表面污染仪检测

本专题涉及表面 污染仪的标准有175条。

国际标准分类中，表面 污染仪涉及到分析化学、辐射防护、有色金属、辐射测量、核能工程、空气质量、长度和角度测量、环境保护、陶瓷、微生物学、航天系统和操作装置、航空航天制造用材料、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、消毒和灭菌、鞋类、半导体材料、航空航天用电气设备和系统、化工产品。

在中国标准分类中，表面 污染仪涉及到基础标准与通用方法、辐射防护仪器、辐射防护监测与评价、稀有金属及其合金分析方法、辐射防护与监测综合、勘探采矿和工艺监测核仪器、核仪器与核探测器综合、基础标准与通用方法、航天器综合、通用核仪器、核辐射事故应急与处理、污染物排放综合、环境监测仪器及其成套装置、基础标准与通用方法、航空与航天用金属铸锻材料、航空、航天材料基础标准、基础标准与通用方法、可靠性和可维护性、物理学与力学、放射源、电离辐射计量、环境污染物监测方法、环境辐射防护与核医学防护、基础标准与通用方法、放射性物质与放射强度分析测试方法、防护用具与设备、核设施的辐射安全。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面 污染仪的标准

GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染

国家质检总局，关于表面 污染仪的标准

GB/T 29788-2013 辐射防护仪器 便携式表面污染光子测量仪和监测仪

GB/T 14056.2-2011 表面污染测定.第2部分：氚表面污染

GB/T 23603-2009 钛及钛合金表面污染层检测方法

GB/T 8997-2008 α、β表面污染测量仪与监测仪的校准

GB/T 12128.2-1999 用于校准表面污染监测仪的参考源 第2部分;能量低于0.15MeV的电子和能量低于1.5MeV的光子

GB/T 15222-1994 表面污染测定 第2部分 氚表面污染

GB/T 14056-1993 表面污染测定 第1部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体

GB/T 12128-1989 用于校准表面污染监测仪的参考源 β发射体和α发射体

GB/T 8997-1988 α.β表面污染测量仪与监测仪的校准

GB 5202-1985 α、β 和α-β表面污染测量仪与监测仪

GB/T 5202-1985 α、β和α-β表面污染测量仪与监测仪

GB/T 14056.1-2008 表面污染测定 第1部分: β发射体(Eβmax>0.15MeV)和α发射体

国际标准化组织，关于表面 污染仪的标准

ISO 14644-10-2022 洁净室和相关受控环境.第10部分:化学污染表面清洁度的评定

ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则

ISO 8769-2020 放射性α、β和光子发射放射性核素的测量.表面污染监测器校准用参考测量标准规范

ISO 22551-2020 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）.室内照明环境下用半导体光催化材料测定细菌还原率.估算实际环境细菌污染表面抗菌活性的半干法

ISO 7503-2:2016 放射性测量 - 表面污染的测量和评估 - 第2部分:使用擦拭测试样品的测试方法

ISO 7503-1:2016 放射性测量 - 表面污染的测量和评估 - 第1部分:总则

ISO 8769:2016 参考资料来源 - 表面污染监测仪的校准 - Alpha β和光子发射器

ISO 8769-2016 标准放射源. 表面污染监测器的校准. α-, β-和光子发射体

ISO 8769-2016 标准放射源. 表面污染监测器的校准. α-, β-和光子发射体

ISO 7503-1-2016 放射性测量. 表面污染的测量和评价. 第1部分: 通用原则

ISO 7503-2-2016 放射性测量. 表面污染的测量和评价. 第2部分: 利用擦拭试验样品的试验方法

ISO 7503-3-2016 放射性测量. 表面污染的测量和评价. 第3部分: 仪器标定

ISO 14706-2014 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染

ISO 14706:2014 表面化学分析 - 通过全反射X射线荧光（TXRF）光谱测定硅晶片上的表面元素污染

ISO 8769-2010 对照源.表面污染监测仪的校准.α发射体,β发射体和光子发射体

ISO 14952-3:2003 空间系统——流体系统的表面清洁度SPART 3:测定非挥发性残留物和微粒污染的分析程序

ISO 14706-2000 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染

ISO 8769-2:1996 表面污染监测器校准用参考源.第2部分:能量小于0.15 MeV的电子和能量小于1.5 MeV的光子

ISO 7503-3-1996 表面污染评价 第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能β发射体(最大β能量小于0.15MeV)

