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x射线光谱测量检测

x射线光谱测量检测

中析研究所涉及专项的性能实验室,在x射线光谱测量检测服务领域已有多年经验,可出具CMA资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

本专题涉及x射线光谱测量的标准有18条。

国际标准分类中,x射线光谱测量涉及到分析化学、长度和角度测量、表面处理和镀涂、燃料、计量学和测量综合、石油产品综合。

在中国标准分类中,x射线光谱测量涉及到基础标准与通用方法、化学、电子光学与其他物理光学仪器、材料防护、石油勘探、开发与集输、石油产品综合。


国际标准化组织,关于x射线光谱测量的标准

ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 3497:1990 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法

ISO 3497:1976 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法

韩国科技标准局,关于x射线光谱测量的标准

KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

KS D ISO 3497:2002 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法

法国标准化协会,关于x射线光谱测量的标准

NF X21-003:2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南

NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析

英国标准学会,关于x射线光谱测量的标准

BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS EN ISO 3497:2001 金属覆层.覆层厚度的测量.X射线光谱测定法

美国材料与试验协会,关于x射线光谱测量的标准

ASTM B568-98(2021) 通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法

德国标准化学会,关于x射线光谱测量的标准

DIN EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法

RU-GOST R,关于x射线光谱测量的标准

GOST 33899-2016 汽油. 采用X射线光谱法测定铅含量

RO-ASRO,关于x射线光谱测量的标准

STAS SR ISO 3497:1992 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法

行业标准-中国金属协会,关于x射线光谱测量的标准

CSM 01 01 01 08-2006 X-射线荧光光谱法测量结果 不确定度评定规范

CSM 01010108-2006 X-射线荧光光谱法测量结果不确定度评定规范

美国国家标准学会,关于x射线光谱测量的标准

ANSI/ASTM D2622:2005 用波长色散X-射线荧光光谱测量法检测石油产品中硫含量的试验方法

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