俄歇谱峰检测

本专题涉及俄歇谱峰的标准有157条。

国际标准分类中，俄歇谱峰涉及到分析化学、光学设备、光学和光学测量、金属材料试验、电子元器件综合、无损检测、长度和角度测量、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中，俄歇谱峰涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、金属化学分析方法综合、标准化、质量管理、化学、光学测试仪器、光学计量仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、综合测试系统、化学助剂基础标准与通用方法。

美国材料与试验协会，关于俄歇谱峰的标准

ASTM E827-07 用俄歇电子光谱仪的峰值识别元素的标准实施规程

ASTM E1127-91(1997) 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南

ASTM E1127-08(2015) 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南

ASTM E1127-08 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南

ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南

ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E984-95(2001) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南

ASTM E984-95 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南

ASTM E984-12(2020) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南

ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程

ASTM E984-06 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应用标准指南

ASTM E983-10 在俄歇电子谱法中测定化学效应和基质效应的标准指南

ASTM E984-12 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应的标准指南

ASTM E983-94(1999) 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南

ASTM E983-10(2018) 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南

ASTM E983-05 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南

ASTM E983-19 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南

ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南

ASTM E1217-11 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程

ASTM E1217-00 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

ASTM E1217-05 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇谱峰的标准

GB/T 35158-2017 俄歇电子能谱仪检定方法

GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求

GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求

国家质检总局，关于俄歇谱峰的标准

GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则

GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

GB/T 28893-2024 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析

GB/T 29558-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性

GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述

GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定

GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性

GB/T 29732-2013 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准

GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则

GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准

GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

行业标准-机械，关于俄歇谱峰的标准

JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法

行业标准-电子，关于俄歇谱峰的标准

SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则

SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

英国标准学会，关于俄歇谱峰的标准

BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息

PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导

BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导

BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)

BS ISO 15471:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的描述

BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定

BS ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述

BS ISO 24236:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度标的可重复性和一致性

BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性

BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度

BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法

BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度

BS ISO 17973:2016 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准

BS ISO 17974:2002(2010) 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准

23/30469291 DC BS ISO 17973 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准

BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南

BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

BS ISO 18118:2024 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...

21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法

GSO，关于俄歇谱峰的标准

BH GSO ISO 20903:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰强度和报告结果时所需信息的方法

GSO ISO/TR 18394:2021 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导

GSO ISO 16242:2015 表面化学分析 在俄歇电子能谱中记录和报告数据

BH GSO ISO 16242:2017 表面化学分析 俄歇电子能谱 (AES) 中记录和报告数据

OS GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定

GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定

BH GSO ISO 18516:2016 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定

OS GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性

GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性

BH GSO ISO 21270:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性

OS GSO ISO 17973:2013 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准

OS GSO ISO 29081:2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告

GSO ISO 17973:2013 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准

BH GSO ISO 17973:2016 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准

BH GSO ISO 29081:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告

OS GSO ISO 17974:2014 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准

BH GSO ISO 17974:2016 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准

GSO ISO 18118:2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

OS GSO ISO 18118:2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

BH GSO ISO 18118:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇谱峰的标准

GB/T 36504-2018 印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱

GB/T 36533-2018 硅酸盐中微颗粒铁的化学态测定 俄歇电子能谱法

GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准

GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

国际标准化组织，关于俄歇谱峰的标准

ISO/TR 18394:2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息

ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

ISO/TR 18394:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导

ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法

ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据

ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

ISO 15471:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述

ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述

ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法

ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准

ISO/CD 17973 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准

ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法

ISO 18118:2024 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验确定的相对灵敏度因子的使用指南

ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

SCC，关于俄歇谱峰的标准

BS PD ISO/TR 18394:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导

BS ISO 20903:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

BS ISO 15471:2004 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的描述

ASTM E983-04 最小化俄歇电子能谱中不需要的电子束效应的标准指南

10/30199172 DC BS ISO 16242 表面化学分析 俄歇电子能谱法（AES）的数据记录和报告

BS ISO 17973:2002 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准

09/30184131 DC BS ISO 29081 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和电荷校正方法报告

DIN ISO 16242 E:2019 文件草案 表面化学分析 俄歇电子能谱 (AES) 记录和报告数据 (ISO 16242:2011) 英文文本

BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定

BS ISO 18118:2004 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

ISO 17109:2015/DAmd 1 表面化学分析 深度分析 X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中使用单层和多层薄膜的溅射速率测定方法 A...

法国标准化协会，关于俄歇谱峰的标准

NF ISO 16242:2012 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告

NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息

NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据

NF ISO 24236:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 能级的重复性和恒定性

NF X21-059*NF ISO 24236:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度等级的重复性和持久性

NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子光谱法 电荷控制和校正用方法的报告

NF ISO 17973:2006 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能量标度的校准

NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和校正所采用的方法的指示

NF ISO 17974:2009 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 用于元素和化学状态分析的能量标度校准

未注明发布机构，关于俄歇谱峰的标准

DIN ISO 16242 E:2019-10 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告

德国标准化学会，关于俄歇谱峰的标准

DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析 在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据

DIN ISO 16242:2020 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本

韩国科技标准局，关于俄歇谱峰的标准

KS D ISO 15471-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数说明

KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

KS D ISO 21270-2020 表面化学分析 X射线光电子能谱和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度

KS D ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述

KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性

KS D ISO 17973-2021 表面化学分析 中分辨率俄歇电子能谱仪 元素分析能级的校准

KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化学分析——中分辨率俄歇电子光谱仪——元素分析用能标的校准

KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准

KS D ISO 17974-2021 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析能级的校准

KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化学分析——高分辨率俄歇电子光谱仪——元素和化学状态分析用能标的校准

KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准

KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定

KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

KS D ISO 19319-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析仪观察到的样品面积的测定

KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南

KS D ISO 18118-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 均质材料定量分析中实验确定的相对灵敏度因子的使用指南

KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

日本工业标准调查会，关于俄歇谱峰的标准

JIS K 0161:2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述

JIS K 0167:2011 表面化学分析 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学 匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南

RU-GOST R，关于俄歇谱峰的标准

GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据

澳大利亚标准协会，关于俄歇谱峰的标准

AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南