本专题涉及探针 部分的标准有96条。
国际标准分类中，探针 部分涉及到长度和角度测量、农业和林业、分析化学、词汇、牙科、电工和电子试验、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、机器、装置、设备的特性和设计、机床装置、电学、磁学、电和磁的测量、机床、电子电信设备用机电元件、无损检测、水质、水利建筑、管道部件和管道、有色金属产品、陶瓷、辐射测量、光纤通信、医疗设备、检查、维修和试验设备、航空航天用电气设备和系统、生物学、植物学、动物学、微生物学、电气工程综合、水果、蔬菜及其制品。
在中国标准分类中，探针 部分涉及到基础标准与通用方法、动物检疫、兽医与疫病防治、贵金属及其合金分析方法、工艺美术品、电化学、热化学、光学式分析仪器、口腔科器械、设备与材料、化学、电工仪器、仪表综合、机床综合、连接器、试验机与无损探伤仪器综合、建筑工程施工机械、水文地质勘察、金属无损检验方法、金属化学性能试验方法、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、特种陶瓷、医用超声、激光、高频仪器设备、公共医疗设备、电子元器件、基础标准与通用方法、基础学科综合、医用射线设备、电气设备与器具综合、电气系统与设备。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于探针 部分的标准
GB/T 16857.5-2017 产品几何技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分：使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机
国家质检总局，关于探针 部分的标准
GB/T 28630.1-2012 白斑综合征(WSD)诊断规程.第1部分：核酸探针斑点杂交检测法
GB/T 17363.1-2009 黄金制品金含量无损测定方法.第1部分:电子探针微分析法
GB/T 16857.5-2004 产品几何量技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分;使用多探针探测系统的坐标测量机
国际标准化组织，关于探针 部分的标准
ISO 18115-2-2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 230-10 AMD 1-2014 机床试验规程.第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定.修改件1:配扫描探针的探测系统的测量性能
ISO 25178-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
ISO 18115-2-2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
ISO 18115-2:2013 表面化学分析——词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 21672-2-2012 牙科学.牙周探针.第2部分:名称
ISO 21672-1-2012 牙科学.牙周探针.第1部分:通用要求
ISO 18115-2:2010 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 25178-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称属性
ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
ISO 15548-2-2008 无损检测.涡流检验设备.第2部分:探针特性和验证
ISO/TR 10305-2-2003 道路车辆.电磁场强度测量设备的校正.第2部分:9kHz-40GHz的电磁场传感器和探针(不包括天线)的校正用IEEE标准
ISO 3630-1-1992 牙根管器械 第1部分:推管锉、扩大器、倒刺拔髓针、粗锉、糊剂输送器、探针及棉捻
ISO 18563-2-2017 无损检验. 超声相控阵设备的表征和验证. 第2部分：探针
德国标准化学会，关于探针 部分的标准
DIN EN ISO 10360-5-2020 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和验证试验. 第5部分: 使用离散点和/或扫描测量模式的单探针和多探针接触探测系统的坐标测量机(CMM)(ISO 10360-5-2020); 德文版 EN ISO 10360-5-2020
DIN 4000-178-2016 事物特性表. 第178部分: 探测系统, 触控系统和探针
DIN EN ISO 21672-2-2013 牙科学.牙周探针.第2部分:名称(ISO 21672-2-2012).德文版本EN ISO 21672-2-2012
DIN EN 1971-2-2012 铜和铜合金.在无缝圆铜和铜合金管上的测量缺陷的涡流试验.第2部分:在内表面使用内部探针的试验.德文版本EN 1971-2-2011
DIN EN ISO 25178-602-2011 产品几何技术规范(GPS)-表面纹理:平面.第602部分:非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征(ISO 25178-602-2010);德文版本EN ISO 25178-602-2010
DIN EN 60512-16-1-2009 电子设备用连接器 试验和测量 第16-1部分:触点和终端的机械试验 试验16a:探针故障
DIN EN ISO 15548-2-2009 无损检验.涡流检验设备.第2部分:探针特性和鉴定
DIN EN 1071-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分
DIN 6800-5-2005 光子辐射和电子辐射用带探针型探测器的剂量测定程序.第5部分:热致发光剂量测定
DIN EN 1071-1-2003 高级工业陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度
DIN V ENV 737-6-2003 医用气体管道系统.第6部分:医用压缩气体和真空终端装置用探针的尺寸和定位
DIN EN 2591-6415-2003 航空航天系列.光电连接件.试验方法.第6415部分:光学元件.探针探伤
DIN EN 13312-6-2001 生物技术.管路铺设和仪器使用的性能标准.第6部分:设备探针; 德文版本 EN 13312-6:2001
DIN 6800-4-2000 光子辐射和电子辐射用探针型探测器的剂量测定程序.第4部分:胶片剂量测定法
国家食品药品监督管理局，关于探针 部分的标准
YY/T 1622.1-2018 牙科学 牙周探针 第1部分：通用要求
，关于探针 部分的标准
ONORM ENV 1071-1-1993 先进的技术陶瓷．陶瓷覆层的试验方法．第1部分：用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度
国际电工委员会，关于探针 部分的标准
IEC 61010-031:2015+AMD1:2018 CSV 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 61010-031:2015/AMD1:2018 修改件1.测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 61010-031-2015+AMD1-2018 CSV 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 61010-031-2015/AMD1-2018 修改件1.测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