ISO 8769-2-1996 校准表面污染监测仪的参考源 第2部分:能量小于0.15MeV的电子和能量小于1.5MeV的光子

ISO 7503-1-1988 表面污染评价 第1部分:β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体

ISO 7503-2-1988 表面污染评价 第2部分:氚表面污染

ISO 8769:1988 表面污染监测器校准用参考源.β发射器（最大β能量大于0.15 MeV）和α发射器

ISO 8769-1988 校准表面污染监测仪的参考源 β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体

，关于表面 污染仪的标准

MSZ 1891/3-1981 钢表面保护处理 污染检测，评定

MSZ MI 19391/2-1980 表面辐射型污染的检验，氚得污染测量

MSZ 1891/2-1980 钢表面保护准备．污染监测，评定

美国材料与试验协会，关于表面 污染仪的标准

ASTM E3283-21 评价去污技术用无孔试样表面松散放射性/替代污染的制备标准实施规程

ASTM E2101-15(2020) 使用平均型点测量减速度计测量冬季污染路面表面的摩擦特性的标准测试方法

ASTM F24-20 用于测量和计数表面颗粒污染的标准测试方法

ASTM E3190-19 净化技术评定用多孔试样表面固定放射性/替代污染制备的标准实施规程

ASTM F24-09(2015) 用于测量和计数表面颗粒污染的标准测试方法

ASTM E2101-15 使用平均型点测量减速度计测量冬季污染路面表面的摩擦特性的标准测试方法

ASTM E2967-15 使用刮水器评估预润湿毛巾去除和转移硬 非多孔环境表面细菌污染的能力的标准测试方法

ASTM E2967-2015 采用Wiperator评价去除和转移无孔硬质环境表面细菌污染的预湿湿纸巾能力的标准试验方法

ASTM E2101-14 使用平均型点测量减速度计测量冬季污染路面表面的摩擦特性的标准测试方法

ASTM F24-09 测量和计数表面微粒污染的标准方法

ASTM E1216-2006 用胶带提取法对表面微粒子污染取样的标准规程

ASTM E2414-2005 在受污染的载体表面测定液体、喷液、蒸气或气体的杀孢子效率的定量杀孢子三步法的标准试验方法

ASTM F24-04 测量和计数表面微粒污染的标准方法

ASTM F1240-01 根据防滑试验结果在污染的走道表面上排列鞋底材料的标准指南

ASTM F1240-89(1995)e1 根据防滑试验结果在污染的走道表面上排列鞋底材料的标准指南

ASTM F1724-96 用酸萃取原子吸收光谱法测量多晶硅表面金属污染的标准试验方法

ASTM E2101-00 使用平均型点测量减速度计测量冬季污染路面表面的摩擦特性的标准测试方法

ASTM F24-00 测量和计数表面微粒污染的标准方法

ASTM F24-2000 表面微粒污染的测量和计数标准方法

ASTM E1216-1999 用胶带提取法对表面微粒子污染取样的标准规程

ASTM E1216-1999(2005) 用胶带提取法对表面微粒子污染取样的标准规程

国家计量技术规范，关于表面 污染仪的标准

JJF 1762-2019 α、β表面污染仪型式评价大纲

德国标准化学会，关于表面 污染仪的标准

DIN ISO 7503-2-2017 放射性测量.表面污染的测量和评价.第2部分:利用擦拭试验样品的试验方法(ISO 7503-2-2016)

DIN ISO 7503-1-2017 放射性测量.表面污染的测量和评价.第1部分:通用原则(ISO 7503-1-2016)

DIN EN 16602-70-05-2015 航天产品保证. 使用红外光谱法检测有机污染表面; 英文版本EN 16602-70-05-2014

DIN 25415-2012 放射性污染表面.清除污染的解除检验和评价方法

DIN ISO 8769-2012 对照源.表面污染监测仪.α发射体,β发射体和光子发射体(ISO 8769-2010)

