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本专题涉及厚度电子的标准有32条。
国际标准分类中，厚度电子涉及到分析化学、长度和角度测量、表面处理和镀涂。
在中国标准分类中，厚度电子涉及到电化学、热化学、光学式分析仪器、材料防护、金属化学分析方法综合、基础标准与通用方法。
国家质检总局，关于厚度电子的标准
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
英国标准学会，关于厚度电子的标准
BS EN ISO 9220:1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
BS EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
韩国科技标准局，关于厚度电子的标准
KS D 8544-2006 金属涂层.涂层厚度测量.透射电子显微镜法
KS D 8544-2016(2021) 金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
KS D ISO 9220:2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
KS D ISO 9220-2009(2022) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
KS D ISO 9220-2009(2017) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
SE-SIS，关于厚度电子的标准
SIS SS-ISO 9220:1989 金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法
欧洲标准化委员会，关于厚度电子的标准
EN ISO 9220:2022 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
EN ISO 9220:1994 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法(ISO 9220-1988)
prEN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
国际标准化组织，关于厚度电子的标准
ISO 9220:1988 金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
德国标准化学会，关于厚度电子的标准
DIN EN ISO 9220:1995 金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994
DIN EN ISO 9220:2022-05 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法
DIN EN ISO 9220:2021 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于厚度电子的标准
GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
法国标准化协会，关于厚度电子的标准
NF A91-108:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
NF EN ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
丹麦标准化协会，关于厚度电子的标准
DS/EN ISO 9220:1995 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
ES-UNE，关于厚度电子的标准
UNE-EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜方法
AENOR，关于厚度电子的标准
UNE-EN ISO 9220:1996 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法 （ISO 9220:1988）
立陶宛标准局，关于厚度电子的标准
LST EN ISO 9220:2001 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO 9220:1988）
AT-ON，关于厚度电子的标准
OENORM EN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
BE-NBN，关于厚度电子的标准
NBN EN ISO 9220:1995 金属保护层．保护层厚度的测定：使用电子扫描显微镜（ISO 9220-1988）
