当前位置: 首页 > 检测项目 > 其他
光学测量系统检测

光学测量系统检测

发布时间:2025-09-18 00:00:00

中析研究所涉及专项的性能实验室,在光学测量系统检测服务领域已有多年经验,可出具CMA和CNAS资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

本专题涉及光学测量系统的标准有172条。

国际标准分类中,光学测量系统涉及到光学设备、光学和光学测量、金属材料试验、光纤通信、词汇、医疗设备、摄影技术、造船和海上构筑物综合、长度和角度测量、计量学和测量综合、分析化学、精密机械、半导体分立器件、光电子学、激光设备、航空航天用电气设备和系统、机上设备和仪器、残障人员用设备。

在中国标准分类中,光学测量系统涉及到光学仪器综合、光通信设备、光学测试仪器、其他日用品、光学设备、光学计量、金属力学性能试验方法、基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、物理学与力学、光电子器件综合、电子元器件、导航通讯系统与设备、黑色金属矿综合、、半导体发光器件。


国家质检总局,关于光学测量系统的标准

GB/T 10988-2009 光学系统杂(散)光测量方法

GB/T 10988-1989 光学系统杂(散)光测量方法

国际标准化组织,关于光学测量系统的标准

ISO 16808-2022 金属材料.薄板和带材.用光学测量系统通过膨胀试验测定双轴应力应变曲线

ISO 10360-13:2021 产品几何技术规范(GPS).坐标测量系统(CMS)的验收和再验证试验.第13部分:光学3D CMS

ISO 8624-2020 眼科光学.眼镜架.测量系统和词汇(ISO 8624-2020)

ISO 20954-1-2019 数码相机.图像稳定性能的测量方法.第1部分:光学系统

ISO/TR 14999-2-2019 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术

ISO 20083-2-2019 船舶和航海技术.通过测量轴变形测定船舶推进系统的轴功率.第2部分:光学反射法

ISO/TR 21477-2017 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统

ISO 14999-4-2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定

ISO 8624 AMD 1-2015 眼科光学.眼镜架.测量系统与术语;修改件1

ISO 8624-2011/Amd 1-2015 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语.修改件1

ISO 14999-4:2015 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第4部分:ISO 10110中规定的公差的解释和评估

ISO 17123-8:2015 光学和光学仪器 测量大地测量和测量仪器的现场程序 第8部分 实时动态(RTK)GNSS现场测量系统

ISO 17123-8-2015 光学和光学仪器.大地测量和地质勘测仪器的现场试验程序.第8部分:实时动态差分(RTK)的GNSS现场测量系统

ISO 16808-2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线

ISO 16808:2014 金属材料 - 板材和带材 - 通过光学测量系统的凸起测试确定双轴应力 - 应变曲线

ISO 10360-8-2013 几何产品规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第8部分: 带光学距离传感器的CMM

ISO 10360-8:2013 几何产品规范(GPS)——坐标测量系统(CMS)的验收和再鉴定试验第8部分:带光学距离传感器的CMM

ISO 8624-2011 眼科光学.眼镜架.测量系统与术语

ISO 8624:2011 眼科光学——眼镜架——测量系统和术语

ISO 15529-2010 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理

ISO 15529:2010 光学与光子学——光学传递函数——采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理

ISO 17123-8-2007 光学和光学仪器.大地测量和地质勘测仪器的现场试验程序.第8部分:实时动态差分(RTK)的GNSS现场测量系统

ISO 15529:2007 光学和光子学.光学传递函数.取样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理

ISO 15529-2007 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理

ISO 14999-4-2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定

ISO/TR 14999-3:2005 光学与光子学——光学元件和光学系统的干涉测量SPART 3:干涉测量测试设备和测量的校准和验证

ISO/TR 14999-2:2005 光学与光子学——光学元件和光学系统的干涉测量SPART 2:测量和评估技术

ISO/TR 14999-1:2005 光学与光子学——光学元件和光学系统的干涉测量SPART 1:术语、定义和基本关系

ISO/TR 14999-3-2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证

ISO/TR 14999-1-2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系

ISO/TR 14999-2-2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术

ISO 8624:2002 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语

ISO 8624-2002 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语

ISO 15529:1999 光学和光学仪器.光学传递函数.取样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理