DIN VDE 0493-110-2010 辐射防护仪器.第110部分:安装人员表面污染监测集会的定期测试

DIN EN 61098-2008 辐射防护仪器仪表.固定式个人表面污染监测装置

DIN V 44801-10-1998 α,γ和β射线表面污染测量仪和监视仪.第10部分:α和β射线安装人员污染监视仪

DIN ISO 9271-1995 放射污染表面的清除.纺织物去污剂检验; 等同采用 ISO 9271:1992

DIN ISO 7503-1-1990 表面污染的评定.β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体

DIN ISO 7503-2-1990 表面污染评价.氚表面污染

DIN 25415-1-1988 放射性污染表面的清除污染.清除污染容易程度的检验和评价方法

DIN EN 61098-2017 辐射防护仪器. 安装的人员表面污染监测组件(IEC 45B / 874 / CD:2017)

国家计量检定规程，关于表面 污染仪的标准

JJG 478-2016 α、β表面污染仪

JJG 1102-2014 固定式α、β个人表面污染监测装置检定规程

JJG 478-1996 α、β和γ表面污染仪检定规程

JJG 2041-1989 测量α、β表面污染的计量器具检定系统

英国标准学会，关于表面 污染仪的标准

BS ISO 7503-1-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 通用原则

BS ISO 7503-1-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 通用原则

BS ISO 7503-3-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 仪器标定

BS ISO 8769-2016 对照源.表面污染监测仪的校准.α发射体,β发射体和光子发射体

BS ISO 7503-2-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 利用擦拭试验样品的试验方法

BS ISO 7503-3-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 仪器标定

BS ISO 8769-2016 对照源.表面污染监测仪的校准.α发射体,β发射体和光子发射体

BS ISO 7503-2-2016 放射性的测量. 表面污染的测量和评价. 利用擦拭试验样品的试验方法

BS EN 16602-70-05-2014 航天产品保证. 使用红外光谱法检测有机污染表面

BS ISO 8769-2010 对照源.表面污染监测仪的校准.α发射体,β发射体和光子发射体

BS EN 61098-2007 辐射防护仪器.固定式个人表面污染监测装置

BS EN 2003-009-2007 航空航天系列.试验方法.钛和钛合金.表面污染测定

BS 4247-1-1981 放射性区域用表面材料.第1部分:去污染系数的测量与计算方法

行业标准-核工业，关于表面 污染仪的标准

EJ/T 709-2014 固定式X和γ辐射个人表面污染监测装置

EJ/T 586-2014 固定式α和β辐射个人表面污染监测装置

EJ/T 709-1992 固定式低能X和γ发射体个人表面污染监测仪

EJ/T 586-1991 固定式个人表面污染a和b辐射监测装置

EJ/T 20031-2012 放射性厂房表面污染测量方法

欧洲标准化委员会，关于表面 污染仪的标准

EN 16602-70-05-2014 航空产品质量保证.用红外光谱法进行有机污染表面的探测

EN 16602-70-05-2014 航空产品质量保证.用红外光谱法进行有机污染表面的探测

EN 2003-009-2007 航空航天系列的试验方法.钛和钛合金.第009部分:表面污染测定

韩国标准，关于表面 污染仪的标准

KS A ISO 8769-2013 表面污染监察器校准用参考源.β发射器(最大β能量大于0.15MeV)和α发射器

KS A ISO 8769-2013 表面污染监察器校准用参考源.β发射器(最大β能量大于0.15MeV)和α发射器

KS A ISO 8769-3-2012 表面污染监视器校准用参考源.第3部分:α-.β-和光子发射体

KS A IEC 61098-2003 α和β放射体安装型个人表面污染监控装置

KS A IEC 61137-2003 放射线防护检测装置.安装型个人表面污染监控装置.地能量X线和γ放射体

KS A IEC 61137-2003 放射线防护检测装置.安装型个人表面污染监控装置.地能量X线和γ放射体

KS A IEC 61098-2003 α和β放射体安装型个人表面污染监控装置

KS A ISO 9271-2003 放射污染表面的清除.织物用污染去除剂试验

KS A ISO 8769-2-2003 表面污染监视器校准用参考源.第2部分:能量小于0.15MeV的电子和能量小于1.5MeV的光子

KS A ISO 7503-1-2003 表面污染的评估.第1部分:β发射器(最大β能量>0.15MeV)和α发射器

KS A ISO 7503-3-2003 表面污染的评估.第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射器、低能β发射器

