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本专题涉及标准 扫描探针显微镜的标准有77条。
国际标准分类中，标准 扫描探针显微镜涉及到有色金属、教育、分析化学、光学和光学测量、光学设备、词汇、长度和角度测量、机械试验、无损检测、电子显示器件、建筑材料、钢铁产品。
在中国标准分类中，标准 扫描探针显微镜涉及到放大镜与显微镜、教学专用仪器、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、稀有金属及其合金分析方法、化学、混凝土、集料、灰浆、砂浆、钢铁与铁合金分析方法、材料防护。
国家计量技术规范，关于标准 扫描探针显微镜的标准
JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
韩国科技标准局，关于标准 扫描探针显微镜的标准
KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜－侧向力显微镜法
KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－扫描电子显微镜－图像放大率校准指南
KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
行业标准-教育，关于标准 扫描探针显微镜的标准
JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
国家质检总局，关于标准 扫描探针显微镜的标准
GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
GB/T 22461.2-2023 表面化学分析 词汇 第2部分： 扫描探针显微术术语
GB/T 42543-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 悬臂梁法向弹性常数的测定
国际标准化组织，关于标准 扫描探针显微镜的标准
ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
英国标准学会，关于标准 扫描探针显微镜的标准
BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析 词汇 扫描探针显微镜中使用的术语
BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
BS ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
BS ISO 11039:2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
BS ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
BS ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析 词汇 第 2 部分：扫描探针显微镜中使用的术语
BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
德国机械工程师协会，关于标准 扫描探针显微镜的标准
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于标准 扫描探针显微镜的标准
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
美国材料与试验协会，关于标准 扫描探针显微镜的标准
ASTM E1813-96e1 扫描探测显微镜探头测量和报告的标准实施规程
ASTM E1813-96(2002) 扫描探测显微镜探头测量和报告的标准实施规程
ASTM E1813-96(2007) 扫描探测显微镜探头测量和报告的标准实施规程
ASTM E2382-04(2020) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
ASTM E2382-04(2012) 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
ASTM E766-14 扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法
ASTM E766-98(2003) 校准扫描电子显微镜的放大倍数
ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
ASTM E986-04 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
ASTM E986-04(2010) 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
ASTM E986-97 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
ASTM E766-14(2019) 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
ASTM C1723-16(2022) 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
ASTM C1723-10 用扫描电子显微镜检验硬化混凝土的标准指南
ASTM C1723-16 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
ASTM E2142-08(2015) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
ASTM E2142-08 用扫描电子显微镜分级和分类铁中内含物的标准试验方法
ASTM E2142-08(2023) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
ASTM B748-90(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
法国标准化协会，关于标准 扫描探针显微镜的标准
NF X21-069-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
日本工业标准调查会，关于标准 扫描探针显微镜的标准
JIS K 0147-2:2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
RU-GOST R，关于标准 扫描探针显微镜的标准
GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
GOST R 8.630-2007 国家测量统一性保证体系.原子能扫描探测显微镜.验证方法
GOST R 8.636-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
未注明发布机构，关于标准 扫描探针显微镜的标准
JIS K 0182:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂法向弹簧常数的测定
上海市标准，关于标准 扫描探针显微镜的标准
DB31/T 297-2003 扫描电子显微镜放大倍率校准方法
