通道氧化物检测

本专题涉及通道氧化物的标准有11条。

国际标准分类中，通道氧化物涉及到集成电路、微电子学、电工器件。

在中国标准分类中，通道氧化物涉及到半导体集成电路、连接器、计算机应用。

美国国防后勤局，关于通道氧化物的标准

DLA SMD-5962-84093 REV F-2006 硅单片双重4通道多路复用器,高速氧化物半导体数字微型电路

DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 硅单片,装有4位ID总线的扫描通道连接器,氧化物半导体数字微型电路

DLA SMD-5962-88576 REV A-2005 硅单片双4输入和通道超速互补型金属氧化物半导体数字微电路

DLA SMD-5962-77052 REV L-2005 硅单片8通道正逻辑多路复用器/信号分离器,氧化物半导体数字微型电路

DLA SMD-5962-81018 REV H-2005 硅单片三重2通道模拟多路复用器/信息分离器,氧化物半导体数字微型电路

DLA SMD-5962-79015 REV J-2005 硅单片差速4通道模拟多路复用器/信息分离器,氧化物半导体数字微型电路

DLA SMD-5962-89710 REV C-2004 硅单片,锁存的8及16通道模拟多路复用器,氧化物半导体数字微型电路

DLA SMD-5962-89547 REV F-2004 硅单片TTL兼容输入四方双输入与通道互补型金属氧化物半导体促进数字微电路

DLA SMD-5962-89550 REV E-2003 硅单片四方2输入独占或通道互补型金属氧化物半导体促进数字微电路

DLA SMD-5962-88574 REV A-1994 硅单片H互补型金属氧化物半导体8位输入或无通道数字微电路

DLA SMD-5962-88699-1988 16通道/差分8通道互补型金属氧化物半导体模拟复用器线性微电路