比例的标准试验方法

ASTM C1365-98(2004) 用X射线粉末衍射分析测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣的阶段比例的标准试验方法

ASTM C1365-18 使用X射线粉末衍射分析法测定波特兰水泥和波特兰水泥熟料中相的比例的标准测试方法

国家能源局，关于型射线衍射分析仪的标准

SY/T 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于型射线衍射分析仪的标准

GB/T 36017-2018 无损检测仪器 X射线荧光分析管

GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准

GB/T 35734-2017 便携式管激发X射线荧光分析仪 分类、安全要求及其试验

GB/T 32999-2016 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率

国家计量技术规范，关于型射线衍射分析仪的标准

JJF 1079-2002 阴极射线管彩色分析仪校准规范

JJF 1133-2005 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准规范

国际标准化组织，关于型射线衍射分析仪的标准

ISO 16258-2:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第2部分: 间接分析法

ISO 16258-1:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第1部分: 直接过滤法

ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准

ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准

ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法

ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程

ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范

ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范

ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

KR-KS，关于型射线衍射分析仪的标准

KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质

KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准

工业和信息化部/国家能源局，关于型射线衍射分析仪的标准

JB/T 12962.2-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪

JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪

RU-GOST R，关于型射线衍射分析仪的标准

GOST R ISO 16258-1-2017 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第 1 部分. 直接过滤法

IN-BIS，关于型射线衍射分析仪的标准

IS 12803-1989 X射线荧光光谱仪分析水硬性水泥的方法

未注明发布机构，关于型射线衍射分析仪的标准

DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准

DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化学分析 X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序

DIN ISO 15632 E:2015-05 微光束分析 带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范

DIN ISO 15632 E:2022-03 微光束分析 带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范