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本专题涉及极光测量一的标准有500条。
国际标准分类中，极光测量一涉及到光电子学、激光设备、光纤通信、光学和光学测量、半导体分立器件、电工和电子试验、长度和角度测量、电灯及有关装置、电子管、电子显示器件、分析化学、电信综合、词汇、音频、视频和视听工程、电视播放和无线电广播、螺纹、消防、有色金属、辐射测量、金属矿、计量学和测量综合、集成电路、微电子学、钢铁产品、金属的腐蚀、天文学、大地测量学、地理学、茶、咖啡、可可、无损检测、太阳能工程、医疗设备、真空技术、天然气、光学设备、黑色金属、管道部件和管道、表面处理和镀涂、电学、磁学、电和磁的测量、电信设备用部件和附件、印制电路和印制电路板、半导体材料、照明、涂料和清漆、非金属矿、无机化学、陶瓷、核能工程、流体流量的测量、机上设备和仪器、电影、空气质量、热力学和温度测量、航空航天制造用紧固件。
在中国标准分类中，极光测量一涉及到电气照明综合、半导体二极管、半导体发光器件、光电子器件综合、电光源产品、量具与量仪、光通信设备、激光器件、其他电真空器件、电真空器件综合、电子光学与其他物理光学仪器、系统设备接口、标准化、质量管理、、基础标准和通用方法、长度计量、量具、电力半导体器件、部件、重金属及其合金分析方法、辐射防护监测与评价、其他、广播、电视发送与接收设备、其他特种合金、钢铁产品综合、基础标准与通用方法、一般灯具、泵、微波、毫米波二、三极管、辐射防护与监测综合、钢铁与铁合金分析方法、太阳能、材料防护、天线及其馈线、半导体光敏器件、化合物半导体材料、光学计量、涂料、半金属及半导体材料分析方法、轻金属及其合金分析方法、化工原料矿、电磁计量、物性分析仪器、计算机外围设备、光学仪器综合、指示剂、特效试剂、稀有金属及其合金分析方法、导航通讯系统与设备、航空仪表、物理学与力学、电子测量与仪器综合、制片设备、大气环境有毒害物质分析方法、温度与压力仪表、连接器、核探测器。
日本工业标准调查会，关于极光测量一的标准
JIS C 8152:2007 一般照明用白光放射二极管的测量方法
JIS C 5941:1997 光纤传输用激光二极管测量方法
JIS C 5951:1997 光纤传输用发光二极管测量方法
JIS C 5991:1997 光纤传输用光电二极管测量方法
JIS C 8152-1:2012 一般照明用白光发光二极管的光度测定.第1部分:发光二极管(LED)封装
JIS C 8152-2:2012 一般照明用白光发光二极管的光度测定.第2部分:发光二极管(LED)模组和发光二极管(LED)光启动器
JIS C 5943:1997 录放用激光二极管测量方法
JIS C 5943:2010 录放用激光二极管测量方法
JIS C 8152-2 AMD 1:2014 一般照明用白光发光二极管的光度测定.第2部分:发光二极管(LED)模组和发光二极管(LED)光启动器(修改件1)
JIS C 5945:2005 光纤传输用激光二极管设备的测量方法
JIS B 0255:1998 统一螺纹极限量规
JIS C 5947:2005 光学纤维放大镜用激光二极管模件的测量方法
JIS R 1697:2015 利用积分球对白光发光二极管用荧光粉的内部量子效率的绝对测量
JIS C 5944:2005 光纤传输用激光二极管设备的一般原则
JIS B 0255:1975 统一粗牙螺纹极限量规
JIS B 0256:1975 统一细牙螺纹极限量规
JIS C 8152-3:2013 普通照明用白光发光二极管的光度.第3部分:光通维持率的测量方法
JIS G 0579:1983 不锈钢阳极极化测量的方法
JIS C 5946:2005 光学纤维放大镜用激光二极管模件的一般规则
JIS C 62868-1:2022 普通照明用有机发光二极管（OLED）光源 安全 第1部分：一般要求和测试
JIS B 0255 AMD 1:2008 统一螺纹极限量规(修改件1)
JIS G 0579:2007 不锈钢用阳极极化曲线测量方法
JIS H 8688:2013 铝和铝合金阳极氧化.阳极氧化涂层每一单位面积质量(表面密度)的测定
JIS Z 8805:2011 pH值测量用玻璃电极
JIS Z 8805:1978 pH值测量用玻璃电极
JIS C 7036:1985 指示用发光二极管的测定方法
JIS G 0579 AMD 1:2012 不锈钢的阳极极化曲线测量方法(修改件1)
国际照明委员会，关于极光测量一的标准
CIE 127-1997 发光二极管(LEDs)的测量
CIE 89-1989 光通量的测量
台湾地方标准，关于极光测量一的标准
CNS 14111-1998 光极化控制器量测法
CNS 14112-1998 可调型光极化分光器量测法
CNS 13792-1996 通信用光极化器量测法
CNS 13654-1996 通信用光二极管量测法
CNS 11830-1987 发光二极管(指示用)测量法
CNS 13651-1996 通信用发光二极管量测法
CNS 13806-1997 发光二极管磊芯片发光波长与亮度量测法
CNS 13092-1992 发光二极管显示屏（户外用）量测法
CNS 13779-1996 自动控制用红外发光二极管量测法
CNS 13088-1992 发光二极管大型灯（户外显示用）量测法
CNS 13059.1-1992 光电伏打组件（第一部：光电伏打电流─电压特性量测）
CNS 13059-1-1992 光电伏打组件(第一部：光电伏打电流─电压特性量测)
CNS 13655-1996 通信用光二极管之可靠度测试
CNS 8383-1982 二极管顺向瞬时之测量
CNS 13652-1996 通信用发光二极管之可靠度测试
CNS 13656-1996 通信用光二极管之批品质控制测试
RU-GOST R，关于极光测量一的标准
GOST 11612.3-1975 光倍增器.按光阴极光阳极灵敏度不均匀性测量方法
GOST R 50006-1992 激光和固体激光头.极化特性测量法
