本专题涉及光谱杂质的标准有43条。
国际标准分类中，光谱杂质涉及到金属材料试验、有色金属、半导体材料、核能工程、农用建筑物、结构和装置、与食品接触的物品与材料、陶瓷、有色金属产品、非金属矿、机化学。
在中国标准分类中，光谱杂质涉及到半金属及半导体材料分析方法、轻金属及其合金分析方法、半金属与半导体材料综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、、食品卫生、金属损检验方法、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、卫生、安全、劳动保护、半金属。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱杂质的标准
GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
国家质检总局，关于光谱杂质的标准
GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
GB/T 13374-1992 八氧化三铀中杂质元素的光谱测定 氧化镓载带法
中华全国供销合作总社，关于光谱杂质的标准
GH/T 1337-2021 籽棉杂质含量快速测定 近红外光谱法
国家质量监督检验检疫总局，关于光谱杂质的标准
SN/T 1504.5-2017 食品容器、包装用塑料原料 第5部分：聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
德国标准化学会，关于光谱杂质的标准
DIN EN 15063-1-2015 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法的指导方针;德文版本EN 15063-1-2014
DIN EN 15063-1-2007 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法的指导方针
DIN EN 15063-2-2007 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第2部分:常规方法
DIN EN 13615-2002 锡铸锭的分析方法.采用原子光谱法对锡等级为99.90%和99.85%的杂质元素含量测定; 德文版本 EN 13615:2001
法国标准化协会，关于光谱杂质的标准
NF A08-701-1-2015 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南
NF A08-701-2-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第2部分:常规测量
NF A08-701-1-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南
NF A06-903-2002 锡锭的分析方法.用原子光谱法测定等级99.90%和99.85%锡中的杂质元素含量
英国标准学会，关于光谱杂质的标准
BS EN 15063-1-2014 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南
BS EN 15063-1-2014 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南
BS EN 15063-1-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南
BS EN 15063-2-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法
BS EN 12938-2000 锡铅合金分析方法.原子光谱法测定合金和杂质元素含量
欧洲标准化委员会，关于光谱杂质的标准
EN 15063-1-2014 铜及铜合金.用波长分散X光线荧光光谱法(XRF)测定主要成分及杂质.第1部分:日常方法指南
EN 15063-2-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.第2部分:常规方法
EN 15063-1-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.第1部分:常规方法指南
EN 13615-2001 工业纯铁罐分析方法-原子光谱法测定罐等级99.90％ 和99.85％杂质元素.合并勘误表-2002年12月
EN 12938-1999 铅锡锑合金的分析方法.用原子光谱法测定合金及杂质元素含量.合并勘误表-2000年8月
，关于光谱杂质的标准
STAS 10837/2-1977 硒、铁、硅、银、铜、镁、铅、锡、锑、砷杂质半定量光谱测定
行业标准-商品检验，关于光谱杂质的标准
SN/T 4020-2013 纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法
SN/T 1504.5-2005 食品容器、包装用塑料原料.第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定.X射线荧光光谱法
行业标准-电子，关于光谱杂质的标准
SJ 20713-1998 砷化镓用高纯镓中铜、锰、镁、钒、钛等12种杂质的等离子体光谱分析法
日本工业标准调查会，关于光谱杂质的标准
JIS H0615-1996 用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
