本专题涉及x射线单晶衍射仪和x射线的标准有185条。
国际标准分类中,x射线单晶衍射仪和x射线涉及到光学和光学测量、无损检测、教育、金属材料试验、分析化学、塑料、辐射防护、化工产品、金属生产、职业安全、工业卫生、无机化学、陶瓷、物理学、化学、词汇、管道部件和管道、医疗设备、半导体材料、燃料、水质、电站综合、非金属矿、核能工程、涂料配料、空气质量、有色金属、长度和角度测量、辐射测量、犯罪行为防范。
在中国标准分类中,x射线单晶衍射仪和x射线涉及到电子光学与其他物理光学仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学计量、电离辐射计量、金属无损检验方法、教学专用仪器、金属物理性能试验方法、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、放射卫生防护、金属化学分析方法综合、金相检验方法、无机化工原料综合、教育、学位、学衔、人工晶体、医用射线设备、物性分析仪器、通用核仪器、、化合物半导体材料、基础标准与通用方法、石油焦、水环境有毒害物质分析方法、物理学与力学、催化剂、无机盐、电力试验技术、非金属矿、电工用钢、核仪器与核探测器综合、元素半导体材料、催化剂基础标准与通用方法、石油地质勘探、光学计量仪器、炭素材料综合、炭素材料、大气环境有毒害物质分析方法、工业防尘防毒技术、颜料基础标准与通用方法、辐射防护仪器、职业病诊断标准、有色金属矿综合、涂料基础标准与通用方法、涂料、勘探采矿和工艺监测核仪器。
JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程
BS EN 13925-3:2005(2009) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
BS EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
BS EN 13925-2:2003(2008) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
BS EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
BS EN 13925-1:2003(2008) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.通用原理
BS EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.通用原理
BS ISO 22278:2020 精细陶瓷(先进陶瓷、先进技术陶瓷) 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜(晶片)结晶质量的测试方法
BS EN 1330-11:2007 无损检验.术语.多晶和无定形材料X射线衍射用术语
20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷(高级陶瓷、先进技术陶瓷) 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜(晶片)结晶质量的测试方法
BS ISO 20203:2005 用于生产铝的碳质材料 锻烧焦炭 X射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸
BS ISO 20203:2006 铝生产用碳素材料.煅烧焦炭.用X射线衍射法测定煅烧石油焦炭的晶体粒度
BS IEC 62463:2010 辐射防护使用仪器.携带违禁物品和安检用人员审查X射线系统
JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍身方法通则
JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
GB/T 8360-1987 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
GB/T 8362-1987 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
GB/T 32188-2015 氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
GB/Z 41476.3-2022 无损检测仪器 1 MV以下X射线设备的辐射防护规则 第3部分:450 kV以下X射线设备辐射防护的计算公式和图表
GB/T 26837-2011 无损检测仪器.固定式和移动式工业X射线探伤机
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
GB/T 12162.4-2010 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
GB/T 39123-2020 X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范
SH/T 1827-2019 塑料 结晶度的测定 X射线衍射法
YB/T 5338-2019 钢中奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法
DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分:仪器
DIN EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
DIN EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:总则
DIN EN 13925-2:2003-07 无损检测 - 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 - 第 2 部分:程序
DIN 6836:1963 X射线管和单筒X射线发生器;用于X射线机的台架支座.组装尺寸
DIN EN 13925-1:2003-07 无损检测 - 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 - 第 1 部分:一般原理
DIN EN 1330-11:2007-09 无损检测 术语 第11部分:多晶和非晶材料 X 射线衍射中使用的术语
DIN EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.第11部分:在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语
DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
EN 13925-2:2003 无损检测.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语
EN 13925-1:2003 无损检验.多晶体材料和无定形材料的X射线衍射.第1部分:一般原理
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
NF C74-111:1985 医用电气设备 X射线仪 X辐射仪 放射诊断X射线管组件 结构和试验 要求
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 无损检验 多晶和非晶材料的X射线衍射 第2部分:程序
NF EN 1330-11:2007 无损检测 - 术语 - 第 11 部分:多晶和非晶材料的 X 射线衍射
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:基本原则
NF EN 13925-2:2003 无损检测 - X 射线衍射应用于多晶和非晶材料 - 第 2 部分:程序
NF EN 13925-3:2005 无损检测-应用于多晶和非晶材料的X射线衍射-第3部分:设备
NF EN 13925-1:2003 无损检测 - X 射线衍射应用于多晶和非晶材料 - 第 1 部分:一般原理
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 无损检测.术语.第11部分:多结晶和非结晶材料中X射线衍射用术语