GOST R 51106-1997 注入式激光器,激光头,激光二极管矩阵,激光二极管.参数的测量方法
GOST 11612.1-1981 光电倍增管.光电阴极的光灵敏度测量方法
GOST 11612.17-1981 光电倍增管.阳极光谱灵敏度测量方法
GOST 11612.6-1983 光电倍增管.阳极暗电流噪声的光当量测量方法
GOST 11612.2-1981 光电倍增器.阳极光照灵敏度的测量方法
GOST 21815.1-1986 电－光转换器.光阴极积分灵敏度和有滤波器光阴极灵敏度测量方法
GOST 21815.8-1986 电－光转换器.分辨力极限测量方法
GOST 11612.7-1983 光电倍增器.光通量产生的阳极电流噪音的光线和光谱的测量方法
GOST 18604.0-1983 双极晶体管.电参数测量的一般要求
GOST 21815.0-1986 电－光转换器.参量与光参数测量时的一般要求
GOST 21107.10-1978 气体放电仪.辉光放电二极管与三极管的使用方式和测量方式的电参数测量方法
GOST 14047.4-1978 铅精矿.铋含量光度、极谱及原子吸收测定法
GOST R 8.856-2013 确保测量一致性的国家系统. 水溶液中pH测量用玻璃电极, 包括组合电极. 验证程序
GOST 21316.0-1975 光电管.参数测量的一般要求
GOST R 8.749-2011 国家测量一致性保证体系.LED.光度测量方法
GOST 24613.8-1983 光电集成微电路和光耦.绝缘电压变化极限速度测量方法
GOST 19223-1990 大地测量用光测距器.一般技术条件
GOST 22091.6-1984 X射线仪.X射线曝光量功率和每一脉冲曝光量测量方法
GOST R 8.830-2013 确保测量一致性的国家系统. 光电材料的光学密度. 测量方法
GOST 21011.0-1975 高压整流二极管.电参数的测量方法.一般原理
GOST 25995-1983 生物电位测量电极.一般技术条件和试验方法
GOST 8.332-1978 国家测量统一性保证体系.光测量.明视觉单色辐射的光谱光效率相对值
GOST 5939-1951 小于1mm孔用光面极限量规.公差
GOST 11612.14-1975 光倍增器.信号通过时间随光阴极被照位置而变化的测量方法
GOST R 8.559-1994 国家测量统一性保证体系.测量激光器.鉴定方法
GOST R IEC 60904-8-2013 确保测量一致性的国家系统. 光伏器件. 第8部分. 光伏器件光谱响应的测量
GOST R 8.745-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
GOST 21106.10-1977 阳极耗散功率超过25W的发射调制与控制管.第一栅极和阳极的反向电流的测量方法
GOST 21011.1-1976 高压整流二极管.阳极的测量方法
GOST 17038.3-1979 电离射线闪烁探测器.根据光电信增管的阴极电流对探测器光效率的测量方法
GOST 8.639-2014 确保测量一致性的国家系统. 测量氧化还原电势 (ORP) 测定用电极. 验证程序
GOST R 8.702-2010 确保测量一致性的国家体系.氧化还原电位(ORP)测定用测量电极.检定规程
GOST R 56230-2014 一般照明用发光二极管(LED)模组. 性能要求
GOST R 8.587-2001 国家测量统一性保证体系.日光模拟光源的光能辐射特性的测量工具.验证方法
GOST 8.332-2013 确保测量一致性的国家系统. 光测量. 光适应视觉用单色辐射的相对光谱光视效率函数值
GOST 24714-1981 激光 辐射参数的测量方法 一般规则
GOST R 59606-2021 光学和光子学 第二代和下一代的光电探测器设备 光电参数测量和特性测定方法
GOST R ISO 17123-4-2011 国家测量一致性体系.光学和光学仪器.大地测量学和测量仪器的现场试验程序.第4部分.光电测距仪(EDM仪器)
GOST 21106.11-1977 阳极耗散功率超过25W的发射调制与控制管.第一栅极的热电流的测量方法
GOST R 51060-1997 光纤传输系统的平均光功率测量仪.一般技术要求
GOST R ISO 17123-6-2011 国家测量一致性体系.光学及光学仪器.测试大地测量和测绘仪器领域的程序.第6部分.旋转激光
GOST 20398.13-1980 场效应晶体管.漏极－源极电阻测量方法
GOST 8.311-1978 国家测量统一性保证体系.阴极射线示波器.验证方法
GOST R IEC 60904-7-2013 确保测量一致性的国家系统. 光伏器件. 第7部分. 光伏器件测量的光谱失谐修正的估算
GOST 2388-1970 烟火药剂光度和色度测量用硒光电池.一般技术要求
GOST R 8.853-2013 确保测量一致性的国家系统. 节能窗的光学特性. 测量程序
GOST R 8.685-2009 国家测量统一性保证体系.二极管滑回伏特计.验证方法
GOST 8.559-1993 确保测量一致性的状态系统 透射光中材料光密度测量方法的国家验证计划
GOST 8.393-2010 国家测量一致性体系.光学象限.核查程序
GOST R ISO 17123-1-2011 国家测量一致性体系.光学及光学仪器.大地测量学和测量仪器的现场试验步骤.第1部分.理论
GOST R 8.842-2013 确保测量一致性的国家系统. 半导体发射二极管辐射功率测量仪器. 验证程序
GOST R 8.843-2013 确保测量一致性的国家系统. 半导体发射二极管辐射功率测量仪器. 验证程序
GOST R 8.657-2009 确保测量一致性的国家体系.红外分光光度计.检定规程
GOST 8.229-2013 确保测量一致性的国家系统. 红外分光光度计. 验证程序
GOST 8.229-1981 确保测量一致性的国家系统 红外分光光度计 验证程序
GOST 21011.2-1976 高压整流二极管.脉冲阳极电流的测量方法
