本专题涉及辉光放电的标准有100条。
国际标准分类中,辉光放电涉及到金属材料试验、有色金属、黑色金属、分析化学、半导体材料、光学和光学测量、电子管、电子显示器件、计量学和测量综合、核能工程、钢铁产品、电灯及有关装置、导体材料。
在中国标准分类中,辉光放电涉及到半金属及半导体材料分析方法、贵金属及其合金分析方法、钢铁与铁合金分析方法、基础标准与通用方法、元素半导体材料、其他电真空器件、重金属及其合金分析方法、稀有高熔点金属及其合金、、稀有金属及其合金分析方法、、化学、钢铁产品综合、稀有轻金属及其合金、轻金属及其合金分析方法、半金属与半导体材料综合、材料防护、电子技术专用材料。
GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
GB/T 31926-2015 钢板及钢带 锌基和铝基镀层中铅、镉和铬含量的测定 辉光放电原子发射光谱法
GB/T 29559-2013 表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析
GB/T 23275-2009 钌粉化学分析方法.铅、铁、镍、铝、铜、银、金、铂、铱、钯、铑、硅量的测定.辉光放电质谱法
GB/T 22462-2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜.元素深度分布的定量测定.辉光放电原子发射光谱法
GB/T 22368-2008 低合金钢.多元素含量的测定.辉光放电原子发射光谱法(常规法)
GB/T 19502-2004 表面化学分析-辉光放电发射光谱方法通则
GB/T 15648-1995 辉光放电显示管测试方法
GB/T 13946-1992 辉光放电显示管 空白详细规范
GB/T 13945-1992 辉光放电显示管 总规范
GB/T 36590-2018 高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
GB/T 34209-2017 不锈钢 多元素含量的测定 辉光放电原子发射光谱法
GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
GB/T 32997-2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程
GB/T 32996-2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
ISO 24417:2022 表面化学分析.用辉光放电光学发射光谱法分析铁基衬底上的金属纳米层
ISO/TS 15338:2020 表面化学分析 - 辉光放电质谱 - 操作程序
ISO/TS 25138:2019 表面化学分析 - 通过辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
ISO 16962:2017 表面化学分析. 采用辉光放电光发射光谱法分析锌和/或铝基金属涂层
ISO 19272:2015 低合金钢. C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti以及Cu含量的测定. 辉光放电发射光谱法 (常规方法)
ISO 11505:2012 表面化学分析.通过辉光放电光发射光谱法来定量成分深度剖面的通用规程
ISO/TS 25138:2010 表面化学分析.用辉光放电发射光谱测定法分析金属氧化物薄膜
ISO/TS 15338:2009 表面化学分析.辉光放电质谱测定法(GD-MS).使用介绍
ISO 16962:2005 表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
YS/T 1530-2022 高纯锡化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1504-2021 高纯钯化学分析方法?杂质元素含量的测定?辉光放电质谱法
YS/T 1495-2021 高纯铑化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1493-2021 高纯铂化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1473-2021 高纯钼化学分析方法 ?痕量杂质元素的测定 ?辉光放电质谱法
YS/T 1506-2021 高纯铱化学分析方法?杂质元素含量的测定?辉光放电质谱法
YS/T 1494-2021 高纯金化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1505-2021 高纯钌化学分析方法?杂质元素含量的测定?辉光放电质谱法
XB/T 628-2020 高纯稀土金属化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1347-2020 高纯铪化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1288.4-2018 高纯锌化学分析方法 第4部分:痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法
ASTM E2994-21 用火花原子发射光谱法和辉光放电原子发射光谱法分析钛和钛合金的标准试验方法(基于性能的方法)
ASTM E2994-16 采用火花原子发射光谱法和辉光放电原子发射光谱法进行钛和钛合金分析的标准试验方法 (基于性能的方法)
ASTM F1710-08(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-08 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-08 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1710-08 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级钛中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-08(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-08(2016) 采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝铜, 铝硅和铝铜硅合金中的痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F2405-04 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F2405-04(2011) 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-97(2002) 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-97 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-97 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-97(2002) 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
T/CSTM 00445-2021 辉光放电质谱仪校准规范
T/AVS 001-2020 超导回旋加速器 辉光放电清洗系统设计准则
T/SDAS 4-2016 高纯金化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
JIS K0144-2018 表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
JIS K0150-2009 表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
JIS K0144-2001 表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
BS ISO 16962:2017 表面化学分析. 采用辉光放电光发射光谱法分析锌和/或铝基金属涂层
BS ISO 19272:2015 低合金钢. C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti以及Cu含量的测定. 辉光放电发射光谱法 (常规方法)
BS ISO 14707:2015 表面化学分析.辉光放电发射光谱.使用介绍
BS ISO 11505:2013 表面化学分析. 采用辉光放电光学发射光谱法量化组成深度描述的通用规程
BS DD ISO/TS 25138:2011 表面化学分析.辉光放电发射光谱法分析金属氧化膜
BS DD ISO/TS 15338:2009 表面化学分析.辉光放电质谱法(GD-MS).用法介绍
BS ISO 14707:2000 表面化学分析.辉光放电发射光谱.使用介绍
YB/T 4475-2015 钢板及钢带 锌和铝金属镀层分析 辉光放电原子发射光谱法
YS/T 1012-2014 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1011-2014 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 981.1-2014 高纯铟化学分析方法 镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
YS/T 229.4-2013 高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 895-2013 高纯铼化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
YS/T 923.2-2013 高纯铋化学分析方法 第2部分: 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 899-2013 高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
YS/T 891-2013 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
YS/T 922-2013 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 917-2013 高纯镉化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 897-2013 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
YS/T 901-2013 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
YS/T 871-2013 高纯铝化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
YS/T 35-2012 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
NBN C 72-969-1992 用于一般照明的集成辉光放电,性能指示
DB35/T 1146-2011 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
NF X21-053-2006 表面化学分析.辉光放电光发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
KS D ISO 14707:2003 表面化学分析.辉光放电光发射光度测定法(GD-OES).使用说明
SJ 1123-1976 QS30-1型辉光放电数字管
SJ 816-1974 辉光放电计数管复位性能的测试方法
SJ 812-1974 辉光放电计数管暗室起辉电压的测试方法
SJ 814-1974 辉光放电计数管正弦工作状态的测试方法
SJ 813-1974 辉光放电计数管管压降的测试方法
SJ 811-1974 辉光放电计数管起辉电压的测试方法
SJ 815-1974 辉光放电计数管脉冲工作状态的测试方法
SJ 872-1974 WY-3P型辉光放电稳压管
SJ 871-1974 WY-2P型辉光放电稳压管
SJ 873-1974 WY-4P型辉光放电稳压管
AS 3685-1998 辉光放电质谱法(GD-MS)的建议程序和原则
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