本专题涉及陶瓷材料性能的标准有27条。
国际标准分类中,陶瓷材料性能涉及到词汇、频率控制和选择用压电器件与介质器件、化工设备、陶瓷。
在中国标准分类中,陶瓷材料性能涉及到电子技术专用材料、、电工绝缘材料及其制品、石英晶体、压电元件、特种陶瓷、非金属化工机械设备。
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法
GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
NF C26-501-1-2002 陶瓷材料和部件的压电性能.第1部分:术语和定义
NF C26-501-3-2002 陶瓷材料和部件的压电性能.第3部分:性能和测量方法.高功率
NF C26-501-2-2002 陶瓷材料和部件的压电性能.第2部分:低功率测量方法
DIN EN 50324-2-2002 陶瓷材料和部件的压电性能.第2部分:低功率测量方法; 德文版本 EN 50324-2:2002
DIN EN 50324-3-2002 陶瓷材料和部件的压电性能.第3部分:高功率测量方法; 德文版本 EN 50324-3:2002
DIN EN 50324-1-2002 陶瓷材料和部件的压电性能.第1部分:术语和定义; 德文和英文版本 EN 3475-804:2002
BS EN 50324-2-2002 陶瓷材料和元件的压电性能.测量方法.低功率
BS EN 50324-3-2002 陶瓷材料和元件的压电性能.测量方法.高功率
BS EN 50324-1-2002 陶瓷材料和元件的压电性能.术语和定义
HG/T 3210-2002 耐酸陶瓷材料性能试验方法
EN 50324-3-2002 陶瓷材料和压电性能的元件.第3部分:测量方法.高功率
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