IEC 61010-2-031-1993 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-031部分:电气测量和试验用手持探针的特殊要求
日本工业标准调查会，关于探针 部分的标准
JIS K0147-2-2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
JIS T5418-2-2015 牙科. 牙周探针. 第2部分: 命名
JIS T5418-2-2015 牙科. 牙周探针. 第2部分: 命名
JIS T5418-1-2015 牙科. 牙周探针. 第1部分: 通用要求
JIS T5418-1-2015 牙科. 牙周探针. 第1部分: 通用要求
JIS C5402-16-1-2014 电子设备连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
JIS C5402-16-1-2014 电子设备连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
JIS Z2316-3-2014 无损检测.涡流检测.第3部分:探针特征和验证
JIS Z2316-3-2014 无损检测.涡流检测.第3部分:探针特征和验证
JIS C1010-2-31-1998 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-31部分:电气测量和试验用手持探针组件的特殊要求
法国标准化协会，关于探针 部分的标准
NF C42-020-031-2015 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
NF E60-100-10/A1-2014 机床试验规程. 第10部分: 数控机床探测系统测量性能的测定. 修改件1: 扫描探针的测量性能
NF E05-031-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
NF X10-960-1-2013 水和地热钻井.垂直地热探针.第1部分:总论
NF X10-960-3-2013 水和地热钻井 - 垂直地热探针 - 第3部分: 交联聚乙烯 (PE-X) 探针回路
NF X10-960-2-2013 水和地热钻井 - 垂直地热探针 - 第2部分: 聚乙烯100 (PE 100) 探针回路
NF X10-960-4-2013 水和地热钻井.垂直地热探针.第4部分:耐升温的聚乙烯(PE-RT)探针环
NF S91-190-2-2012 牙科 - 牙周探针 - 第2部分: 命名
NF S91-190-1-2012 牙科 - 牙周探针 - 第1部分: 通用要求
NF A05-115-1-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
NF A05-115-2-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
NF X21-069-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
NF E05-031-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称特性
NF E05-031-701-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(探针)仪器用测量和校准标准
NF E05-031-601-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第601部分:触点(探针)仪器的标称特性
NF A92-801-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析法(EPMA)测量化学成分
NF A92-801-1-2003 先进工艺陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定涂层厚度
NF L54-002-058-2002 航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第415部分:检测探针损伤(插孔接触点)
NF L54-002-132-2002 航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第6415部分:光学元件.检测探针损伤
NF C42-725-2002 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
NF C42-725-1994 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-031部分:电气测量和试验用手持探针的特殊要求
欧洲标准化委员会，关于探针 部分的标准
EN ISO 25178-605-2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:区域.第605部分:非接触式(点自动聚焦探针)仪器的标称特性(ISO 25178-605:2014)
EN ISO 15548-2-2013 无损检测.涡流检验设备.第2部分:探针特性和验证
EN ISO 21672-2-2012 牙科学.牙周探针.第2部分:名称
EN ISO 15548-2-2008 无损检测.涡流检验设备.第2部分:探针特性和验证［代替:CEN EN 13860-2］
EN 1071-4-2006 先进技术陶瓷.陶瓷涂层用试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分;代替ENV 1071-4-1995
EN 1071-1-2003 先进技术陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度;代替ENV 1071-1-1993
ENV 737-6-2003 医用气体管道系统.第6部分:压缩医用气体终端设备和真空终端设备用探针的尺寸和定位
EN 12668-2-2001 无损检测超声波检查设备的特性表征和检验.第2部分:探针;包含修改件A1-2004
EN 13312-6-2001 生物技术.管道和仪表用性能标准.第6部分:设备探针
EN 2591-6415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6415部分:光学元件.探针损伤测试
EN 2591-415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第415部分:测试探针损伤(塞孔接点)
欧洲电工标准化委员会，关于探针 部分的标准
EN 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
丹麦标准化协会，关于探针 部分的标准
DS/EN ISO 3630-1-1995 齿根管器械．第1部分：推管锉，扩大器，倒刺拔髓针，粗锉，糊剂输送器，探针及棉捻
DS/ENV 1071-1-1993 高级工业陶瓷．陶瓷涂层试验方法．第1部分：利用探针表面光度仪测定涂层厚度
欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于探针 部分的标准
ASD-STAN PREN 2591-FD15-1993 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第FD15部分:光学元件．测试探针损坏;第P1版
ASD-STAN PREN 2591-D15-1992 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第D15部分:测试探针损坏（插孔式触点）;第P1版
欧洲航空工业协会，关于探针 部分的标准
AECMA PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 D15部分:测试探针损伤(塞孔接点)
