本专题涉及测试效应的标准有37条。
国际标准分类中，测试效应涉及到半导体分立器件、肉、肉制品和其他动物类食品、光纤通信、电气工程综合、航空航天用电气设备和系统、纺织产品、公司(企业)的组织和管理、电子元器件综合、机上设备和仪器、电子电信设备用机电元件、医疗设备、涂料涂覆设备、建筑物中的设施、电学、磁学、电和磁的测量、道路车辆装置、防护设备。
在中国标准分类中，测试效应涉及到其他非金属矿、、、、、基础标准与通用方法、电子计算机应用、半导体分立器件综合、基础标准与通用方法、电气系统与设备、复合材料与固体燃料、石油勘探、开发与集输工程综合、供水、排水器材设备、半导体三极管、微电路综合。
行业标准-地质，关于测试效应的标准
DZ/T 0414-2022 钻石八心八箭效应 测试与分级
中国团体标准，关于测试效应的标准
T/CASAS 016-2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法
T/CMATB 11001-2021 禽肉的斑马鱼胚胎生物效应测试方法
T/GDCKCJH 024-2020 有源单模光纤激光暗化效应测试方法
T/CEEIA 342-2018 风力发电机组防孤岛效应测试规程
，关于测试效应的标准
GOST R ISO 6313:1993 公路车辆.刹车片.碟式刹车片尺寸和形式的加热效应.测试规程
GOST 12.4.162-1985 职业安全标准体系.防机械效应的工业用聚合物制靴.一般技术要求.测试方法
国际电工委员会，关于测试效应的标准
IEC 60749-20-2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应
IEC 60749-20:2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应
IEC 62396-2-2017 航空电子系统的过程管理 - 大气辐射效应 - 第2部分:航空电子系统单事件效应测试指南
IEC 62396-2:2017 航空电子系统的过程管理 - 大气辐射效应 - 第2部分:航空电子系统单事件效应测试指南
IEC 60749-44-2016 半导体器件 - 机械和气候测试方法第44部分:中子束照射单事件效应（见）半导体器件测试方法
IEC 60749-44:2016 半导体器件 - 机械和气候测试方法第44部分:中子束照射单事件效应（见）半导体器件测试方法
IEC 62396-2-2012 航空电子系统的过程管理 - 大气辐射效应 - 第2部分:航空电子系统单事件效应测试指南
IEC 62417-2010 半导体器件 - 金属氧化物半导体场效应晶体管（mosfets）的移动离子测试
IEC 60749-20-2008 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应
IEC TS 62396-2:2008 电子设备的过程管理.大气辐射效应.第2部分:电子设备系统的单一作用效应测试指南
IEC 60512-16-8-2008 电子设备连接器 - 测试和测量 - 第16-8部分:连接和端接的机械测试 - 测试16H:绝缘握持效应（压接）
IEC 61340-3-1-2006 静电 - 第3-1部分:模拟静电效应的方法 - 人体模型（hbm）静电放电测试波形
IEC 61340-3-2-2006 静电 - 第3-2部分:模拟静电效应的方法 - 机器模型（mm）静电放电测试波形
国家质量监督检验检疫总局，关于测试效应的标准
SN/T 4667-2016 进出口纺织品 毛细效应测定 动态测试法
英国标准学会，关于测试效应的标准
BS IEC 62396-2:2012 航空电子设备的程序管理.大气辐射影响.航空电子设备单一作用效应测试指南
BS EN 60749-29-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.闩锁效应测试
BS DD IEC/TS 62396-2:2008 航空电子设备的程序管理.大气辐射影响.航空电子设备单一作用效应测试指南
台湾地方标准，关于测试效应的标准
CNS 14393-6-2004 医疗器材生物性评估－第六部分:植入后的局部效应测试
CNS 14393.6-2004 医疗器材生物性评估－第六部分:植入后的局部效应测试
欧洲航空工业协会，关于测试效应的标准
AECMA PREN 4160-2002 航空航天系列.热暴露效应非金属物质油漆测试.P1版
行业标准-石油，关于测试效应的标准
SY/T 6281-1997 稠油油藏流体物性分析方法原油松弛效应测试
日本工业标准调查会，关于测试效应的标准
JIS S3200-7-1997 供水服务用设备.水质效应的测试方法
美国材料与试验协会，关于测试效应的标准
ASTM F616M-96(2003) 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)
ASTM F616M-96 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于测试效应的标准
JEDEC JESD57-1996 重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程
行业标准-航天，关于测试效应的标准
QJ/Z 33-1977 埸效应数字集成(P-MOS)电路测试方法
