本专题涉及偏压仪的标准有22条。
国际标准分类中,偏压仪涉及到半导体分立器件、电子元器件综合、航空航天制造用材料、工业自动化系统、电工和电子试验、道路车辆内燃机、环境试验、电工器件。
在中国标准分类中,偏压仪涉及到半导体分立器件、可靠性和可维护性、电子元件综合、航空与航天用非金属材料、调节仪表、润滑、冷却系统与加热装置。
JEDEC JEP184-2021 电力电子转换用碳化硅金属氧化物半导体器件偏压温度不稳定性评估指南
JEDEC JESD90-2004 为测量P路 MOSFET负偏压温度不稳定性的规程
STAS 626-1980 客车和旅行车的轮胎.偏压轮胎 高位胎低断面轮胎.服务条件的尺寸和参数
STAS 626/3-1971 客车和旅行车的轮胎.偏压超低断面轮胎.基本尺寸和负载
IEC 62373-1-2020 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏压温度稳定性试验.第1部分:MOSFET的快速BTI试验
IEC 62373-1:2020 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏压温度稳定性试验.第1部分:MOSFET的快速BTI试验
ASTM F1190-1999 未加偏压的电子元件的中子照射标准指南
ASTM F1190-1999(2005) 未加偏压的电子元件的中子照射标准指南
ASTM F1190-1993 未加偏压的电子元件的中子照射标准指南
SAE AMS 3716C-1998 核心,蜂窝,玻璃/酚醛偏压编织纤维结构
ARMY MIL-PRF-49176 B-1997 CN-1503/UA型偏压调节器
ARMY MIL-PRF-49404 A-1997 CN-1559/UA型偏压调节器
CNS 13781-1996 自动控制用红外发光二极管耐久性试验法–预烧试验(顺向偏压)
CNS 13089-1992 发光二极管大型灯(户外显示用)耐久性试验法–预烧试验(顺向偏压)
CNS 5545-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–晶体管高温逆向偏压试验
CNS 5540-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–电压可变电容量二极管高温逆向偏压试验
CNS 5546-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–场效晶体管高温逆向偏压试验
NF R15-602-9-1991 道路车辆.冷却液.试验方法.第9部分:防腐蚀性能的测定.抗偏压电阻方法
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