KS A ISO 7503-3-2003 表面污染的评估.第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射器、低能β发射器

KS A ISO 9271-2003 放射污染表面的清除.织物用污染去除剂试验

KS A ISO 7503-2-2003 表面污染的评估.第2部分:氚的表面污染

KS A ISO 8769-2002 表面污染监察器校准用参考源.β发射器(最大β能量大于0.15MeV)和α发射器

KS A ISO 8769-2002 表面污染监察器校准用参考源.β发射器(最大β能量大于0.15MeV)和α发射器

KS A 4441-2001 放射性表面污染测量仪

KS A 4504-2001 放射性表面污染评估

KS A 4441-2001 放射性表面污染测量仪

KS A 4504-2001 放射性表面污染评估

KS A 4916-1994 放射线表面污染界校正用线源

KS A 4916-1994 放射线表面污染界校正用线源

美国国家标准学会，关于表面 污染仪的标准

ANSI N14.36-2013 包装和运输用辐射水平和表面污染测量

日本工业标准调查会，关于表面 污染仪的标准

JIS Z4337-2011 β发射体用安装物件表面污染监测组件

JIS Z4337-2011 β发射体用安装物件表面污染监测组件

JIS Z4504-2008 表面污染评估.β放射源(β能量最大值大于0.15MeV) 和α放射源

JIS Z4334-2005 表面污染监测器校正用参考源.β发射极(最大β能量大于0.15 MeV)和α发射极

JIS Z4329-2004 便携式放射性表面污染剂量器和监测仪

JIS Z4507-1995 发射性表面污染的污燃和除污燃指数的测试及计算方法

JIS Z4504-1993 放射性表面污染的评价

JIS Z4329-1993 便携式放射性表面污染测量计

JIS Z4334-1992 表面污染监测器校正用标准源

行业标准-航天，关于表面 污染仪的标准

QJ 20015-2011 航天器低温表面污染检测方法

QJ 2624-1994 卫星光学表面洁净度要求及污染清除

法国标准化协会，关于表面 污染仪的标准

NF M60-517-2010 参考源.表面污染监测仪的校准- α发射体,β发射体和光子发射体.

NF C19-106-2008 辐射防护装置.固定式个人表面污染监测装置

NF M60-517-2-1998 表面污染监测仪校准的参考辐射源.第2部分:能量低于0.15MEV的电子和能量低于1.5MEV的光子

NF M60-703-1998 表面污染的评估.第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射器，低能量β发射器(Eβ最大值不超过0,15MEV)

NF M60-701-1988 表面污染的评价.第1部分:β放射源(β能量最大值大于0.15MeV) 和α放射源

NF M60-702-1988 表面污染的评价.第2部分:氚表面污染

NF M60-517-1988 表面污染监测仪校正用标准源.β(β能量最大值大于0.15MeV) 和α放射源

印度尼西亚标准，关于表面 污染仪的标准

SNI ISO 7503.1-2008 表面污染的评估. 第1部分:β发射器(最大β能量大于0. 15MeV)和α发射器

(美国)福特汽车标准，关于表面 污染仪的标准

FORD FLTM BP 153-01-2006 聚合物和弹性体对涂覆表面的污染作用

FORD FLTM BZ 002-03-2001 冷轧钢表面的碳污染量的测定

国际电工委员会，关于表面 污染仪的标准

IEC 61098:2003 辐射防护仪表 - 安装人员表面污染监测组件

IEC 61098-2003 辐射防护仪器仪表.固定式个人表面污染监测装置

IEC 61137-1992 辐射防护仪表 固定式个人表面污染监测装置 低能X和γ射线发射体

欧洲航空工业协会，关于表面 污染仪的标准

AECMA PREN 2003-9-1996 航空航天系列.钛和钛合金试验方法.第9部分:表面污染的确定.P1版

AECMA PREN 2003-9-1994 航空航天系列.钛和钛合金试验方法.第9部分:表面污染的确定.P1版

欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于表面 污染仪的标准

ASD-STAN PREN 2003-9-1996 航空航天系列．钛和钛合金的试验方法．第9部分:表面污染的测定;第P1版