ISO 15529-1999 光学和光学仪器 光的传递函数 成像系统调制传递函数的测量原理

ISO 9358:1994 光学和光学仪器——图像形成系统的遮蔽眩光——定义和测量方法

ISO 9358-1994 光学和光学仪器 成像系统杂散光 定义及测量方法

ISO 8624:1991 光学和光学仪器.眼科光学.眼镜架的测量系统

国家计量技术规范,关于光学测量系统的标准

JJF 1951-2021 基于结构光扫描的光学三维测量系统校准规范

法国标准化协会,关于光学测量系统的标准

NF C93-807-2-8-2021 纤维光学通信子系统试验程序. 第2-8部分: 数字系统. 使用Q-因子测量法测定低BER

NF S11-520/A1-2015 眼科光学. 眼镜架. 测量系统和术语. 修改件1

NF A03-005-2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线

NF S10-050-2011 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MIF)的测量原理.

NF S11-520-2011 眼科光学.眼镜框架.测量系统和术语

NF C93-807-2-9-2009 光纤通信子系统试验程序.第2-9部分:数字系统.密集型波长区分复用系统光学信噪比的测量

NF C93-807-2-2-2008 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图形、波形和消光系数测量

NF S10-009-4-2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定

NF L50-210-002-2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第002部分:试验和测量

NF C93-807-2-10-2006 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分:数字系统.测量激光发射器的时间分辨激光波长变化和α因子

NF C93-807-2-2-2005 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图波形和消光比测量

NF C93-807-2-8-2004 纤维光学通信子系统试验程序.数字系统.第2-8部分:使用Q-因子测量法测定低BER

NF S10-043-1998 光学和光学仪器.成像系统的黑化闪光.定义和测量方法

德国标准化学会,关于光学测量系统的标准

DIN EN ISO 8624-2020 眼科光学. 眼镜架. 测量系统和词汇(ISO 8624-2020); 德文版 EN ISO 8624-2020

DIN ISO 14999-4-2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)

DIN EN ISO 8624-2015 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语(ISO 8624-2011+Amd.1-2015).德文版本EN ISO 8624-2011+A1-2015

DIN EN ISO 16808-2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线 (ISO 16808-2014); 德文版本EN ISO 16808-2014

DIN 32567-3-2014 微型系统生产设备. 材料对光学和触觉尺寸测量的影响的测定. 第3部分: 触觉测量设备校正值的推导

DIN 32567-2-2014 微型系统生产设备. 材料对光学和触觉尺寸测量的影响的测定. 第2部分: 触觉程序样本

DIN EN ISO 10360-8-2014 几何产品技术规范 (GPS). 坐标测量系统 (CMS) 的验收试验和复检试验. 第8部分:带光学距离传感器的坐标测量系统 (CMS) (ISO 10360-8-2013); 德文版本EN ISO 10360-8-2013

DIN EN 61280-2-2-2013 纤维光学通信子系统试验程序. 第2-2部分: 数字系统. 光眼图, 波形和消光比测量(IEC 61280-2-2-2012); 德文版本EN 61280-2-2-2012

DIN EN ISO 8624-2011 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语(ISO 8624-2011).德文版本EN ISO 8624-2011

DIN ISO 15529-2010 光学和光子学.光学传递函数.采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理(ISO 15529-2010)

DIN EN 62150-4-2010 光学纤维有源元件和器件.试验和测量方法.第4部分:采用时域光学探测系统的相对强度噪声(IEC 62150-4-2009).德文版本EN 62150-4-2010

DIN EN 61280-2-3-2010 纤维光学通信子系统基本试验程序.第2-3部分:数字系统.抖动和漂移的测量(IEC 61280-2-3-2009); 德文版本 EN 61280-2-3-2009

DIN EN 61280-2-9-2009 光学纤维通讯子系统测试程序.第2-9部分:数字系统.密集波分复用系统光学纤维信噪比率的测量

DIN ISO 14999-4-2008 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2007).英文版本DIN ISO 14999-4-2008

DIN EN 4533-002-2008 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第002部分:试验和测量

DIN EN 61280-2-10-2006 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分:数字系统.激光发射机的时间分辨线性调频脉冲和α因数测量(IEC 61280-2-10-2005).德文版本EN 61280-2-10-2005

DIN EN 61280-2-8-2004 纤维光学通信子系统试验程序.数字系统.第2-8部分:用品质因数测量法测定低位错率

DIN ISO 10109-7-2002 光学和光学仪器.环境要求.第7部分:光学测量系统的试验要求 (ISO 10109-7:2001)

