本专题涉及薄膜测量的标准有185条。
国际标准分类中，薄膜测量涉及到表面处理和镀涂、分析化学、麻袋、袋子、长度和角度测量、玻璃、辐射测量、食品综合、半导体分立器件、电学、磁学、电和磁的测量、陶瓷、导体材料、印制电路和印制电路板、有机化学、物理学、化学、摄影技术、词汇、频率控制和选择用压电器件与介质器件、电子显示器件、电子元器件综合、光学和光学测量、半导体材料、罐、听、管、电子电信设备用机电元件、电子设备用机械构件、橡胶和塑料工业的生产工艺、橡胶和塑料制品、无损检测、石油和天然气工业设备、热力学和温度测量、电气设备元件、包装材料和辅助物、造船和海上构筑物综合、涂料和清漆、建筑材料、润滑剂、工业油及相关产品、非金属矿。
在中国标准分类中，薄膜测量涉及到材料防护、基础标准与通用方法、工业技术玻璃、包装材料与容器、基础标准与通用方法、电离辐射计量、基础标准与通用方法、电磁计量、有机化工原料综合、半导体分立器件综合、特种陶瓷、电子元件综合、物理学与力学、颜色、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、包装方法、电工材料和通用零件综合、标志、包装、运输、贮存综合、电子设备专用微特电机、微型电机、感光材料、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、塑料型材、基础标准和通用方法、其他、金属理化性能试验方法综合、金属无损检验方法、长度计量、流量与物位仪表、涂料基础标准与通用方法、涂料、磁性元器件、电子技术专用材料、电化学、热化学、光学式分析仪器、基本有机化工原料、、电工仪器、仪表综合、润滑油、建材原料矿。
未注明发布机构，关于薄膜测量的标准
GB/T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜测量的标准
GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
国家质检总局，关于薄膜测量的标准
GB/T 31556.2-2015 包装袋 尺寸描述和测量方法 第2部分:热塑性软质薄膜袋
GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法
GB/T 15053-2008 使用辐射显色薄膜和聚甲基丙烯酸甲酯剂量测量系统测量吸收剂量的标准方法
GB/T 15053-1994 使用辐射显色薄膜和聚甲基丙烯酸甲脂剂量测量系统测量吸收剂量标准方法
国际电工委员会，关于薄膜测量的标准
IEC 62899-503-3:2021 印刷电子.第503-3部分:质量评定.印刷薄膜晶体管接触电阻的测量方法.传输长度法
IEC 61788-17:2021 RLV 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
IEC 61788-17:2021 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
IEC 62899-202-7:2021 印刷电子.第202-7部分:材料.印刷薄膜.用90°剥离法测量柔性衬底上印刷层的剥离强度
IEC 62899-503-1:2020 印刷电子.第503-1部分:质量评定.印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法
IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造关键控制特性第5-3部分:薄膜有机/纳米电子器件电荷载流子浓度的测量
IEC 62047-30:2017 半导体器件 - 微机电器件 - 第30部分:MEMS压电薄膜机电转换特性的测量方法
IEC 62047-17:2015 半导体器件 - 微机电器件 - 第17部分:用于测量薄膜机械性能的膨胀测试方法
IEC TS 62607-5-1:2014 纳米制造关键控制特性第5-1部分:薄膜有机/纳米电子器件载流子传输测量
IEC/TS 62607-5-1-2014 纳米制造.关键控制特性.第5-1部分:薄膜有机/纳米电子设备.载体运输测量
IEC 61788-17:2013 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
IEC 61788-17-2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
IEC 62047-14-2012 半导体装置.微电机装置.第14部分:金属薄膜材料的成型极限测量方法
IEC 61788-15:2011 超导性 - 第15部分:电子特性测量 - 超导体薄膜在微波频率下的内在表面阻抗
IEC 61788-15-2011 超导性.第15部分:电子特性测量.微波频率下超导薄膜的固有表面阻抗
IEC 62047-8:2011 半导体器件 - 微机电器件 - 第8部分:用于薄膜拉伸性能测量的带钢弯曲试验方法
IEC 62047-8-2011 半导体装置.微电机装置.第8部分:薄膜的拉力特性测量的带状抗弯试验方法
IEC 60746-4-1992 电化学分析仪性能表示法 第4部分:用包有薄膜的电流传感器测量水中的溶解氧
英国标准学会，关于薄膜测量的标准
BS EN IEC 61788-17-2021 超导性. 第17部分: 电气特性测量值. 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
BS EN 62047-17-2015 半导体器件. 微型机电装置. 用于测量薄膜力学性能的胀形试验方法
BS PD IEC/TS 62607-5-1-2014 纳米制造. 关键控制特性. 有机薄膜/纳米电子器件. 载波传输测量
BS ISO 17861-2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