GOST R 8.865-2013 确保测量一致性的国家系统. 光谱辐射的空间分布. 测量程序
GOST R ISO 17123-7-2011 确保测量一致性的国家体制.光学和光学仪器.大地测量试验与勘测仪器的现场规程.第7部分:光学探测仪器
GOST R ISO 17123-2-2011 国家测量一致性体系.光学和光学仪器.大地测量学和测量仪器的现场试验程序.第2部分.水准仪
GOST R ISO 17123-3-2011 国家测量一致性体系.光学和光学仪器.大地测量学和测量仪器的现场试验程序.第3部分.经纬仪
GOST R 8.744-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和检定
GOST R 50279.6-1992 油漆和清漆.金属含量测试方法."可溶性"镉含量测定.火焰原子吸收光谱法和极谱法
CZ-CSN，关于极光测量一的标准
CSN 35 8775-1987 发光二极管．正向噪声测量
CSN 35 8761-1973 半导体设备．光电晶体管光电二极管．光电流测量
CSN 35 8762-1973 半导体设备．光电晶体管光电二极管．暗电流测量
CSN 35 8585 Cast.3-1987 彩色电视显像管．白光屏幕亮度的测量方法和白光阳极电流比的测定
CSN 35 8736-1964 半导体二极管．极间电容的测量
CSN 42 0621 Cast.45-1983 铜．光度法和极谱法测定锡
CSN 44 1769-1988 铅精矿．锑含量的测定．光度法，极谱法和原子吸收法
CSN 25 4300-1961 极限螺纹规的测量
CSN 35 8757 Cast.1-1985 晶体管．集电极．基极和发射极．基极击穿电压的测量方法
CSN 35 8757 Cast.8-1985 晶体管．基极．发射极电压的测量方法
CSN 25 3102-1980 尺寸为500毫米的光滑极限量规．公差
CSN ISO 3846-4:1994 油漆和清漆．可溶金属含量的测定．第4部分：镉含量测定．火焰原子吸收分光光度法与极谱法
CSN 44 1794-1983 铁矿石，精矿，结块和球团．铬的测定．光度法和极谱法测定铬含量
CSN 36 0010-1965 光测量
CSN 35 8741-1964 晶体管．集电极发射极残余电压的测量
CSN 35 8757 Cast.12-1989 双极晶体管．集电极．发射极击穿电压的脉冲测量方法
CSN 44 1778-1988 铅精矿．极谱法测定锡含量
韩国科技标准局，关于极光测量一的标准
KS C 7121-1990(2016) 发光二极体(指示用)测量法
KS C 7121-1990(2021) 发光二极管测量方法（指示用）
KS C 7104-2005(2020) 测量的发光二极管的性能的标准
KS C 6990-2013 光纤传输光电二极管的一般规则
KS C IEC 60441:2003 阴极射线管荧光屏发射光的光度和色度测量方法
KS C IEC 60441:2013 阴极射线管荧光屏发射光的光度和色度测量方法
KS C 6990-2001(2011) 一种用于光传输的公理光电二极管
KS C 5300-1992(2017) 用于光纤传输发光二极管的一般规则
KS B 5228-2001(2017) 极限量规统一粗螺纹
KS C IEC 60441-2003(2008) 测量由阴极射线管屏幕发出的光的光度和比色法
KS C 6905-2001(2016) 用于光纤传输的激光二极管的一般规则
KS C 7116-2008 有机发光二极管(OLED)显示器.余像测量方法
KS B 5228-2001(2022) 统一粗螺纹用极限量规
KS D 8310-2001(2016) 铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜单位面积质量（表面密度）的测定（重量法）和阳极氧化膜厚度的测定（分光显微镜无损测量）
KS C 6942-2014(2019) 用于光纤传输的激光二极管模块的一般规则
KS C IEC 62341-6-1:2020 有机发光二极管（Oled）显示器 - 第6-1部分:光学和电光参数测量方法
KS C 7116-2008(2018) 有机发光二极管（OLED）显示器图像粘贴测量方法
KS C IEC 61757-4-3:2021 纤维光学传感器第4-3部分:电流测量极化法
KS C 6991-2013 光纤传输光电二极管的测试方法
KS D 0247-2004 不锈钢的阳极极化测量方法
KS D 0247-2004(2019) 制法阳极极化测量的不锈钢
KS D 0247-1984 不锈钢的阳极极化测量方法
KS C IEC 60793-1-48:2020 光纤 - 第1-48部分:测量方法和测试程序 - 极化模式色散
KS C 5301-1992(2017) 发光二极管用于光纤传输测试方法
KS C 6906-2001(2016) 激光二极管用于光纤传输测试方法
KS B 6314-1-2002 正极.油封旋转真空泵排量.极限压力测量
KS D ISO 4946:2002 钢铁.铜含量的测定.2、2`一联喹啉分光光度法
KS C IEC 62868-1:2021 一般照明用有机发光二极管（OLED）光源安全第1部分:一般要求和试验
KS C 6943-2014 光纤传输用激光二极管模块测试方法
KS C IEC 62116:2010 互联效应光电变极器用孤立障碍测量的试验程序
KS C IEC 62116:2015 互联效应光电变极器用孤立障碍测量的试验程序
KS C IEC 62341-6:2007 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法
KS A 5105-2022 pH测量用玻璃电极
KS A 5105-2006(2021) pH测量用玻璃电极
KS A 5105-1986 pH测量用玻璃电极
KS C 7121-1990 发光二极管(显示用)测定方法
