二次电子衍射检测

本专题涉及二次电子 衍射的标准有43条。

国际标准分类中，二次电子 衍射涉及到分析化学、金属材料试验、光学设备、光学和光学测量、消防、长度和角度测量。

在中国标准分类中，二次电子 衍射涉及到基础标准与通用方法、电化学、热化学、光学式分析仪器、金相检验方法、放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、消防综合、物理学与力学。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于二次电子 衍射的标准

GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析

GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 36165-2018 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射（EBSD）法

未注明发布机构，关于二次电子 衍射的标准

GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

国家质检总局，关于二次电子 衍射的标准

GB/T 36165-2018 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法

GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则

GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法

GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 19501-2004 电子背散射衍射分析方法通则

GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于二次电子 衍射的标准

GB/T 34172-2017 微束分析 电子背散射衍射 金属及合金的相分析方法

国际标准化组织，关于二次电子 衍射的标准

ISO 23749-2022 微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定

ISO 23703-2022 微束分析.用电子背散射衍射（EBSD）评估奥氏体不锈钢机械损伤的取向分析指南

ISO 13067-2020 微束分析 - 电子反向散射衍射 - 平均晶粒尺寸的测量

ISO 13067:2020 微束分析 - 电子反向散射衍射 - 平均晶粒尺寸的测量

ISO 13067-2011 微光束分析.电子反向散射衍射.平均粒度测量

ISO 13067:2011 微束分析——电子背散射衍射——平均粒度的测量

ISO 25498-2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

ISO 25498:2010 微束分析——分析电子显微镜——用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析

ISO 24173:2009 微束分析——电子背散射衍射取向测量指南

ISO 24173-2009 微光束分析.用电子背散射衍射进行定向测量的指南

美国材料与试验协会，关于二次电子 衍射的标准

ASTM E2627-13(2019) 用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程

ASTM E2627-13 用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程

ASTM E2627-2013 使用完全再结晶多晶材料中的电子背散射衍射 (EBSD) 测定平均粒径的标准实施规程

ASTM E2627-10 用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程

ASTM E2627-2010 在完全再结晶的多晶体物质中使用电子背向反射衍射(EBSD)测定平均粒度的标准实施规程

上海市市场监督管理局，关于二次电子 衍射的标准

DB31/T 1156-2019 电气火灾熔痕技术鉴定 电子背散射衍射法

工业和信息化部，关于二次电子 衍射的标准

YB/T 4677-2018 钢中织构的测定 电子背散射衍射（EBSD）法

英国标准学会，关于二次电子 衍射的标准

BS ISO 25498-2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

BS ISO 13067-2011 微光束分析.背散射电子衍射.平均颗粒粒度测量

BS ISO 13067-2011 微光束分析.背散射电子衍射.平均颗粒粒度测量

BS ISO 25498-2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

BS ISO 25498-2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析

BS ISO 24173-2009 微束分析.使用电子反向散射体衍射的方位测量准则

BS ISO 24173-2009 微束分析.使用电子反向散射体衍射的方位测量准则

，关于二次电子 衍射的标准

GOST R ISO 13067-2016 确保测量一致性的国家系统. 微束分析. 电子背散射衍射. 平均粒度的测量

GOST R ISO 13067-2016 确保测量一致性的国家系统. 微束分析. 电子背散射衍射. 平均粒度的测量

GOST R 8.696-2010 确保测量一致性的国家体系.晶体中的平面间距和衍射图中的亮度分布.利用电子衍射计方法的测量

德国标准化学会，关于二次电子 衍射的标准

DIN ISO 13067-2015 微光束分析.电子反向散射衍射.平均粒度测量(ISO 13067-2011)

DIN ISO 24173-2013 微光束分析.使用电子背散射衍射进行定向测量的指南(ISO 24713-2009)

法国标准化协会，关于二次电子 衍射的标准

NF X21-014-2012 微束分析.电子背散射衍射.平均粒度的测量

(美国)海军，关于二次电子 衍射的标准

NAVY UFGS-01 33 29-2010 低能电子衍射(TM)文件