本专题涉及质谱测量的标准有53条。
国际标准分类中,质谱测量涉及到分析化学、半导体材料、管道部件和管道、有机化学、有色金属、食用油和脂肪、含油种子、空气质量、计量学和测量综合、核能工程、水质、真空技术、辐射测量、废物、饮料。
在中国标准分类中,质谱测量涉及到化学、元素半导体材料、核材料、核燃料及其分析试验方法、油脂加工与制品、环境监测仪器及其成套装置、基础标准与通用方法、水环境有毒害物质分析方法、化学试剂综合、真空技术与设备、半金属与半导体材料综合、辐射防护监测与评价、医用射线设备、医用化验设备、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、基础标准与通用方法、果类加工与制品、制糖与糖制品综合、同位素与放射源综合。
GB/T 38261-2019 纳米技术 生物样品中银含量测量 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
ASTM E1603/E1603M-11(2022) 在罩模式下使用质谱检漏仪或残余气体分析仪进行泄漏测量的标准实施规程
ASTM D5790-18 用毛细管柱气相色谱/质谱法测量水中可净化有机化合物的标准试验方法
ASTM E1603/E1603M-11(2017) 使用质谱检漏仪或残留气体分析仪进行泄漏测量的标准实践
ASTM D7439-14 使用电感耦合等离子体质谱法测量大气颗粒物中元素的标准试验方法
ASTM E1603/E1603M-11 用罩式质谱探漏仪或残余气体分析仪作检漏测量的标准试验方法
ASTM E2426-10 通过用次级离子质谱法测量同位素比率对脉冲计算系统死时间测定的标准实施规程
ASTM E1438-06 用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南
ASTM C1614-05(2010) 通过电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)和伽马射线能谱测量法测定尿样中237 核蛋白,232 酪氨酸羟化酶,235 铀和238铀含量的标准操作规程
ASTM C1310-01 使用流体喷射预集中的感应耦合等离子体质谱测量法测定土壤中放射性核素的标准试验方法
ASTM C1310-01(2007) 使用流体喷射预集中的感应耦合等离子体质谱测量法测定土壤中放射性核素的标准试验方法
ASTM E1603-99 用罩式质谱探漏仪或残余气体分析仪作检漏测量的标准试验方法
ASTM E1603-99(2006) 用罩式质谱探漏仪或残余气体分析仪作检漏测量的标准试验方法
ASTM D5790-95 用毛细管柱气体色谱/质谱法测量水中可清除有机化合物的标准试验方法
ASTM D5790-95(2012) 利用毛细管柱气体色谱/质谱法测量水中可清除有机化合物的标准试验方法
ASTM D5790-95(2001) 用毛细管柱气体色谱/质谱法测量水中可清除有机化合物的标准试验方法
ASTM D5790-95(2006) 用毛细管柱气体色谱/质谱法测量水中可清除有机化合物的标准试验方法
ASTM C1310-95 使用流体喷射预集中的感应耦合等离子体质谱测量法测定土壤中放射性核素的标准试验方法
ASTM E1438-91(1996) 用次级离子质谱法(SIMS)测量溅射深度成形界面的宽度
ASTM E1438-91(2001) 用次级离子质谱法(SIMS)测量溅射深度成形界面的宽度
ISO/TS 22933:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
ISO 18363-1:2015 动植物油脂. 采用气相色谱/质谱联用法 (GC/MS) 测定脂肪酸氯丙醇 (MCPD) 和缩水甘油. 第1部分: 采用快速碱酯交换和测量法测定三氯丙二醇和用差分测量法测定缩水甘油
ISO 26062:2010 核技术.核燃料.使用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基础材料中杂质元素的规程
ISO 17858:2007 水质.测定类似二氧(杂)芑的多氯联苯.使用气相色谱/质谱测量法
EJ/T 20150.27-2018 压水堆棒束型燃料组件辐照后检查 第27部分:燃料棒绝对燃耗测量 质谱法
EJ/T 842-1994 锌同位素比值和含锌量测量双稀释质谱法
STAS SR 12271-18-1996 二氧化铀.质谱测量铀同位素分析
BS ISO 18363-1:2015 动植物油脂. 采用气相色谱/质谱联用法 (GC/MS) 测定脂肪酸氯丙醇 (MCPD) 和缩水甘油. 采用快速碱酯交换和测量法测定三氯丙二醇和用差分测量法测定缩水甘油
BS ISO 26062:2010 核工艺学.核燃料.用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基材料中元素状态杂质的规程.
BS ISO 17858:2007 水质.二恶英类多氯联苯的测定.用气相色谱分析/质谱测量的方法
BS DD ENV 12142-1997 利用等离子比质谱测量法测定果汁水中稳定氢等离子比(UP2H/UP1H)的方法
BS DD ENV 12141-1997 利用等离子比质谱测量法测定果汁中水的稳定氧等离子比(UP1UP8O/UP1UP6O)的方法
BS DD ENV 12140-1997 利用等离子比质谱测量法测定果汁中糖的稳定碳等离子比(UP1UP3C/UP1UP2C)的方法
SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
NF M60-469-2010 核工艺学.核燃料.用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基材料中元素状态杂质的程序.
NF M60-805-4-2005 核能.环境放射性测量.水.第4部分:水中用感应耦合等离子体质谱探测法测量铀
KS I ISO 17858:2009 水质.测定类似二氧(杂)芑的多氯联苯.使用气相色谱/质谱测量法
KS M 1075-2008 陶瓷粉末中有机锡化合物(MBT、DBT、TBT)含量测量方法.气相色谱/质谱法
DIN V ENV 13070-1998 果汁和蔬菜汁.水果汁中果肉里面稳定碳同位素比例(<(hoch)13>C/<(hoch)12>C)的测定.使用同位素比例-质谱测量的方法
AS ISO 17560:2006 表面化学分析.次级离子质谱测量法.硅中注入硼的深度分布分析法
AS ISO 14237:2006 表面化学分析.次级离子质谱测量法.使用均一的绝缘材料测定硅中的硼原子浓度
AS ISO 22048:2006 表面化学分析.静止次级离子质谱测量法用信息格式
前沿科学
微信公众号
中析研究所
抖音
中析研究所
微信公众号
中析研究所
快手
中析研究所
微视频
中析研究所
小红书