NF T25-111-3:1991 碳纤维-织构和结构-第3部分:X 射线衍射的方位角分析
NF T31-207:1995 颜料和填料 二氧化钛 用X-射线衍射法测定锐钛矿和金红石之比
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第2部分:间接分析法
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第1部分:直接过滤法
NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射测定结晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分:间接分析方法
NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 X 射线衍射法测定结晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分:直接过滤分析方法
DS/EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分:仪器
DS/EN 13925-2:2003 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第2部分:程序
DS/EN 13925-1:2003 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第1部分:一般原则
DS/EN 1330-11:2007 无损检测 术语 多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语
LST EN 13925-3-2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分:仪器
LST EN 13925-2-2004 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第2部分:程序
LST EN 13925-1-2004 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第1部分:一般原则
LST EN 1330-11-2007 无损检测 术语 多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语
UNE-EN 13925-3:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分:仪器
UNE-EN 13925-2:2004 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第2部分:程序
UNE-EN 13925-1:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第1部分:一般原则
UNE-EN 1330-11:2008 无损检测 术语 第11部分:多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语
GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
JJF 1256-2010 X射线单晶体定向仪校准规范
GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准
EJ/T 553-1991 矿物晶胞参数的测定粉末x射线衍射法
NB/SH/T 6015-2020 ZSM-23分子筛晶胞参数的测定 X-射线衍射法
NB/SH/T 6033-2021 ZSM—22分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法
NB/SH/T 6024-2021 ZSM—5分子筛相对结晶度的测定 X射线衍射法
NB/SH/T 0339-2021 八面沸石分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法
GOST 22091.3-1984 X射线仪.X射线照射场尺寸和工作束张角测量方法
GOST 20337-1974 X射线仪.术语和定义
GOST 22091.2-1984 X射线仪.X射线电子回旋加速箱喷射电流和电压测量方法
GOST 22091.6-1984 X射线仪.X射线曝光量功率和每一脉冲曝光量测量方法
GOST 22091.1-1984 X射线仪.灯丝电流和电压测量方法
GOST R ISO 20203-2017 用于生产铝的碳质材料 锻烧焦炭 X射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸
GOST R ISO 16258-1-2017 工作场所空气 通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅 第 1 部分. 直接过滤法
GOST R 8.698-2010 确保测量一致性的国家体系.纳米粒子和薄膜的空间参数.利用小角度X-射线散射衍射仪的测量方法
GOST 22091.8-1984 X射线仪.光谱成分和光谱相对污染程度测量方法
ISO 22278:2020 精细陶瓷(高级陶瓷 高级工业陶瓷).用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜(晶片)结晶质量的试验方法
ISO 20203:2005 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.用X-射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
ISO 16258-1:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第1部分: 直接过滤法
ISO 16258-2:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第2部分: 间接分析法
ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
ISO/CD 6868:2023 工作场所空气 采用 X 射线粉末衍射法定量测定散装材料中的石英和方英石
TCVN 6596-2000 X射线诊断放射学和X线透视检查.发生器,X射线管和准直仪.试验程序
ANSI/ASTM E915:1996 测量剩余应力用的X射线衍射仪验证方法
ANSI N43.2-2001 X射线衍射和荧光分析设备的辐射安全
ANSI N42.26-1995 防辐射仪器.监测设备.个人用X和γ射线辐射警告装置
YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
YB/T 5338-2006 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
YB/T 5336-2006 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
DB35/T 1914-2020 β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定(X 射线衍射法)
SJ 20714-1998 砷化镓抛光片亚损伤层的X射线双晶衍射试验方法
HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
UNI 6966-1971 通过X射线的衍射进行多晶体中的极面图形数量测定
ASTM D5187-91(2007) 用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小的试验方法
ASTM D934-80(2003) 用X射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的识别方法
ASTM D5187-91(2002) 用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小的试验方法