KS B ISO 12005:2020 激光和激光相关设备 - 激光束参数测试方法 - 极化
KS C 6703-2003 用于记录和回放的激光二极管的一般规则
KS C IEC 62922:2019 有机发光二极管（Oled）一般照明面板 - 性能要求
KS C 6703-1991(2001) 用于记录和播放的激光二极管的一般规则
KS C 6991-2001(2011) 用于光传输的测试方法所述的光电二极管
KS C 6943-2014(2019) 激光二极管模块的用于光纤传输测试方法
KS D ISO 7668-2012(2017) 铝及铝合金阳极氧化20°、45°、60°或85°角阳极氧化层镜面反射率和镜面光泽的测量
KS D ISO 1054:2012 锌、镉含量的测定·极谱法
KS A 5105-2006(2016) 玻璃电极 用于测量pH值
KS D ISO 7668-2012(2022) 铝及其合金的阳极氧化－20°、45°、60°或85°角阳极氧化涂层镜面反射和镜面光泽的测量
KS M ISO 6382:2004 测定硅含量的一般方法.还原钼硅酸盐的分光光度计法
KS B ISO 13653-2006(2021) 光学和光学仪器.一般光学试验方法.图像场中相对辐照度的测量
KS C IEC 62341-6-4:2020 有机发光二极管（OLED）显示器第6-4部分:透明性能的测量方法
KS C IEC 62341-6-2:2007 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-2部分:视觉质量和环境性能的测量方法
KS C IEC 62341-6-2:2020 有机发光二极管（Oled）显示器 - 第6-2部分:视觉质量和环境性能的测量方法
KS C 7003-2017 小信号二极管的测量方法
PL-PKN，关于极光测量一的标准
PN E04040-00-1989 光辐射测量．光度测量法一般要求
PN E04042-01-1989 光辐射测量．比色法一般要求
PN E04040-01-1991 光辐射量测量．光度测量．光通量的测量及测定
PN E04040-02-1991 光辐射量测量．光度测量，光通量的测量及测定
PN T01504-22-1987 晶体管．集电极基极和发射极基极电容CCBO和CEBO的测量方法
PN T06516-1990 选择性电极．一般要求和测试
PN J80010-1973 X和γ射线的光度测量剂量装置．一般要求和测试方法
PN E85203-01-1991 电光源灯座一般量规
国家质检总局，关于极光测量一的标准
GB/T 1957-1981 光滑极限量规
GB/T 1957-2006 光滑极限量规.技术条件
GB/T 13293.11-1991 高纯阴极铜化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
GB/T 6322-1986 光滑极限量规型式和尺寸
GB/T 13293.4-1991 高纯阴极铜化学分析方法 5-Br-PADAP分光光度法测定锑量
GB/T 9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求
GB/T 10920-2008 螺纹量规和光滑极限量规.型式与尺寸
GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
GB/T 1878-1995 磷矿石和磷精矿中碘含量的测定 分光光度法和离子选择性电极法
GB/T 13293.5-1991 高纯阴极铜化学分析方法 砷钼杂多酸-结晶紫分光光度法测定砷量
GB/T 13293.6-1991 高纯阴极铜化学分析方法 磷钒钼杂多酸-结晶紫分光光度法测定磷量
GB/T 10304.6-1988 阴极碳酸盐中钠的原子吸收分光光度测定
GB/T 13293.2-1991 高纯阴极铜化学分析方法 氢化物发生-无色散原子荧光光谱法测定铋量
GB/T 20166.2-2006 稀土抛光粉化学分析方法.氟量的测定.离子选择性电极法
GB/T 13293.10-1991 高纯阴极铜化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定锌量
GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管.试验方法
全国标准信息公共服务平台，关于极光测量一的标准
GB/T 1957-1980 光滑极限量规
GB/T 4072-1983 阴极射线致荧光粉测试方法
法国标准化协会，关于极光测量一的标准
NF C86-502:1983 电子元件统一质量评审体系.红外发光二极管，红外发光二极管阵列
NF EN IEC 62868-1:2021 一般照明用有机发光二极管(OLED)光源 安全 第1部分：一般要求和测试
NF EN IEC 61757-4-3:2020 光纤传感器 第4-3部分：电流测量 极化法
NF C96-565-2*NF EN 62595-2:2013 液晶显示屏（LCD）背光模块 第2部分：发光二极管（LED）背光模块电光测量方法
NF C71-868-1*NF EN IEC 62868-1:2021 有机发光二极管（OLED）普通照明光源 安全 第1部分：一般要求和测试
NF EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管 (OLED) 显示器 - 第 6-1 部分：光学和电光参数的测量方法
NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 铝和铝合金阳极氧化 阳极氧化物镀层厚度的测定 分光显微镜的无损测量
NF C96-541-6-3*NF EN 62341-6-3:2012 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-3部分:图像质量测量方法
NF S10-045*NF ISO 13653:2019 光学和光子学 一般光学测试方法 像场中相对辐照度的测量
