本专题涉及俄歇电子光电子二次电子的标准有37条。
国际标准分类中，俄歇电子光电子二次电子涉及到分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、长度和角度测量、光学和光学测量、无损检测、电子元器件综合。
在中国标准分类中，俄歇电子光电子二次电子涉及到基础标准与通用方法、综合测试系统、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学助剂基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学测试仪器、化学、标准化、质量管理。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
国家质检总局，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
英国标准学会，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
BS ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
BS ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
BS ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
国际标准化组织，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
ISO 18118-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
日本工业标准调查会，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
JIS K0167-2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
美国材料与试验协会，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
ASTM E1217-2011 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
ASTM E995-2011 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
ASTM E996-2010 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
ASTM E1217-2005 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
ASTM E996-2004 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
ASTM E1217-2000 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
ASTM E996-1994(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
法国标准化协会，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
韩国标准，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
行业标准-电子，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
澳大利亚标准协会，关于俄歇电子光电子二次电子的标准
AS ISO 18118-2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
