本专题涉及x射线薄膜反射仪的标准有7条。
国际标准分类中,x射线薄膜反射仪涉及到分析化学、信息技术应用。
在中国标准分类中,x射线薄膜反射仪涉及到基础标准与通用方法、长度计量、电子计算机应用。
GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
KS D ISO 16413-2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
ISO 16413-2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
ISO 16413:2013 用X射线反射法评价薄膜的厚度、密度和界面宽度——仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
ISO 16413-2013 X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
BS ISO 16413-2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
BS ISO 16413-2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
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