NF ISO 13653:2019 光学和光子学。一般光学测试方法。测量像场相对辐照度的方法
NF EN 62341-6-3:2012 有机发光二极管 (OLED) 显示器 - 第 6-3 部分：测量图像质量的方法
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法.
NF A05-661*NF EN 13509:2003 阴极保护测量技术
NF X10-106:1983 流体流量测量 计算流量测量的极限误差
NF C93-930-2*NF EN 62496-2:2018 光电路板 基本测试和测量程序 第2部分：定义光电路板光学特性测量条件的一般指南
NF EN 62496-2:2018 光电路卡 基本测试和测量程序 第2部分：确定光电路卡光学特性测量条件的一般建议
NF T30-216:1981 涂料和清漆.可溶金属含量的测定.可溶镉含量的测定.火焰原子吸收分光光度法和极谱法
NF C57-338*NF EN 62116:2014 有互联效应的光电变极器 孤立障碍测量的试验程序
NF EN ISO 11146-2:2021 激光器和激光相关设备 光束宽度、发散角和衍射极限系数的测试方法 第 2 部分：一般像散光束
NF C86-501:1983 电子元器件质量评估协调体系.空白详细规范.发光二极管、发光二极管排列
NF EN 4731:2018 航空航天系列-应用于光致发光标记系统的发光二极管的光谱质量
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NF C57-379*NF EN 62979:2017 光伏组件-旁路二极管-热失控测试
NF EN 62979:2017 光伏模块 - 旁路二极管 - 热失控测试
NF X43-018:1983 大气污染.化学发光法测定一氧化氮含量
NF A91-490*NF EN ISO 7759:2010 铝和铝合金的阳极氧化 用遮光角度仪或简化测角光度计测量铝表面的反射比特性
NF S10-045:1999 光学和光学仪器.一般光学试验方法.成像场中有关辐照度的测量
NF C96-541-1-1*NF EN 62341-1-1:2010 有机发光二极管(OLED)显示器.第1-1部分:一般规范
NF C96-541-6-2*NF EN 62341-6-2:2012 有机发光二极管（OLED）显示器 第6-2部分：视觉质量和环境性能的测量方法
英国标准学会，关于极光测量一的标准
BS EN IEC 62868-1:2021 有机发光二极管(OLED)一般照明光源 安全 一般要求和测试
BS EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管(OLED)显示器.光学和光电参数的测量方法
PD ISO/TS 19850:2022 防火测试 使用 LED（发光二极管）替代白光来测量烟雾参数
BS EN 62341-6-3:2012 有机发光二极管 (OLED) 显示器. 图像质量的测量方法
19/30373648 DC BS EN IEC 62868-1 有机发光二极管(OLED)一般照明光源 安全 第1部分：一般要求和测试
BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
PD IEC TS 63109:2022 光伏(PV)模块和电池 通过电致发光图像定量分析测量二极管理想因子
BS EN 62341-1-1:2009 有机发光二极管(OLED)显示器.一般规范
BS EN 62496-2:2017 光线路板 基本测试和测量程序 光电路板光学特性测量条件定义的一般指南
BS ISO 13653:2019 光学和光子学 一般光学测试方法 像场相对辐照度的测量
BS IEC 62341-6-4:2017 有机发光二极管（OLED）显示器 透明性能的测量方法
BS EN IEC 60793-1-1:2022 光纤 测量方法和测试程序 一般和指导
BS EN 13509:2003 阴极保护测量方法
BS EN 62707-1:2014 发光二极管 (LED) 装箱. 一般要求和白色网格
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BS EN ISO 7759:2010 铝及其合金的阳极氧化.用滤色光度测角计或光度测角计测量铝表面的反射特性
BS IEC 60747-5-9:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 基于温变电致发光的内量子效率测试方法
BS EN 62116:2014 有互联效应的光电变极器. 孤立障碍测量的试验程序
PD IEC TS 62341-6-5:2019 有机发光二极管（OLED）显示器 动态范围特性的测量方法
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BS IEC 60747-5-11:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法
BS IEC 60747-5-16:2023 半导体器件-光电器件 发光二极管 基于光电流谱的GaN基发光二极管平带电压测试方法
14/30313209 DC BS EN 62341-6-1 有机发光二极管（OLED）显示器 第6-1部分 光学和电光参数的测量方法
BS EN 62341-6-2:2012 有机电致发光二极管(OLED)显示器.视觉质量和环境性能的测量方法
BS 2586:1979 pH值测量用玻璃电极与参比电极规范
BS EN 62341-5-3:2013 有机发光二极管 (OLED) 显示器. 图像残留和寿命的测量方法
BS EN 120001:1993 电子元件质量评估协调制度 空白详细规范 发光二极管、发光二极管阵列、无内部逻辑和电阻的发光二极管显示器
