本专题涉及金的电迁移的标准有17条。
国际标准分类中,金的电迁移涉及到空气质量、半导体分立器件、地质学、气象学、水文学、电气工程综合、电学、磁学、电和磁的测量。
在中国标准分类中,金的电迁移涉及到环境卫生、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、工业防尘防毒技术、半导体分立器件综合、气象学、电子测量与仪器综合、基础标准和通用方法、微电路综合、基础标准与通用方法。
GOST R ISO 28439:2015 工作场所的大气. 超细气溶胶/纳米气溶胶的特性描述. 用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度
KS I ISO 28439:2013 工作场所空气.超细悬浮微粒/纳米悬浮微粒的描述.用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度
BS EN ISO 28439:2011 工作场所空气.工作场所超细悬浮微粒/纳米悬浮微粒的描述.用差示电迁移率分析系统测定粒径分布和数量浓度
BS EN 62415-2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验
DIN EN 62415-2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC 62415-2010);德文版本EN 62415-2010
NF C80-201-2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验.
IEC 62415:2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验
QX/T 72-2007 大气亚微米颗粒物粒度谱分布电迁移分析法
JEDEC JESD61A-2007 等温线的电迁移测试程序
JEDEC JESD202-2006 在恒定电流和温度压力下互连的电迁移故障时间分配辨别方法
JEDEC JESD63-1998 极端电路密度和温度的电迁移模型参数的标准方法
JEDEC JESD61-1997 等温线的电迁移测试程序
ASTM F1259M-96(2003) 检测由电迁移造成的喷镀金属开路或阻力增加失效率用的平板、直线试验结构设计的标准指南(米制单位)
ASTM F1260M-96(2003) 集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)
ASTM F1260M-96 集成电路金属喷镀总量和电迁移中值失效时间的评定标准试验方法(米制单位)
ASTM F1259M-96 检测由电迁移造成的喷镀金属开路或阻力增加失效率用的平板、直线试验结构设计的标准指南(米制单位)
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