BS ISO 17861-2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
BS EN 61788-17-2013 超导性.电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
BS EN 61788-17-2013 超导性.电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
BS EN 62047-14-2012 半导体装置.微型电机装置.金属薄膜材料的成形极限测量方法
BS EN 62047-8-2011 半导体装置.微电机装置.薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法
BS EN 15042-1-2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南
BS EN 26591-2-1993 包装袋.第2部分:测量方法和说明.热塑性塑料软薄膜空袋
BS 5806-1979 云母块、薄片、薄膜和碎片的厚度测量法
国际标准化组织，关于薄膜测量的标准
ISO 23738:2021 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）.潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量方法
ISO 17861-2014 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱透射率的测量方法
ISO 17861:2014 精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） - 潮湿条件下精细陶瓷薄膜的光谱透射率测量方法
ISO 15989 Technical Corrigendum 1-2007 塑料.薄膜和薄片.电晕处理薄膜水接触角的测量.技术勘误1
ISO 15989:2004 塑料制品；薄膜和薄片——电晕处理薄膜水接触角的测量
ISO 15989-2004 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
ISO/TTA 4:2002 测量硅衬底上薄膜的导热率
ISO/TTA 4-2002 硅基质上薄膜导热性的测量
ISO 8311:1989 冷冻轻烃流体.船用薄膜罐和独立棱柱罐的校准.物理测量
ISO 6591-2:1985 包装与包装；麻袋和麻袋；说明和测量方法第2部分:热塑性柔性薄膜制成的空袋
ISO 6591-2-1985 包装 袋 说明及测量方法 第2部分:热塑柔性薄膜空袋
ISO 5972:1978 云母块、薄片、薄膜和裂片.厚度测量
，关于薄膜测量的标准
SIS 18 41 58-1973 油漆．由刻度盘指示器线性测量测定薄膜厚度
美国材料与试验协会，关于薄膜测量的标准
ASTM D8331/D8331M-20 用加固光学干涉法用非破坏性方法测量薄膜涂层厚度的标准试验方法
ASTM D5796-20 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
ASTM D7767-11(2018) 从辐射可固化丙烯酸酯单体 低聚物和共混物和薄膜制成的测量挥发物的标准测试方法
ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2444-11(2018) 标准术语 涉及对薄膜 反射膜的测量
ASTM F1711-96(2016) 使用四点探针法测量平板显示器制造薄膜导体的薄片电阻的标准实践
ASTM F1844-97(2016) 使用非接触式涡流量规测量平板显示器制造薄膜导体薄片电阻的标准实践
ASTM D5796-10(2015) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
ASTM E2244-11e1 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM D7767-11 从辐射可固化丙烯酸酯单体 低聚物和共混物和薄膜制成的测量挥发物的标准测试方法
ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2444-11 反射薄膜测量术语
ASTM E2444-11e1 反射薄膜测量术语
ASTM E2444-2011e1 与反射薄膜上测量的相关术语
ASTM E2244-2011 利用光学干涉薄膜测量反射薄膜平面长度的标准试验方法
ASTM E2444-2011 反射薄膜测量相关术语
ASTM E2246-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2244-2011e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E2246-2011e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2245-2011e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜残余应变的标准试验方法
ASTM D5796-10 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
ASTM D5796-03(2010) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
ASTM D5796-2010 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
ASTM E2120-2010(2016) 用于涂料薄膜中铅含量测量的便携式X射线荧光分光计的性能评估标准实施规程
ASTM D5946-2009 用测量水接触角测量结果测定经电晕处理的聚合物薄膜的试验方法
