EN
RU
ES
本专题涉及单晶检测依据的标准有46条。
国际标准分类中，单晶检测依据涉及到频率控制和选择用压电器件与介质器件、金属材料试验、半导体材料、内燃机、橡胶、光纤通信、绝缘流体、电学、磁学、电和磁的测量。
在中国标准分类中，单晶检测依据涉及到石英晶体、压电元件、金属无损检验方法、、元素半导体材料、活塞式内燃机与其它动力设备综合、合成橡胶基础标准与通用方法、连接器、化合物半导体材料、光通信设备、光电子器件综合、数字显示仪表、基础标准与通用方法。
HU-MSZT，关于单晶检测依据的标准
MSZ 7095-1959 依据铅粉含量的染料的化学检测
德国标准化学会，关于单晶检测依据的标准
DIN EN 60444-6:2014-02 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性的测量
DIN EN IEC 60444-6:2021-07 石英晶体单元参数的测量 - 第 6 部分：驱动电平依赖性 (DLD) 的测量 (IEC 49/1344/CD:2020)
DIN 50443-1:1988 半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性
DIN 53529-2:1983 橡胶和弹性体的检验.硫化特性的测定.依据反应动力学的交联等温线的评价
DIN 50434:1986 半导体工艺材料的检验.对(111)和(100)表面采用蚀刻技术的单晶硅的晶体结构缺陷的测定
DIN 50453-1:1990 半导体工艺材料的检验.蚀刻混合剂浸蚀率的测定.第1部分:单晶硅测重法
DIN 50433-2:1976 无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向
DIN 50454-1:2000 半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物单晶体错位的测定.第1部分:砷化镓
DIN 50433-3:1982 半导体工艺材料的检验.第3部分:采用劳埃反向散射法测定单晶体取向
DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
DIN EN IEC 61300-3-7:2022-11 光纤互连装置和无源元件 基本测试和测量程序 第3-7部分：检查和测量 单模元件的衰减和回波损耗的波长依赖性
DIN 43751-2:1987 测量和控制.数字式测量仪表. 测量模拟量的仪表.定义、检验和数据单详细内容
DIN 43751-3:1987 测量和控制.数字式测量仪表. 测量数字量的仪表.定义、检验和数据单详细内容
DIN EN 61300-3-19:1997-10 光纤互连装置和无源元件 - 基本测试和测量程序 - 第 3-19 部分：检查和测量；单模光纤元件回波损耗的偏振依赖性（IEC 61300-3-19:1997）
DIN 43751-1:1987 测量和控制.数字式测量仪表.关于定义、检验和数据单详细内容的通用规范
DIN EN 61300-3-7:2016 光纤互连设备和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性（IEC 86B/3988/CD:2016）
DIN 50454-2:1994 半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物半导体单晶错位腐蚀坑密度的测定.第2部分:铟磷化物
DIN 50454-3:1994 半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物半导体单晶错位腐蚀坑密度的测定.第3部分:镓磷化物
英国标准学会，关于单晶检测依据的标准
BS EN IEC 60444-6:2021 跟踪更改 石英晶体单元参数的测量 驱动电平依赖性(DLD)测量
20/30406252 DC BS EN 60444-6 石英晶体单元参数的测量 第6部分. 驱动电平依赖性(DLD)的测量
BS EN 61300-3-19:1997 光纤互连装置和无源元件 基本测试和测量程序 检查和测量 单模光纤元件回波损耗的偏振依赖性
BS EN 61300-3-2:1999 光纤互连装置和无源部件.基本试验和测量程序.检验和测量.单模光纤装置中衰减的偏振依赖性
PD IEC TS 61994-4-4:2018 跟踪更改。用于频率控制、选择和检测的压电、介电和静电器件以及相关材料。词汇表。压电材料。用于表面声波 (SAW) 器件的单晶晶片
欧洲电工标准化委员会，关于单晶检测依据的标准
EN 60444-6:2013 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性（DLD）的测量
EN 61300-3-19:1997 光纤互连器件和无源器件.基本试验和测量程序.第3-19部分:检查和测量.单模光纤器件回波损耗偏振依赖性 IEC 61300-319-1997
丹麦标准化协会，关于单晶检测依据的标准
DS/EN 60444-6:1998 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性（DLD）的测量
DS/EN 60444-6:2013 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性（DLD）的测量
DS/EN IEC 60444-6:2021 石英晶体单元参数的测量第6部分：驱动电平依赖性（DLD）的测量
DS/EN IEC 61300-3-7:2021 光纤互连器件和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性
DS/EN 61300-3-7:2012 光纤互连设备和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性
ES-UNE，关于单晶检测依据的标准
UNE-EN IEC 60444-6:2021 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性(DLD)的测量
UNE-EN 60444-6:2013 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性(DLD)的测量
AT-OVE/ON，关于单晶检测依据的标准
OVE EN IEC 60444-6:2021 石英晶体单元参数的测量 第6部分：驱动电平依赖性（DLD）的测量（IEC 49/1354/CDV）（英文版）
国家质检总局，关于单晶检测依据的标准
GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
GB/T 18311.2-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-2部分;检查和测量 单模纤维光学器件偏振依赖性
中国团体标准，关于单晶检测依据的标准
T/IAWBS 010-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
韩国科技标准局，关于单晶检测依据的标准
KS R ISO 14396:2006 往复式内燃机.发动机功率的测量和检测方法.依据ISO 8178的废气排放试验的补充要求
国际标准化组织，关于单晶检测依据的标准
ISO 14396:2002 往复式内燃机.发动机功率的测量和检测方法.依据ISO 8178的废气排放试验的补充要求
国际电工委员会，关于单晶检测依据的标准
IEC 61300-3-2:1995 光纤互联装置和无源部件.基本试验和测量步骤.第3-2部分:检查和测量.单模光纤部件的偏振依赖性
法国标准化协会，关于单晶检测依据的标准
NF C93-903-7*NF EN IEC 61300-3-7:2021 光纤互连设备和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性
NF C93-903-7*NF EN 61300-3-7:2012 光纤互连设备和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性
NF C93-903-19*NF EN 61300-3-19:1997 光纤互连装置和无源元件 基本试验和测量程序 第3-19部分：检验和测量 单模光纤元件回波损耗的极化依赖
NF C93-903-12:1997 光纤互连装置和无源元件.基本试验和测量程序.第3-12部分:检验和测量.单模光纤元件衰减的极化依赖:矩阵计算法
AENOR，关于单晶检测依据的标准
UNE-EN 61300-3-7:2013 光纤互连设备和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性
立陶宛标准局，关于单晶检测依据的标准
LST EN 61300-3-7-2012 光纤互连设备和无源元件 基本测试和测量程序 第 3-7 部分：检查和测量 单模元件衰减和回波损耗的波长依赖性（IEC 61300-3-7:2009，已修改）