ASTM D5187-91(1997) 用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小的试验方法
ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM D5357-98 用X射线衍射法测定沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D8352-20 用X射线衍射法测定β沸石相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-03(2008)e1 用X射线衍射法测定沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-03(2013) 用X射线衍射法测定沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-03 X射线衍射法测定A型沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-19 X射线衍射法测定A型沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D934-08 用X射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的标准实施规程
ASTM E915-19 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准试验方法
ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
ASTM E915-21 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准实施规程
ASTM D934-80(1999) 通过X射线衍射鉴定水形沉积物中的结晶化合物的标准实践
ASTM D5758-01(2021) 通过X射线衍射测定沸石ZSM-5的相对结晶度的标准测试方法
ASTM D5187-10 晶粒大小的标准试验方法(用X射线衍射法测定煅烧石油焦的Lc)
ASTM D5758-01(2011)e1 使用X射线衍射法测定沸石ZSM-5相对结晶度的的标准试验方法
ASTM D934-22 用X射线衍射法鉴定水成沉积物中结晶化合物的标准实施规程
ASTM D934-13 利用X射线衍射法鉴定水沉淀物中结晶化合物的标准实施规程
ASTM D5758-01(2015) 通过X射线衍射法测定ZSM-5沸石的相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5187-10(2015)e1 使用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小 (Lc) 的标准试验方法
ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
ASTM D5187-21 用X射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸(L
ASTM E1172-87(2003) 波长扩散X射线分光仪的描述和规定
ASTM F847-94(1999) 单晶硅片参考面结晶学取向X射线测量的标准试验方法
ASTM D3720-90(2005) X射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛和金红石比率的试验方法
ASTM D5380-93(2009) 用X射线绕射分析识别涂料中结晶颜料和填充剂的标准试验方法
ASTM D3720-90(2011) X 射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛和金红石比率的标准试验方法
ASTM D3720-90(2019) X 射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛和金红石比率的标准试验方法
ASTM D5380-93(1998) 用X射线绕射分析法鉴定涂料中结晶颜料和填充剂的标准试验方法
ASTM D5380-93(2014) 用X射线绕射分析法鉴定涂料中水晶颜料和填充剂的标准试验方法
ASTM E1172-87(1996) 波长色散X射线分光仪的描述和规定的标准规程
ASTM D5381-93(2014) 颜料和填充剂中X射线荧光(XR)光谱仪的标准指南
DL/T 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分:X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析
HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法
SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法
BS ISO 20203:2005(2006) 铝生产用碳质材料 X 射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸
T/IAWBS 017-2022 金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法
HG/T 6149-2023 加氢催化剂及其载体中二氧化硅晶相含量的测定 X射线衍射法
KS A IEC 61137-2003(2013) 辐射防护仪器-安装人员表面污染监测组件-低能X射线和γ射线发射器
KS M ISO 20203-2016(2021) 铝生产用含碳材料——煅烧焦炭——用X射线衍射法测定煅烧石油焦的微晶尺寸(Lc)
KS M ISO 20203:2011 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.X.射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
KS M ISO 20203:2016 铝生产中使用的碳素材料 煅烧焦炭 X 射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
KS A ISO 14146:2007 放射线保护.X线和γ放射线用的个人剂量仪处理器的定期性评估标准和性能界限
KS E 3076-2002 单程二氧化硅和二氧化硅的X.射线荧光分析
IEC 61344:1996 辐射防护仪表 监测设备 X和γ射线辐射的个人报警装置
IEC 61137:1992 辐射防护仪表 固定式个人表面污染监测装置 低能X和γ射线发射体
IEC 62463:2010 辐射防护仪器.个人安全的屏蔽和危险物品的运载用X-射线系统
KS M ISO 20203-2016 铝生产用碳质材料煅烧焦炭用X射线衍射法测定煅烧石油焦的微晶尺寸
KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
SY/T 5163-2010 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法
SY/T 6210-1996 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法
SY/T 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法
SIS SS IEC 395:1983 核检测仪表.用于放射线防护的便携式X或γ射线照射量率计和监测器
WS/T 117-1999 X、γ、β射线和电子束所致眼晶体剂量估算规范
YY/T 1408-2016 单光子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法
IEC TS 62607-6-17:2023 纳米制造 关键控制特性 第 6-17 部分:石墨烯基材料 阶参数:X 射线衍射和透射电子显微镜
JUS H.B8.129-1980 工业用天然和人造冰晶石.硫含量的X射线荧光法测定
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