ASTM F1844-97(2008) 使用非接触式涡流量规测量平板显示器制造薄膜导体薄片电阻的标准实践
ASTM F1711-96(2008) 使用四点探针法测量平板显示器制造薄膜导体的薄片电阻的标准实践
ASTM E252-2006 质量测量法测定箔片、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E252-2006(2013) 采用质量测量的箔片, 薄板和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E252-05 用质量测量法测定薄片和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E2444-05 反射薄膜测量术语
ASTM E2444-05e1 反射薄膜测量术语
ASTM E2444-2005 与反射薄膜上测量的相关术语
ASTM E2245-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
ASTM E2244-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E252-2005 质量测量法测定薄箔、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM E2444-2005e1 与反射薄膜上测量的相关术语
ASTM E2246-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E252-04 用质量测量法测定薄膜厚度的标准试验方法
ASTM D5946-2004 用水触点角度测量法测定电晕处理聚合物薄膜的标准试验方法
ASTM E252-2004 用质量测量法测定薄箔和薄膜厚度的标准试验方法
ASTM D5796-03 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
ASTM D5796-2003 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
ASTM D5796-2003(2010) 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
ASTM F1711-96(2002) 用四点探针测量平板显示器制造用薄膜导体片电阻的标准实施规程
ASTM F1844-97(2002) 使用非接触式涡流量规测量平板显示器制造薄膜导体薄片电阻的标准实践
ASTM E2244-02 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2246-2002 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2244-2002 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E2245-2002 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
ASTM D5895-2001e1 机械记录器用有机涂层烘干或硫化期间薄膜产生时间测量用标准试验方法
ASTM D5946-2001 利用水流接点角度的测量对电晕处理聚合物薄膜标准测试方法
ASTM D5895-2001 机械记录器用有机涂层烘干或硫化期间薄膜产生时间测量用标准试验方法
ASTM E2120-2000 涂料薄膜中铅含量测量用便携式X射线荧光光谱仪性能评估的标准实施规程
ASTM D5796-99 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
ASTM F1225-99 测量薄膜和织物筒的带状出口力的标准试验方法
ASTM F1225-99(2003) 测量薄膜和织物筒的带状出口力的标准试验方法
ASTM D5946-1999 利用水流接点角度的测量对电晕处理聚合物薄膜标准测试方法
ASTM D5796-1999 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
ASTM F1844-97 使用非接触式涡流量规测量平板显示器制造薄膜导体薄片电阻的标准实践
ASTM F1844-1997(2002) 用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体耐力的标准操作规程
ASTM F1844-1997(2008) 用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体耐力的标准实施规程
ASTM F1844-1997(2016) 采用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体的薄层电阻的标准实施规程
ASTM F1844-1997 用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体耐力的标准操作规程
ASTM F1711-96 用四点探针测量平板显示器制造用薄膜导体片电阻的标准实施规程
ASTM F673-90(1996)e1 用非接触涡流计测量半导体薄片电阻率或半导体薄膜片电阻的标准试验方法
ASTM F1711-1996(2016) 采用四点探针法测量平板显示器制造用薄膜导体的薄层电阻的标准实施规程
ASTM D5895-1996 机械记录器用有机涂层烘干或硫化期间薄膜产生时间测量用标准试验方法
ASTM F692-97 测量可焊薄膜与基底粘合强度的标准试验方法
工业和信息化部，关于薄膜测量的标准
HG/T 5659-2019 光学功能薄膜 黄变的测量方法
行业标准-化工，关于薄膜测量的标准
HG/T 5077-2016 光学功能薄膜 近红外光谱透过率的测量方法
