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掺杂检测

掺杂检测

发布时间:2025-09-18 00:00:00

中析研究所涉及专项的性能实验室,在掺杂检测服务领域已有多年经验,可出具CMA和CNAS资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

本专题涉及掺杂的标准有70条。

国际标准分类中,掺杂涉及到半导体材料、分析化学、绝缘流体、黑色金属、工业自动化系统、光电子学、激光设备、有色金属、有色金属产品、玻璃、光学和光学测量、核能工程、光纤通信、化工产品、实验室医学、航空航天用电气设备和系统、表面处理和镀涂、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程。

在中国标准分类中,掺杂涉及到林产化工原料、半金属与半导体材料综合、电子光学与其他物理光学仪器、金属物理性能试验方法、半导体分立器件综合、稀有高熔点金属及其合金、、、稀土金属及其合金、重金属及其合金、、、、、重金属及其合金分析方法、基础标准与通用方法、金属与合金粉末、光通信设备、金属化学分析方法综合、化学、工业气体与化学气体、基础标准与通用方法、机械配件、构件、电子技术专用材料、轻金属及其合金、地基、基础工程、肥料与土壤调理剂、元素半导体材料。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于掺杂的标准

GB/T 33028-2016 松脂中工业盐掺杂物鉴别方法

GB/T 33025-2016 松脂掺杂评估方法

GB/T 33030-2016 松脂中淀粉类掺杂物鉴别方法

国家质检总局,关于掺杂的标准

GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程

GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

GB/T 20176-2006 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

GB/T 17170-1997 非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法

GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

GB/T 13389-1992 掺硼碜磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程

GB/T 4190-1984 掺杂钼条

GB/T 4189-1984 掺杂钨条

中国团体标准,关于掺杂的标准

T/GDMES 0036-2022 高效光伏电池激光掺杂设备

T/REIANM 0202-2022 激光照明用铈掺杂石榴石结构铝酸盐荧光陶瓷

T/SDG 002-2020 中空玻璃用干燥剂中掺杂物(氯化钙、氧化钙)检出的试验方法

T/GDCKCJH 027-2020 稀土掺杂激光玻璃光吸收和荧光特性测试方法

T/CSTM 00035-2020 铈掺杂硅酸钇闪烁晶体

T/CSTM 00032-2020 铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列

T/CSTM 00036-2020 铈掺杂铝镓酸钆闪烁晶体

工业和信息化部,关于掺杂的标准

XB/T 520-2021 铈掺杂钆镓铝石榴石多晶闪烁体

YS/T 1441-2021 掺杂型四氧化三钴

YS/T 1339-2019 掺杂型镍钴锰三元素复合氢氧化物化学分析方法 铝、镁、钛、锶、锆、镧、钇含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

英国标准学会,关于掺杂的标准

BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准

BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准

BS PD IEC/TR 62627-03-03-2013 纤维光学互连器件和无源元件. 可靠性. 掺杂金属光纤插头样式光学衰减器的高功率可靠性报告

BS ISO 14237-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

BS ISO 14237-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

国际标准化组织,关于掺杂的标准

ISO 13083:2015 表面化学分析.扫描探针显微镜.用于2D掺杂成像和其他目的的电扫描探针显微镜(ESPM)的空间分辨率定义和校准标准 如SSRM和SCM

ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准

ISO 14237:2010 表面化学分析——二次离子质谱法——用均匀掺杂材料测定硅中硼原子浓度

ISO 14237-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

ISO 14237:2000 表面化学分析.二次离子质谱法.使用均匀掺杂材料测定硅中的硼原子浓度

ISO 14237-2000 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度

ISO/PAS 18873-1999 掺杂控制的国际协议

行业标准-有色金属,关于掺杂的标准

YS/T 1087-2015 掺杂型镍钴锰三元素复合氢氧化物

,关于掺杂的标准

INDITECNOR 23-59ch-1956 食用植物油:对带染料和带动物油或者矿物油的掺杂进行测量

INDITECNOR 23-62ch-1956 橄榄油:针对是否掺杂着其他类型油或者色料的检验方法

国际电工委员会,关于掺杂的标准

IEC TR 62627-03-03-2013 纤维光学互连器件和无源元件第03-03部分:可靠性金属掺杂光纤插塞式光衰减器的高功率可靠性报告

IEC TR 62627-03-03:2013 纤维光学互连器件和无源元件第03-03部分:可靠性金属掺杂光纤插塞式光衰减器的高功率可靠性报告

IEC/TR 62627-03-03-2013 光导互联装置和无源部件.第03-03部分:可靠性.掺杂金属光纤插头样式光学衰减器的高功率可靠性报告

行业标准-建材,关于掺杂的标准

JC/T 2132-2012 钛酸锶钡中掺杂元素和微量元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

法国标准化协会,关于掺杂的标准

NF X21-070-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度.

NF P94-242-1-1993 掺杂法土壤加固.拔钉法.恒定位移速率试验

NF P94-210-1992 掺杂法土壤加固.总则和术语

美国材料与试验协会,关于掺杂的标准

ASTM E1438-2006 用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南

ASTM F1594-1995(2011) 真空镀膜用纯铝(未掺杂质)原材料标准规范

ASTM F1594-1995(2003) 真空镀膜用纯铝(未掺杂质)原材料标准规范

ASTM F1366-92(1997)e1 用二次离子质谱法测量重掺杂硅衬底中氧浓度的标准试验方法

ASTM F1366-1992(1997)e1 用次级离子质谱仪测量重掺杂硅基底中氧含量的测试方法

韩国标准,关于掺杂的标准

KS D ISO 14237-2003 表面化学分析.次级离子质谱法.使用非均一掺杂材料的硅中硼原子的浓度测定

KS D ISO 14237-2003 表面化学分析.次级离子质谱法.使用非均一掺杂材料的硅中硼原子的浓度测定

德国标准化学会,关于掺杂的标准

DIN 50450-9-2003 半导体工艺材料测试.载气和掺杂气体杂质测定.第9部分:用气相色谱法测定气态氯化氢中氧、氮、一氧化碳、二氧化碳、氢和C<下标1>-C<下标3>-烃类含量

DIN 50450-4-1993 半导体工艺材料的检验.运载气体和掺杂剂气体中杂质的测定.用气相色谱法测定氮气中C1-C3烃类化合物

DIN 50445-1992 半导体工艺材料检验.用涡流法无接触测定电阻率.均匀掺杂半导体片

DIN 50439-1982 半导体技术材料的试验.用电容--电压法和水银接点确定单晶层半导体材料中掺杂剂的浓度分布曲线

日本工业标准调查会,关于掺杂的标准

JIS K0143-2000 表面化学分析.次级离子质谱法.利用均匀掺杂材料测定硅中硼原子浓度

(美国)海军,关于掺杂的标准

NAVY MIL-P-24377 A NOTICE 2-1998 润滑表面掺杂聚四氟乙烯,石棉编绳组装材料

NAVY MIL-P-24377 A VALID NOTICE 1-1988 润滑表面掺杂聚四氟乙烯,石棉编绳组装材料

NAVY MIL-P-24377 A-1982 润滑表面掺杂聚四氟乙烯,石棉编绳组装材料

行业标准-农业,关于掺杂的标准

香港规例第132V章 食物掺杂(金属杂质含量)规例

行业标准-林业,关于掺杂的标准

LY/T 2561-2015 松脂中工业盐掺杂物鉴别方法

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