本专题涉及电子 样品的标准有33条。
国际标准分类中,电子 样品涉及到试验条件和规程综合、电学、磁学、电和磁的测量、分析化学、光学设备、光学和光学测量、电子显示器件、电子元器件综合。
在中国标准分类中,电子 样品涉及到基础标准与通用方法、综合测试系统、电化学、热化学、光学式分析仪器、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、综合技术、电子元件综合、化学、标准化、质量管理。
GB/T 4930-2021 微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则
GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
GB/T 4930-2008 微束分析.电子探针分析.标准样品技术条件导则
GB/Z 20288-2006 电子电气产品中有害物质检测样品拆分通用要求
GB/T 17365-1998 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法
GB/T 4930-1993 电子探针分析标准样品通用技术条件
ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM D5015-2015 采用电子测定法的大气湿沉积样品PH值的标准试验方法
ASTM E1217-11 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E1217-2011 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
ASTM E1217-05 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E1217-2005 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
ASTM E1217-00 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E1217-2000 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
UNE 20-501 Pt.2-51-1986 电子装置机器组件.气候和机械稳固性的基础试验.试验Z/BFc:发热和不发热样品的干热/振动(正弦)组合试验
UNE 20-501 Pt.2-50-1986 电子装置机器组件.气候和机械稳固性的基础试验. Z/Afc试验:发热和不发热样品的干热/振动(正弦)组合试验
SJ/T 11692-2017 电子电气产品限用物质检测样品拆分指南
SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
BS ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
BS ISO 22489-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
ISO 22489-2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.用分析仪观察横向分辨率 分析面积和样品面积的测定
KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
NF X21-006-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
AS ISO 19319-2006 表面化学分析.Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法.分析员对横向分辨率;分析区域和样品区域的目视检测
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