HG/T 4608-2014 光学功能薄膜 颜色的测量方法
HG/T 4951-2016 光学功能薄膜 对比度测量方法
日本工业标准调查会，关于薄膜测量的标准
JIS R1698-2015 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量
JIS R1694-2012 潮湿条件下精细陶瓷薄膜的光谱透射率测量
JIS R1694-2012 潮湿条件下精细陶瓷薄膜的光谱透射率测量
JIS K5600-4-5 ERRATUM 1-2002 涂料试验方法.第4部分:薄膜的外观特性.第5节:比色法(测量)(勘误1)
德国标准化学会，关于薄膜测量的标准
DIN IEC/TS 62607-5-1-2014 纳米加工.关键控制特性.第5-1部分:薄膜有机/纳米电子设备.载体运输测量(IEC 113/183/CD-2013)
DIN EN 61788-17-2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布(IEC 61788-17-2013).德文版本EN 61788-17-2013
DIN EN 16283-2013 包装. 铝软管. 测量刺穿薄膜作用力的试验方法; 德文版本EN 16283-2013
DIN EN 62047-14-2012 半导体装置.微电机装置.第14部分:金属薄膜材料的成型极限测量方法(IEC 62047-14-2012).德文版本EN 62047-14-2012
DIN EN 61788-15-2012 超导性.第15部分:电子特性测量.微波频率下超导薄膜的固有表面阻抗(IEC 61788-15-2011).德文版本EN 61788-15-2011
DIN EN 62047-8-2011 半导体设备.微机电设备.第8部分:薄膜拉伸性能测量用带弯曲试验方法(IEC 62047-8-2011).德文版 EN 62047-8-2011
DIN EN 13048-2009 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法.英文版本DIN EN 13048-2009-08
PAS 1022-2004 检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序
DIN IEC 60746-4-1996 电化学分析仪性能表示方法.第4部分:用包有薄膜的电流传感器测量水中的溶解氧
DIN EN 26591-2-1993 包装.包装袋.说明及测量方法.第2部分:热塑柔性薄膜空袋
法国标准化协会，关于薄膜测量的标准
NF C31-888-17-2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
NF C96-050-14-2012 半导体装置.微电机装置.第14部分:金属薄膜材料的成形极限测量方法
NF C31-888-15-2012 超导性.第15部分:电子特性测量.微波频率下超导薄膜的固有表面阻抗
NF C96-050-8-2011 半导体装置.微机电装置.第8部分:用钢带弯曲试验法测量薄膜的拉伸性能.
NF T54-199-1999 塑料.工业用聚合物制成的薄膜和薄片.着色薄膜或薄片的光投射缩小比测量.
NF M08-019-1996 轻质碳氢化合物制冷液.船上薄膜式罐和柱型罐的标定.物理测量法
NF P84-505-1993 地膜."标准覆地薄膜砂"直接剪切角的测量
NF T30-124-1991 涂料和清漆 .干性薄膜厚度测量.磁通量无损测量法
NF T60-182-1990 石油产品.用薄膜氧气吸收法(Tfout)测量汽油车辆发动机机油氧化稳定性的试验方法
NF T30-121-1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.千分尺测量法
韩国标准，关于薄膜测量的标准
KS T ISO 6591-2-2012 热塑柔性薄膜袋的尺寸标识与测量方法
KS C 2150-2008 在高频带(500MHz〜10GHz)的介电常数和介电损耗测量的介电薄膜的方法
KS C 2150-2008 在高频带(500MHz〜10GHz)的介电常数和介电损耗测量的介电薄膜的方法
KS C 6111-3-2007 超导电子特性的测量.高温超导薄膜的高频固有表面阻抗测量方法
KS C 6111-3-2007 超导电子特性的测量.高温超导薄膜的高频固有表面阻抗测量方法
KS M ISO 8311-2003 轻质碳氢化合物制冷液.船上薄膜式罐和柱型罐的标定.物理测量法
KS M ISO 8311-2003 轻质碳氢化合物制冷液.船上薄膜式罐和柱型罐的标定.物理测量法
KS M ISO 5989-2002 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
欧洲电工标准化委员会，关于薄膜测量的标准
EN 62047-8-2011 半导体器件.微型电机装置.第8部分:薄膜拉力特性测量的带状抗弯试验
欧洲标准化委员会，关于薄膜测量的标准
EN 13048-2009 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法
EN 13048-2000 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法
EN 26591-2-1992 包装.袋.描述和测量法.第2部分:热塑软薄膜空袋
行业标准-电子，关于薄膜测量的标准
SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
澳大利亚标准协会，关于薄膜测量的标准
AS/NZS 1580.602.2-1995 油漆及类似材料 测试方法 20度、60度和85度条件下进行非金属性油漆薄膜镜面光泽测量
丹麦标准化协会，关于薄膜测量的标准
DS/ISO 6591/2-1987 包装.包装袋.测量方法和描述.第2部分:热塑软薄膜制成的空袋