DIN EN ISO 8624-2002 眼科光学.眼镜框.测量系统和术语 (ISO 8624:2002); 德文版本 EN ISO 8624:2002

DIN EN 61280-2-5-1999 纤维光学通信子系统基本试验程序.第2-5部分:数字系统试验程序.抖动转移功能的测量

美国材料与试验协会,关于光学测量系统的标准

ASTM E2208-02(2018)e1 评估非接触式光学应变测量系统的标准指南

ASTM E3124-17 用于测量六自由度(6DOF)姿态的光学跟踪系统的系统等待时间性能的标准测试方法

ASTM E3124-2017 测量六自由度(6DOF)姿势的光学跟踪系统的系统延迟性能的标准试验方法

ASTM E3064-2016 测量六自由度 (6DOF) 布局的光学跟踪系统评估标准试验方法

ASTM E2208-02(2010)e1 评估非接触式光学应变测量系统的标准指南

ASTM E2208-02(2010) 评估非接触式光学应变测量系统的标准指南

ASTM E2208-02 评估非接触式光学应变测量系统的标准指南

ASTM E2208-2002 评价非接触式光学应变测量系统的标准指南

ASTM E2208-2002(2010)e1 非接触式光学应变测量系统评价的标准指南

ASTM E2208-2002(2010) 评估非接触式光学应变测量系统的标准指南

,关于光学测量系统的标准

STAS SR ISO 8624-1993 光学和光学仪器.眼镜光学.眼镜框测量系统

英国标准学会,关于光学测量系统的标准

BS ISO 14999-4-2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定

BS ISO 14999-4-2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定

BS ISO 17123-8-2015 光学和光学仪器. 测地与勘测仪器的现场程序. 实时动态 (RTK) 的GNSS现场测量系统

BS ISO 17123-8-2015 光学和光学仪器. 测地与勘测仪器的现场程序. 实时动态 (RTK) 的GNSS现场测量系统

BS EN ISO 16808-2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线

BS EN ISO 16808-2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线

BS EN 61280-2-12-2014 纤维光学通信子系统试验程序. 数字系统. 为进行传输信号质量评估而采用软件触发技术测量眼图和Q因子

BS EN 61280-2-12-2014 纤维光学通信子系统试验程序. 数字系统. 为进行传输信号质量评估而采用软件触发技术测量眼图和Q因子

BS EN ISO 10360-8-2013 几何产品技术规范 (GPS). 坐标测量系统 (CMS) 的验收试验和复检试验. 带光学距离传感器的坐标测量系统 (CMS)

BS EN 61280-2-2-2012 纤维光学通信子系统试验规程.数字系统.光眼图、波形和消光比的测量

BS EN ISO 8624-2011 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语

BS ISO 15529-2010 光学和光学仪器.光学传递函数.样品成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理

BS ISO 15529-2010 光学和光学仪器.光学传递函数.样品成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理

BS EN 61280-2-9-2009 光纤通信子系统的测试程序.第2-9部分:数字系统.密集波分多路系统光学信噪比的测量

BS ISO 14999-4-2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定

BS EN 4533-002-2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.试验和测量

BS EN 61280-2-10-2005 纤维光学通信子系统试验规程.数字系统.激光发射器的时间分辨线性调频脉冲和α指数测量

BS DD IEC/PAS 61280-2-10-2003 纤维光学通信子系统试验程序.数字系统.激光发射机的时间分辨线性调频脉冲和α因数测量

BS EN 61280-2-9-2003 光纤通信子系统基本试验程序.数字系统试验规程.密集波长分割复用系统用光学信噪比的测量

BS EN 61280-2-9-2002 光纤通信子系统基本试验程序.数字系统试验规程.密集波长分割复用系统用光学信噪比的测量

BS ISO 9358-1995 光学和光学仪器.图像成形系统遮盖眩光.定义和测量方法

BS 4995-1973 透镜及光学系统面纱眩光指数测量推荐标准

国际电工委员会,关于光学测量系统的标准

IEC 61280-2-2 CORR 1-2015 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量;勘误1

IEC 61280-2-2 Corrigendum 1-2015 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量;勘误1