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23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1 有机发光二极管 (OLED) 显示器 第 6-1 部分 光学和电光参数的测量方法
20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1 有机发光二极管（OLED）显示器 第6-1部分 光学和电光参数的测量方法
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18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 半导体器件 第5-8部分 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
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BS EN 120001:1991 电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范.发光二极管,发光二极管阵列,无内逻辑部件和电阻的发光二极管显示器
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14/30312971 DC BS EN 62341-6-3 有机发光二极管（OLED）显示器 第6-3部分 图像质量的测量方法
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ANSI/TIA/EIA 455-59-A-2000 使用一个OTDR测量光纤点缺陷
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IEC 62341-6-1:2022 RLV 有机发光二极管（OLED）显示器.第6-1部分:光学和电光参数的测量方法
IEC 62341-6-1:2017 RLV 有机发光二极管（OLED）显示器第6-1部分:光学和电光参数的测量方法
IEC 62341-6-1:2022 有机发光二极管（OLED）显示器 第 6-1 部分：光学和光电参数的测量方法
IEC 60793-1-48:2017 光纤 - 第1-48部分:测量方法和测试程序 - 极化模式色散
IEC TS 63109:2022 光伏（PV）组件和电池.通过电致发光图像的定量分析测量二极管理想因数
IEC 62341-6-3:2017 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-3部分:图像质量测量方法
IEC 62341-6-3:2012 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-3部分:图像质量测量方法
IEC 62341-6-1:2017 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法
IEC 62341-6-1:2009 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法
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IEC 62116:2008 有互联效应的光电变极器用孤立障碍测量的试验程序
IEC 62922:2016/AMD1:2021 一般照明用有机发光二极管（OLED）面板.性能要求
IEC 62922:2016+AMD1:2021 CSV 一般照明用有机发光二极管（OLED）面板.性能要求
IEC 62979:2017 光伏模块 - 旁路二极管 - 热失控测试
IEC 62341-6-4:2017 有机发光二极管（OLED）显示器第6-4部分:透明性能的测量方法
IEC 62341-6-2:2012 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-2部分:视觉质量和环境性能的测量方法
IEC 62341-6-2:2015 有机发光二极管（Oled）显示器 - 第6-2部分:视觉质量和环境性能的测量方法
德国标准化学会，关于极光测量一的标准
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DIN 25482-2:1992 核辐射探测极限和识别极限.不考虑试样处理影响的计数分光测量
DIN 25482-5:1993 核辐射测量的检测极限和判定极限.不考虑试样处理影响的高分辨率γ射线光谱计数测量
DIN EN 62341-6-1:2011-07 有机发光二极管（OLED）显示器 第6-1部分：光学和电光参数的测量方法
DIN 58963-3:1993-11 用于光度测量的光学池；一次性矩形分光光度池；尺寸、要求
DIN 25482-2 Bb.1:2000 电离辐射测量的检测极限和判断域.第2部分:不考虑试样处理影响的分光光度测量法计数测量.说明和示例
DIN 25482-4:1995 核辐射测量用探测极限和判定极限.第4部分:不考虑试样处理影响和仪器使用影响的计数α光谱测量
DIN EN 62341-6-3:2013-02 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-3部分：图像质量的测量方法
DIN EN 13509:2003 阴极保护测量技术
DIN 19264:1985 pH值测量.参比电极
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DIN EN 13509:2003-09 阴极保护测量技术
DIN 5032-4:1999 光测量.第4部分:光源测量
DIN 25482-3:1993 核辐射测量的检测极限和决策极限.线性模拟计数速率测量仪(比率计)测量
