本专题涉及icp-oes 汞的标准有15条。
国际标准分类中,icp-oes 汞涉及到电子元器件综合、分析化学、机化学、环境保护、电气工程综合、道路车辆装置、肥料。
在中国标准分类中,icp-oes 汞涉及到电子元件综合、、机电工业污染物排放标准、基础标准和通用方法、土壤、肥料综合。
GB/T 39560.4-2021 电子电气产品中某些物质的测定 第4部分:CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞
T/NAIA 0134-2022 工业硫酸中铁、铅、砷、汞的测定 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
NF C05-100-4/A1-2017 电工产品中某些物质的测定. 第4部分: 用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 附录1电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4-2013/AMD1-2017 附录1电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4-2013+AMD1-2017 CSV 电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV 电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4 Edition 1.1-2017 电工制品中特定物质的测定.第4部分:通过CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞
IEC 62321-4 AMD 1-2017 电工制品中特定物质的测定.第4部分:通过CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞.修改件1
IEC 62321-4:2013 电工产品中某些物质的测定 - 第4部分:聚合物 金属和电子学中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
IEC 62321-4-2013 电工制品中特定物质的测定. 第4部分: 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞
DB53/T 793-2016 肥料中砷镉钴铬铜汞锰镍铅锑和锌含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
KS C IEC 62321-4-2014(2019) 电工产品中某些物质的测定 - 第4部分:聚合物 金属和电子学中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
BS EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞
BS EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