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光谱杂质检测

光谱杂质检测

发布时间:2025-09-18 00:00:00

中析研究所涉及专项的性能实验室,在光谱杂质检测服务领域已有多年经验,可出具CMA和CNAS资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

本专题涉及光谱杂质的标准有43条。

国际标准分类中,光谱杂质涉及到金属材料试验、有色金属、半导体材料、核能工程、农用建筑物、结构和装置、与食品接触的物品与材料、陶瓷、有色金属产品、非金属矿、机化学。

在中国标准分类中,光谱杂质涉及到半金属及半导体材料分析方法、轻金属及其合金分析方法、半金属与半导体材料综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、、食品卫生、金属损检验方法、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、卫生、安全、劳动保护、半金属。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于光谱杂质的标准

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法

国家质检总局,关于光谱杂质的标准

GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

GB/T 13374-1992 八氧化三铀中杂质元素的光谱测定 氧化镓载带法

中华全国供销合作总社,关于光谱杂质的标准

GH/T 1337-2021 籽棉杂质含量快速测定 近红外光谱法

国家质量监督检验检疫总局,关于光谱杂质的标准

SN/T 1504.5-2017 食品容器、包装用塑料原料 第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

德国标准化学会,关于光谱杂质的标准

DIN EN 15063-1-2015 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法的指导方针;德文版本EN 15063-1-2014

DIN EN 15063-1-2007 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法的指导方针

DIN EN 15063-2-2007 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第2部分:常规方法

DIN EN 13615-2002 锡铸锭的分析方法.采用原子光谱法对锡等级为99.90%和99.85%的杂质元素含量测定; 德文版本 EN 13615:2001

法国标准化协会,关于光谱杂质的标准

NF A08-701-1-2015 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南

NF A08-701-2-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第2部分:常规测量

NF A08-701-1-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南

NF A06-903-2002 锡锭的分析方法.用原子光谱法测定等级99.90%和99.85%锡中的杂质元素含量

英国标准学会,关于光谱杂质的标准

BS EN 15063-1-2014 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南

BS EN 15063-1-2014 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南

BS EN 15063-1-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南

BS EN 15063-2-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法

BS EN 12938-2000 锡铅合金分析方法.原子光谱法测定合金和杂质元素含量

欧洲标准化委员会,关于光谱杂质的标准

EN 15063-1-2014 铜及铜合金.用波长分散X光线荧光光谱法(XRF)测定主要成分及杂质.第1部分:日常方法指南

EN 15063-2-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.第2部分:常规方法

EN 15063-1-2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.第1部分:常规方法指南

EN 13615-2001 工业纯铁罐分析方法-原子光谱法测定罐等级99.90% 和99.85%杂质元素.合并勘误表-2002年12月

EN 12938-1999 铅锡锑合金的分析方法.用原子光谱法测定合金及杂质元素含量.合并勘误表-2000年8月

,关于光谱杂质的标准

STAS 10837/2-1977 硒、铁、硅、银、铜、镁、铅、锡、锑、砷杂质半定量光谱测定

行业标准-商品检验,关于光谱杂质的标准

SN/T 4020-2013 纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法

SN/T 1504.5-2005 食品容器、包装用塑料原料.第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定.X射线荧光光谱法

行业标准-电子,关于光谱杂质的标准

SJ 20713-1998 砷化镓用高纯镓中铜、锰、镁、钒、钛等12种杂质的等离子体光谱分析法

日本工业标准调查会,关于光谱杂质的标准

JIS H0615-1996 用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法

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