DIN EN 62496-2:2018-10 光电路板-基本测试和测量程序-第2部分：光电路板光学特性测量条件定义的一般指南
DIN 5032-3:1976 光测量.气体光源的测量术语
DIN EN 62922:2022-06 一般照明用有机发光二极管(OLED)面板 性能要求
DIN 15666:1981 16mm胶片.光学录音头.测量要求和一般数据
DIN IEC 62088:2002-09 核仪器 闪烁探测器光电二极管 测试程序
DIN EN ISO 7759:2010-12 铝及其合金的阳极氧化 - 使用测角光度计或简化测角光度计测量铝表面的反射特性（ISO 7759:2010）
DIN 51866-1:2000 温度测量.第1部分:激光光谱学测量法的测量图
DIN EN 62341-6-2:2012-09 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-2部分：视觉质量和环境性能的测量方法
美国电子元器件、组件及材料协会，关于极光测量一的标准
ECA TEP105-8-1987 单色阴极射线管的光栅反应测量
ECA TEP105-14-1987 阴极射线管屏幕荧光持久性测量
ECA TEP105-9-1987 遮光板和其他结构化的屏幕阴极射线管的线路纵断面测量
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于极光测量一的标准
TEP105-8-1987 单色阴极射线管的光栅响应测量
446-4-1981 详细规范发光和不发光非灵敏按钮开关 .625 方形安装 一极和二极 1.0 安培
502-A-1989 非光栅扫描直视阴极射线管 X 辐射测量的推荐规程
501-A-1990 光栅扫描直视数据显示阴极射线管的 X 辐射测量推荐规程
EIA-501-A-1990 光栅扫描直视数据显示阴极射线管的 X 辐射测量推荐规程
中国团体标准，关于极光测量一的标准
T/CVIA 59-2016 有机发光二极管（OLED）电视测量方法
T/CVIA 11-2016 有机发光二极管（OLED）电视测量方法
T/CASME 46-2022 高精度光滑极限量规
T/GXAS 364-2022 光石韦成分含量的测定 一测多评法
T/CSA 047-2019 发光二极管热阻抗测试方法
T/CSA 015-2012 有机发光二极管照明 测试方法
行业标准-兵工民品，关于极光测量一的标准
WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
WJ 1350-1982 木材制品 光滑极限量规
WJ 1702-1987 光滑极限量规 公差与技术条件
WJ 1811-1988 检验工作螺纹用的光滑极限量规
WJ 2506-1998 光电二极管动态测试仪检定规程
国际标准化组织，关于极光测量一的标准
ISO/TS 19850:2022 着火试验.用LED（发光二极管）代替白光测量烟雾参数
ISO/FDIS 2612:2023 天然气分析 生物甲烷 可调二极管激光吸收光谱法测定氨含量
ISO 7669:1986 阳极氧化铝和铝合金.用光电反射计测量总反射率
ISO/DIS 2612 天然气分析“生物甲烷”可调谐二极管激光吸收光谱法测定氨含量
ISO 6382:1981 测定硅含量的一般方法 还原硅钼酸盐分光光度法
ISO 13653:2019 光学和光子学.一般光学试验方法.图像场中相对辐照度的测量
ISO 1054:1975 锌 镉含量的测定 极谱法
ISO 715:1975 锌 铅含量的测定 极谱法
国家计量检定规程，关于极光测量一的标准
JJG 343-1996 光滑极限量规检定规程
JJG 343-2012 光滑极限量规检定规程
行业标准-航天，关于极光测量一的标准
QJ 1161-1987 光滑极限量规技术条件
QJ 1158-1987 轴用光滑极限量规应用尺寸
QJ 444-1984 孔用光滑极限量规应用尺寸
QJ 1159.8-1987 光滑极限量规型式尺寸 球端杆规（D＞120～500）
QJ 1160.1-1987 光滑极限量规型式尺寸 圆柱环规（D=1～100）
IT-UNI，关于极光测量一的标准
UNI 6996-1971 直径超过1.5mm－50mm的光滑极限塞规测量工具
UNI 6981-1971 测量工具．标称尺寸超过3－100mm的光滑极限双凹口轴
行业标准-机械，关于极光测量一的标准
JB/T 54259-1999 量具量仪产品质量分等 光滑极限量规
JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法
NEMA - National Electrical Manufacturers Association，关于极光测量一的标准
NEMA C82.16-2015 发光二极管驱动器的测量方法秘书处：国家
KR-KS，关于极光测量一的标准
KS C 7116-2008(2023) 有机发光二极管显示器图像粘贴测量方法
KS C IEC 62341-6-1-2020 有机发光二极管（Oled）显示器 - 第6-1部分:光学和电光参数测量方法
KS C IEC 61757-4-3-2021 纤维光学传感器第4-3部分:电流测量极化法
KS C IEC 60793-1-48-2020 光纤 - 第1-48部分:测量方法和测试程序 - 极化模式色散
KS C IEC 62868-1-2021 一般照明用有机发光二极管（OLED）光源安全第1部分:一般要求和试验
KS B ISO 12005-2020 激光和激光相关设备 - 激光束参数测试方法 - 极化
KS C IEC 62922-2019 有机发光二极管（Oled）一般照明面板 - 性能要求
KS C IEC 62341-6-4-2020 有机发光二极管（OLED）显示器第6-4部分:透明性能的测量方法
KS C IEC 62341-6-2-2020 有机发光二极管（Oled）显示器 - 第6-2部分:视觉质量和环境性能的测量方法
BELST，关于极光测量一的标准
