IEC747-1检测

本专题涉及IEC747-1的标准有15条。

国际标准分类中，IEC747-1涉及到半导体分立器件。

在中国标准分类中，IEC747-1涉及到。

关于IEC747-1的标准

60747-5-1-1997 Discrete Semiconductor Devices and Integrated Circuits - Part 5-1: Optoelectronic Devices - General (Edition 1.0; Partially Replaces IEC 747-5: 1992; Amendment 1: 03/2001)

丹麦标准化协会关于IEC747-1的标准

DS/IEC 747-3+Amd.1-1993

DS/IEC 747-1-1993 半导体装置．分立器件和集成电路．第1部分：概述

DS/IEC 747-8-1992 国际电工委员会IEC标准No．747-8-1984以及附录No．1-1991半导体装置．分立器件．第8部分：场效应晶体管

DS/IEC 747-7-1992 国际电工委员会IEC标准No．747-7-1988以及附录No．1-1991半导体装置．分立器件．第7部分：双极晶体管

DS/IEC 747-6-1-1990 半导体器件.分立器件.第6部分:晶闸管.第1节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻断三极闸流晶体管的空白详细规范

DS/IEC 747-2-1-1990 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范

DS/IEC 747-7-1-1990 半导体器件.分立器件.第7部分:双极性晶体管.第1节:低频和高频放大用的额定环境晶体管的空白详细规范

DS/IEC 747-3-1-1987 半导体器件．分立器件．第3部分：信号（包括开关）和调节器二极管．第1子部分：信号二极管，开关二极管和可控雪崩二极管的空白详细规范