IEC 61280-2-12-2014 纤维光学通信子系统试验程序. 第2-12部分: 数字系统. 为进行传输信号质量评估而采用软件触发技术测量眼图和Q因子

IEC 61280-2-2:2012 光纤通信子系统测试程序 - 第2-2部分:数字系统 - 光学眼图 波形和消光比测量

IEC 61280-2-2-2012 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量

IEC 61280-2-1-2010 纤维光学通信子系统试验程序.第2-1部分:数字系统.接收器灵敏度和过载测量

IEC 62007-2 Edition 2.0-2009 纤维光学系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

IEC 61280-2-2-2008 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量

IEC 61280-2-10-2005 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分:数字系统.激光发射器的时间分辨线性调频脉冲和α指数测量

IEC 61280-2-2-2005 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量

IEC/PAS 61280-2-10-2003 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分: 数字系统.激光发射机的时间分辨线性调频脉冲和α因数测量

IEC 62007-2 Edition 1.1-1999 纤维光学系统用半导体光电器件 第2部分:测量方法

IEC 61280-2-1-1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-1部分:数字系统试验程序 接收器灵敏度和过载测量

IEC 61280-2-4-1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-4部分:数字系统试验程序 比特率容差测量

IEC 61280-2-5-1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-5部分:数字系统试验程序 抖动转移功能测量

欧洲标准化委员会,关于光学测量系统的标准

EN ISO 16808-2014 金属材料.薄板和薄带.双向应力应变曲线的测定与光学测量系统膨胀试验方法(ISO 16808:2014)

EN ISO 10360-8-2013 产品几何技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和重新验证试验.第8部分:带光学距离传感器的坐标测量系统 (CMS)

EN ISO 8624-2011 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语

EN 4533-002-2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第002部分:试验和测量

EN 61280-2-2-2005 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比测量

EN ISO 8624-2002 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语 ISO 8624-2002

韩国标准,关于光学测量系统的标准

KS B ISO 15529-2011 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理

KS B ISO 15529-2011 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理

KS G ISO 8624-2011 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语

KS B ISO 14999-4-2011 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定

KS B ISO 14999-4-2011 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定

KS B ISO 9358-2006 光学和光学仪器.成像系统杂散光.定义及测量方法

KS B ISO 9358-2006 光学和光学仪器.成像系统杂散光.定义及测量方法

日本工业标准调查会,关于光学测量系统的标准

JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义

JIS C61280-2-9-2010 纤维光学通信子系统试验程序.密集波长区分多层系统用光信号对噪音比率测量

JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义

JIS C61280-2-9-2010 纤维光学通信子系统试验程序.密集波长区分多层系统用光信号对噪音比率测量

JIS B7281-2003 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语

美国电信工业协会,关于光学测量系统的标准

TIA-455-235-2004 FOTP-235 IEC 61280-2-8纤维光学通信子系统试验过程.数字系统.第2-8部分:使用Q-因子测量法测定低BER

TIA/EIA-526-19-2000 OFSTP-19.密集波长分区多路复用系统的光学信噪比测量程序

美国国家标准学会,关于光学测量系统的标准

ANSI/TIA-455-236-2004 FOTP236.IEC 61280-2-9.纤维光学通信子系统试验过程.第2-6部分:数字系统.密集波分多路复用系统的光学信噪比测量

ANSI/TIA-455-235-2004 FOTP235.IEC 61280-2-8纤维光学通信子系统试验过程.数字系统.第2-8部分:使用Q-因子测量法测定低BER

检测资质
CMA认证

CMA认证

CNAS认证

CNAS认证

合作客户
长安大学
中科院
北京航空航天
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
快捷导航
在线下达委托
在线下达委托
在线咨询 咨询标准
400-640-9567
最新检测
2026-02-27 15:35:50
2026-02-27 15:34:22
2026-02-27 15:32:34
2026-02-27 15:30:48
2026-02-27 15:28:20
2026-02-27 15:26:10
2026-02-27 15:24:11
2026-02-27 15:22:35
2026-02-27 15:20:59
2026-02-27 15:19:02
联系我们
联系中析研究所
  • 服务热线:400-640-9567
  • 投诉电话:010-82491398
  • 企业邮箱:010@yjsyi.com
  • 地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
  • 山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
前沿科学公众号 前沿科学 微信公众号
中析抖音 中析研究所 抖音
中析公众号 中析研究所 微信公众号
中析快手 中析研究所 快手
中析微视频 中析研究所 微视频
中析小红书 中析研究所 小红书
中析研究所
北京中科光析科学技术研究所 版权所有 | 京ICP备15067471号-33
-->