STB 1047-97 用于测定氢离子活性的测量电极 一般技术规范
STB 8049-2015 确保白俄罗斯共和国测量一致性的系统 偶极子测量天线 验证方法
国家计量技术规范，关于极光测量一的标准
JJF(机械) 1011-2018 磨具光滑极限量规校准规范
JJF(机械)1011-2018 磨具光滑极限量规校准规范
JJF(机械) 051-2009 磨具光滑极限量规校准规范
欧洲电工标准化委员会，关于极光测量一的标准
EN IEC 62868-1:2021 有机发光二极管（OLED）普通照明光源 安全 第1部分：一般要求和测试
EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管（OLED）显示器 第 6-1 部分：光学和光电参数的测量方法
EN 62496-2:2017 光电路板 基本测试和测量程序 第2部分：定义光电路板光学特性测量条件的一般指南
EN 62979:2017 光伏组件-旁路二极管-热失控测试
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ES-UNE，关于极光测量一的标准
UNE-EN IEC 62868-1:2021 有机发光二极管(OLED)普通照明光源 安全 第1部分：一般要求和测试
UNE-EN 62341-6-3:2012 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-3部分：图像质量的测量方法
UNE-EN 62496-2:2017 光电路板 基本测试和测量程序 第2部分：光电路板光学特性测量条件定义的一般指南
UNE-EN 62868:2016 一般照明用有机发光二极管(OLED)面板 安全要求
UNE-EN 62979:2017 光伏模块 旁路二极管 热失控测试
UNE-EN 62341-6-2:2012 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-2部分：视觉质量和环境性能的测量方法
美国电信工业协会，关于极光测量一的标准
TIA-455-196-1999 FOTP-196.单模光纤部件和设备极化模式测量指南
TIA-455-196-1999(2008) FOTP-196.单模光纤部件和设备极化模式测量指南
行业标准-航空，关于极光测量一的标准
HB 7268-1996 机载阴极射线管显示器光度和色度测量方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于极光测量一的标准
GB/T 33762-2017 有机发光二极管（OLED）电视机显示性能测量方法
国家军用标准-总装备部，关于极光测量一的标准
GJB 3578-1999 机载阴极射线管显示器光度和色度测量方法
丹麦标准化协会，关于极光测量一的标准
DS/EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管（OLED）显示器 第 6-1 部分：光学和光电参数的测量方法
DS/EN 62341-6-3:2012 有机发光二极管（OLED）显示器 第 6-3 部分：图像质量的测量方法
DS/EN 13509:2003 阴极保护测量技术
DS/ISO 4946:1991 钢和铸铁.铜含量的测定.2,2 ' 一联喹啉分光光度法
DS/EN ISO 7759:2010 铝及其合金的阳极氧化 使用测角光度计或简化的测角光度计测量铝表面的反射特性
DS/EN 24829-1:1991 钢和铸铁.总硅含量测定.分光光度测量法(还原硅酸钼). 第一部分:硅含量为0.05%和1%之间
DS/EN 24829-2:1991 钢和铸铁.总硅含量测定.分光光度测量法(还原硅酸钼). 第一部分:硅含量为0.01%和0.05之间
DS/ISO 5190:1988 铝及铝合金的阳极化处理．结构阳极镀层外观一致性评定．漫反射系数和镜面光洁度的测定
DS/EN 62341-6-2:2012 有机发光二极管（OLED）显示器 第 6-2 部分：视觉质量和环境性能的测量方法
美国国防后勤局，关于极光测量一的标准
DLA QPL-8971-10 NOTICE 1-2008 光谱测定级别石墨电极
工业和信息化部，关于极光测量一的标准
SJ/T 11759-2020 光伏电池电极栅线高宽比的测量 激光扫描共聚焦显微镜法
SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法
YS/T 1509.1-2021 硅碳复合负极材料化学分析方法 第1部分：硅含量的测定 重量法和分光光度法
SJ/T 11461.6.2-2016 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法-视觉质量
YS/T 1116.3-2016 锡阳极泥化学分析方法 第3部分：铜量、铅量和铋量的测定 火焰原子吸收光谱法
SE-SIS，关于极光测量一的标准
SIS SS-ISO 4071:1979 曝光表和计量仪．测试一般方法
SIS SS-ISO 7759:1988 铝及铝合金阳极处理．用滤色测角光度计或测角光度计测量铝表面的反射特性
SIS SS-ISO 7669:1988 阳极氧化铝及合其金．使用光电反射计测量全反射率
RO-ASRO，关于极光测量一的标准
STAS 642-1979 铜制阴极．质量一般技术条件
STAS SR ISO 6382:1995 硅含量一般测定方法．还原硅钼酸盐分光光度法
STAS 10228-1984 硅整流二极管．一般质量技术要求
STAS 2980/1-1987 量孔深和轴的光滑极限量规和校准量规．符号和分类
STAS 9368-1973 锗点接触二极管．一般质量技术要求
AT-ON，关于极光测量一的标准
ONORM DIN 19263-1994 pH 测量．玻璃电极
行业标准-电子，关于极光测量一的标准
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